【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，更具体地说，涉及一种固定测试板的载车。
技术介绍
1、芯片老化测试(aging test)是评估半导体芯片在长时间使用过程中性能变化的关键手段之一。随着电子设备的广泛应用和集成电路的复杂度增加，芯片的可靠性和寿命成为影响产品质量和市场竞争力的重要因素。
2、在对芯片进行测试时，测试板会在老化箱体进行老化测试，而由于测试板的面积及总量较大，会采用载车承载与运输测试板，将测试板移动至箱体内，并插入至箱体的插槽进行老化测试。
3、目前，载车的一面是自由面，用于使测试板滑出并与箱体的插槽插接，从而进行测试，便于在测试之前，将载车抽出。但是，载车在运输的过程中，遇到路面不平或移动速度过快时，容易使测试板从载车的自由面中滑落掉出。
技术实现思路
1、本专利技术要解决的技术问题在于载车在运输的过程中，遇到路面不平或移动速度过快时，容易使测试板从载车的自由面中滑落掉出，针对现有技术的上述缺陷，提供一种固定测试板的载车。
2、本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
3、构造一种固定测试板的载车，包括车体，所述车体包括滚轮和若干个第一放置区，其中，所述车体包括：活动杆和可复位装置；所述活动杆设于所述车体一侧的自由面上，并用于限制所述自由面；所述车体的两侧分别设有凹槽结构，所述凹槽结构的凹槽口相互对应设置，并构成一个所述第一放置区；所述可复位装置设于所述凹槽结构内，并与所述自由面相对设置；所述可复位装置包括复位件和活动结构，所
4、进一步的，还包括箱体，所述箱体设有用于放置所述测试板的插槽。
5、进一步的，所述凹槽结构包括腔室，所述复位件一端设于所述腔室内，另一端与所述活动结构固定连接；其中，所述腔室包括固定孔和固定柱，所述固定孔和所述固定柱设于靠近所述自由面的一侧；所述复位件设有与所述固定孔对应的安装柱；所述安装柱分别贯穿所述固定孔。
6、进一步的，当所述活动结构在所述凹槽结构内，且位于第一位置时，用于限制所述测试板；当所述活动结构在所述凹槽结构内，且位于第二位置时，所述活动结构位于所述腔室内，且所述活动结构的自由端朝向所述箱体一侧，用于使所述测试板通行。
7、进一步的，所述活动结构在所述凹槽结构内由所述第一位置移动至所述第二位置的过程包括：向所述测试板施加推进力，所述测试板朝所述箱体的一侧移动，所述测试板带动所述活动结构旋转至所述第二位置。
8、进一步的，所述凹槽结构内还包括：顶板，所述顶板位于所述凹槽结构的内壁，所述顶板与所述内壁的第一表面设有第一预设距离，且所述顶板与所述内壁的第二表面设有第二预设距离，以构成第二放置区；限位板，所述限位板位于所述第二放置区内，所述限位板可在所述第二放置区内活动，且所述限位板用于将所述活动结构顶至第二位置。
9、进一步的，所述凹槽结构内设有限位块，所述限位块位于朝向所述箱体的一侧，且所述限位块用于对所述限位板进行限位。
10、进一步的，所述车体还设有若干个放置孔、若干个槽口、固定部及长杆；若干个所述放置孔分别位于对应的所述凹槽结构内，且若干个所述槽口朝所述自由面的一侧，若干个所述放置孔与若干个所述槽口分别对应设置，所述长杆穿过若干个所述放置孔，通过所述长杆和所述固定部之间的配合，以对所述限位板解锁或固定。
11、进一步的，所述长杆包括本体和至少一个固定块，至少一个所述固定块与所述限位板对应设置，并在所述槽口内活动；所述固定部为卡位，所述长杆还包括与所述卡位对应的把手，所述把手卡合或脱离于所述卡位。
12、进一步的，当所述把手卡合于所述卡位时，所述固定块位于所述限位板相对于所述限位块一侧，以使所述限位板固定于所述固定块和所述限位块之间。
13、进一步的，当所述把手脱离于所述卡位时，带动所述固定块转动至所述槽口内，所述固定块对所述限位板的固定解除。
14、进一步的，所述卡位设有呈相对设置的斜面，所述斜面之间形成所述卡位。
15、本专利技术的有益效果在于：在车体一侧的自由面设有活动杆，用于对车体的一侧进行限制，并在车体的另一侧设有可复位装置，用于对测试板进行限制；避免车体在运输的过程，遇到路面不平或移动速度过快时，测试板从车体中滑落掉出。同时，测试板能够通过对可复位装置施加力的方式，从第一放置区滑出至高温测试箱中进行测试。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种固定测试板的载车，包括车体，所述车体包括滚轮和若干个第一放置区，其特征在于，所述车体包括：活动杆和可复位装置；所述活动杆设于所述车体一侧的自由面上，并用于限制所述自由面；
2.根据权利要求1所述的固定测试板的载车，其特征在于，还包括箱体，所述箱体设有用于放置所述测试板的插槽。
3.根据权利要求2所述的固定测试板的载车，其特征在于，所述凹槽结构包括腔室，所述复位件一端设于所述腔室内，另一端与所述活动结构固定连接；
4.根据权利要求3所述的固定测试板的载车，其特征在于，当所述活动结构在所述凹槽结构内，且位于第一位置时，用于限制所述测试板；
5.根据权利要求4所述的固定测试板的载车，其特征在于，所述活动结构在所述凹槽结构内由所述第一位置移动至所述第二位置的过程包括：
6.根据权利要求4或5所述的固定测试板的载车，其特征在于，所述凹槽结构内还包括：
7.根据权利要求6所述的固定测试板的载车，其特征在于，所述凹槽结构内设有限位块，所述限位块位于朝向所述箱体的一侧，且所述限位块用于对所述限位板进行限位。
<...【技术特征摘要】
1.一种固定测试板的载车，包括车体，所述车体包括滚轮和若干个第一放置区，其特征在于，所述车体包括：活动杆和可复位装置；所述活动杆设于所述车体一侧的自由面上，并用于限制所述自由面；
2.根据权利要求1所述的固定测试板的载车，其特征在于，还包括箱体，所述箱体设有用于放置所述测试板的插槽。
3.根据权利要求2所述的固定测试板的载车，其特征在于，所述凹槽结构包括腔室，所述复位件一端设于所述腔室内，另一端与所述活动结构固定连接；
4.根据权利要求3所述的固定测试板的载车，其特征在于，当所述活动结构在所述凹槽结构内，且位于第一位置时，用于限制所述测试板；
5.根据权利要求4所述的固定测试板的载车，其特征在于，所述活动结构在所述凹槽结构内由所述第一位置移动至所述第二位置的过程包括：
6.根据权利要求4或5所述的固定测试板的载车，其特征在于，所述凹槽结构内还包括：
7.根据权利要求6所述的固定测试板的载车，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，夏嵩，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：深圳宏芯宇电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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