【技术实现步骤摘要】
本技术涉及高温老化测试设备领域。更具体地说，本技术涉及一种集成电路老化测试装置。
技术介绍
1、随着国内集成电路行业发展的如火如荼，集成电路的品质也愈发得到重视。集成电路实际使用时，经常会处于高温工作状态下，长期处于高温工作状态的集成电路的芯片性能会下降，进而影响产品的性能。老化测试是评价集成电路高温工作寿命的一种测试方法。现有技术中，集成电路老化测试时，将集成电路芯片置于高温(≥125℃)、高电压(最大工作电压)的条件下，持续工作规定的时间(通常≥1000小时)，观察集成电路芯片是否有失效情况，以此来评估芯片的寿命和长期上电运行的可靠性以及稳定性。现有技术中，已有许多用于集成电路老化测试的装置，且为了避免人手伸入高温老化箱体进而造成可能的烫伤或者为了合理利用空间放置更多的检测板，现有技术中有将放置检测板的托架设计成与高温老化箱体滑动连接的形式，如申请号为202122919630.7的专利公开了一种集成电路检测用老化考核装置，其通过设置耐温老化箱主体、电动滑轨机构以及设在电动滑轨机构上的检测板，便于人员在合适的温度范围之内取出检测物件，防止人手伸入老化试验结束后的耐温老化箱主体内引起烫伤。但上述结构中，由于采用的是电动滑轨机构，实际使用时，每一层检测板均需配置一电动滑轨机构，使得整体结构复杂且制作成本增加，同时电动滑轨机构也会存在没电失灵的情况，此外，若将托架设置成与高温老化箱体滑动连接的结构(不靠电力驱动)，当需要取拿托架时，为了防止可能的烫伤需要带上手套或者用其他的辅助物将托架从高温老化箱中滑出拉出，但实际使用时，手套或其他
技术实现思路
1、本技术的一个目的是解决至少上述问题，并提供一种集成电路老化测试装置，其将高温老化箱体的把手杆作为拉动放置架的辅助物，使用时，利用把手杆将高温老化箱体的密封门打开后，将把手杆拆下来然后利用把手杆将放置架从高温老化箱体内滑动拉出，可在老化试验前，方便将集成电路芯片安设在放置架的检测板上或在老化试验结束后将集成电路芯片从检测板上取出，避免了人手伸入高温老化箱体内导致的操作不便同时避免了高温老化箱体对人手可能造成的烫伤，且由于把手杆设在高温老化箱体上，随用随取，可及时使用，此外，相比现有的电动滑轨结构，检测板滑动伸出高温老化箱体的结构无需用电且结构简单，制作成本较低。
2、为了实现根据本技术的这些目的和其它优点，提供了一种集成电路老化测试装置，包括高温老化箱体、由上至下依次设在高温老化箱体内的多个放置架，每一放置架上均设有一检测板，所述高温老化箱体设有密封门，所述密封门上可拆卸设有匚形的把手杆，所述放置架包括一对相对的滑杆以及间隔设在一对滑杆之间的多根支杆，所述支杆与所述滑杆垂直连接，一对滑杆分别与所述高温老化箱体两相对的内壁滑动连接，所述把手杆同向的两杆体中，其中一杆体上设有两端敞口的槽孔，所述槽孔与所述支杆的大小相适配以当支杆穿设在槽孔上时，把手杆拉动放置架。
3、优选的是，所述槽孔内壁敷设有摩擦垫。
4、优选的是，所述密封门上设有观察窗。
5、优选的是，所述密封门上由上至下依次设有多对弹性垫，多对弹性垫对应多个放置架，每一对弹性垫分设在所述观察窗两侧，以当所述密封门关闭时，所述弹性垫按压对应的放置架。
6、优选的是，所述密封门上设有插槽，所述插槽内设有卡孔，所述把手杆靠近所述密封门的杆体内部开设有安装腔，所述安装腔内设有安装板，所述安装板与所述安装腔内壁之间设有多个弹簧，所述安装板远离所述弹簧的侧壁上分别设有与所述卡孔相适配的卡块以及按压块，所述卡块以及所述按压块通过所述弹簧均活动伸出所述安装腔外；其中，所述卡块伸入所述卡孔内时，所述按压块位于所述密封门外。
7、优选的是，所述按压块的按压面为圆弧面。
8、优选的是，所述高温老化箱体上开设有进风口和出风口，所述进风口处设有进风风机，所述进风口连接有方形的进风管道，所述进风管道位于高温老化箱体外，所述进风管道的顶部和底部均开设有穿孔；还包括滤网组件，所述滤网组件包括第一辊轴、第二辊轴、第一张紧辊、第二张紧辊、过滤网，所述第一辊轴和所述第二辊轴分设在位于进风管道上方和下方的高温老化箱体侧壁上，所述第一张紧辊和所述第二张紧辊分设在所述进风管道的顶部和底部，所述滤网的一端卷设在所述第一辊轴上，所述滤网的另一端依次滚过第一张紧辊、穿过一对穿孔、滚过第二张紧辊后绕设在第二辊轴上；所述第二辊轴的一端设有转动把。
9、本技术至少包括以下有益效果：
10、通过设置高温老化箱体、检测板、密封门、把手杆、滑杆、支杆、槽孔，当检测板上的集成电路芯片老化试验结束后，通过把手杆打开密封门，然后将把手杆从密封门上拆下来，将把手杆的槽孔搭设在放置架的最外的支杆上，通过拉动把手杆的另一端，即可将放置架从高温老化箱体内取出；整体上，将高温老化箱体的把手杆作为拉动放置架的辅助物，利用把手杆将高温老化箱体的密封门打开后，将把手杆拆下来然后利用把手杆将放置架从高温老化箱体内滑动拉出，可在老化试验前，方便将检测板安设在放置架上或在老化试验结束后将检测板从放置架上取出，避免了人手伸入高温老化箱体内导致的操作不便同时避免了高温老化箱体对人手可能造成的烫伤，且由于把手杆设在高温老化箱体上，随用随取，可及时使用，此外，相比相比现有的电动滑轨结构，检测板滑动伸出高温老化箱体的结构无需用电且结构简单，制作成本较低。
11、本技术的其它优点、目标和特征将部分通过下面的说明体现，部分还将通过对本技术的研究和实践而为本领域的技术人员所理解。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.集成电路老化测试装置，包括高温老化箱体、由上至下依次设在高温老化箱体内的多个放置架，每一放置架上均设有一检测板，所述高温老化箱体设有密封门，其特征在于，所述密封门上可拆卸设有匚形的把手杆，所述放置架包括一对相对的滑杆以及间隔设在一对滑杆之间的多根支杆，所述支杆与所述滑杆垂直连接，一对滑杆分别与所述高温老化箱体两相对的内壁滑动连接，所述把手杆同向的两杆体中，其中一杆体上设有两端敞口的槽孔，所述槽孔与所述支杆的大小相适配以当支杆穿设在槽孔上时，把手杆拉动放置架。
2.如权利要求1所述的集成电路老化测试装置，其特征在于，所述槽孔内壁敷设有摩擦垫。
3.如权利要求1所述的集成电路老化测试装置，其特征在于，所述密封门上设有观察窗。
4.如权利要求3所述的集成电路老化测试装置，其特征在于，所述密封门上由上至下依次设有多对弹性垫，多对弹性垫对应多个放置架，每一对弹性垫分设在所述观察窗两侧，以当所述密封门关闭时，所述弹性垫按压对应的放置架。
5.如权利要求1所述的集成电路老化测试装置，其特征在于，所述密封门上设有插槽，所述插槽内设有卡孔，所述把
6.如权利要求5所述的集成电路老化测试装置，其特征在于，所述按压块的按压面为圆弧面。
7.如权利要求2所述的集成电路老化测试装置，其特征在于，所述高温老化箱体上开设有进风口和出风口，所述进风口处设有进风风机，所述进风口连接有方形的进风管道，所述进风管道位于高温老化箱体外，所述进风管道的顶部和底部均开设有穿孔；还包括滤网组件，所述滤网组件包括第一辊轴、第二辊轴、第一张紧辊、第二张紧辊、过滤网，所述第一辊轴和所述第二辊轴分设在位于进风管道上方和下方的高温老化箱体侧壁上，所述第一张紧辊和所述第二张紧辊分设在所述进风管道的顶部和底部，所述滤网的一端卷设在所述第一辊轴上，所述滤网的另一端依次滚过第一张紧辊、穿过一对穿孔、滚过第二张紧辊后绕设在第二辊轴上；所述第二辊轴的一端设有转动把。
...【技术特征摘要】
1.集成电路老化测试装置，包括高温老化箱体、由上至下依次设在高温老化箱体内的多个放置架，每一放置架上均设有一检测板，所述高温老化箱体设有密封门，其特征在于，所述密封门上可拆卸设有匚形的把手杆，所述放置架包括一对相对的滑杆以及间隔设在一对滑杆之间的多根支杆，所述支杆与所述滑杆垂直连接，一对滑杆分别与所述高温老化箱体两相对的内壁滑动连接，所述把手杆同向的两杆体中，其中一杆体上设有两端敞口的槽孔，所述槽孔与所述支杆的大小相适配以当支杆穿设在槽孔上时，把手杆拉动放置架。
2.如权利要求1所述的集成电路老化测试装置，其特征在于，所述槽孔内壁敷设有摩擦垫。
3.如权利要求1所述的集成电路老化测试装置，其特征在于，所述密封门上设有观察窗。
4.如权利要求3所述的集成电路老化测试装置，其特征在于，所述密封门上由上至下依次设有多对弹性垫，多对弹性垫对应多个放置架，每一对弹性垫分设在所述观察窗两侧，以当所述密封门关闭时，所述弹性垫按压对应的放置架。
5.如权利要求1所述的集成电路老化测试装置，其特征在于，所述密封门上设有插槽，所述插槽内设有卡孔，所述把手杆靠近...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘菁伟，叶媛，边磊，刘伟义，佟澎薪，
申请(专利权)人：通标标准技术服务天津有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。