【技术实现步骤摘要】
本申请涉及测量，尤其涉及一种平面度测量方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、在精密结构测量领域，平面度测量可以用于评估零件或结构的平整度和质量，确保零件的平面度符合设计要求，提高产品的精度和质量。
2、平面度是指一个平面与其理想位置的偏离程度，用于描述平面表面的平整度和质量。平面度测量是指对一个平面表面的平整程度进行测量和评估的过程，平面度测量通常通过使用测量仪器(如平面度测量仪、激光测量仪等)对平面表面进行扫描或测量，然后将实际测量结果与理想平面进行比较，计算出平面度的偏差值。
3、在相关方案中，平面度的测量主要依赖于物理接触的方法，如赛片、量规等工具直接测量被测物体的表面，这种方法测量效率低，且精度受限于测量工具的精度和操作者的技能；随着光学技术的发展，非接触式的光学测量方法开始被应用于平面度测量，如激光扫描、光学比较仪等，这种方法在精密结构的平面度测量方面仍然存在问题。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种平面度测量方法、装置、设备及存储介质，可以解决如何实现高精度、高效率平面度测量的技术问题。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种平面度测量方法，包括：
3、利用线激光根据预设扫描轨迹扫描待测目标的表面，得到待测目标的扫描数据，扫描数据包括亮度数据和点云数据。
4、根据亮度数据确定待测目标的点位信息，待测目标的点位信息用于确定待测目标的目标定位区域。
5、对点云数据进行滤波处理，得到目标点云数据
6、根据目标定位区域和目标点云数据生成待测目标的高度数据。
7、根据高度数据生成拟合基准平面。
8、根据拟合基准平面计算待测目标的平面度。
9、在一种实现方式中，根据亮度数据确定待测目标的点位信息，包括：
10、根据亮度数据生成对应的亮度图并确定亮度图的亮度值区间。
11、对亮度图在亮度值区间内进行二值化处理，生成目标亮度值区间。
12、对目标亮度值区间进行形态学开运算处理，得到目标亮度图。
13、根据目标亮度图确定待测目标的点位信息。
14、在一种实现方式中，对点云数据进行滤波处理，得到目标点云数据，包括：
15、计算点云数据中的点与预设基准面的垂直距离，得到点云数据中的点的垂直距离。
16、根据点云数据中的点的垂直距离计算点云数据中的点的高度比例。
17、在点云数据中删除高度比例大于预设高度比例阈值对应的点。
18、在一种实现方式中，对点云数据进行滤波处理，得到目标点云数据，还包括：
19、根据点云数据分割出对应的形状区域。
20、计算形状区域的面积。
21、删除形状区域的面积小于预设面积阈值对应的形状区域。
22、在一种实现方式中，根据高度数据生成拟合基准平面，包括：
23、对高度数据进行排序，得到排序高度数据。
24、根据预设区间对排序高度数据进行筛选处理，得到筛选高度数据。
25、根据筛选高度数据生成拟合基准平面。
26、在一种实现方式中，线激光的安装角度相对于x轴的倾斜角度为13度～14度。
27、第二方面，本申请实施例提供了一种平面度测量装置，该装置具有实现第一方面或其任意可能的实现方式中的方法的功能。具体地，该装置包括实现第一方面或其任意可能的实现方式中的方法的单元。
28、在其中的一个实施例中，该装置包括：
29、获取单元，用于利用线激光根据预设扫描轨迹扫描待测目标的表面，得到待测目标的扫描数据，扫描数据包括亮度数据和点云数据。
30、处理单元，用于根据亮度数据确定待测目标的点位信息，待测目标的点位信息用于确定待测目标的目标定位区域。
31、处理单元还用于，对点云数据进行滤波处理，得到目标点云数据。
32、处理单元还用于，根据目标定位区域和目标点云数据生成待测目标的高度数据。
33、处理单元还用于，根据高度数据生成拟合基准平面，拟合基准平面用于计算待测目标的平面度。
34、处理单元还用于，根据拟合基准平面计算待测目标的平面度。
35、第三方面，本申请实施例提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，该处理器执行计算机程序时，使得计算机设备实现上述第一方面任意一种实现方式的方法。
36、第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被计算机设备执行时，使得计算机设备实现上述第一方面任意一种实现方式的方法。
37、第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在计算机设备上运行时，使得计算机设备执行上述第一方面任意一种实现方式的方法。
38、本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：通过预设扫描轨迹使得激光扫描流程更加省时；通过亮度数据可以准确定位待测目标的点位信息，为后续的数据处理提供准确的定位信息；通过滤波处理可以去除噪声和异常点，提高点云数据的质量和可靠性，使得后续数据处理更加准确和可靠；根据目标定位区域和目标点云数据生成的高度数据可以提供更加准确的高度信息，为后续平面度计算提供可靠的数据基础；通过拟合基准平面可以提供准确的参考平面，从而计算出更加准确的平面度，实现高精度、高效率、高稳定性和高自动化的平面度测量。
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1.一种平面度测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述亮度数据确定所述待测目标的点位信息，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述点云数据进行滤波处理，得到目标点云数据，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述点云数据进行滤波处理，得到目标点云数据，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述高度数据生成拟合基准平面，包括：
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，所述线激光的安装角度相对于X轴的倾斜角度为13度～14度。
7.一种平面度测量装置，其特征在于，包括：
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述处理单元还用于，根据所述亮度数据生成对应的亮度图并确定所述亮度图的亮度值区间；对所述亮度图在所述亮度值区间内进行二值化处理，生成目标亮度值区间；对所述目标亮度值区间进行形态学开运算处理，得到目标亮度图；根据所述目标亮度图确定所述待测目标的点位信息。
9.一种计算
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被计算机设备执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种平面度测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述亮度数据确定所述待测目标的点位信息，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述点云数据进行滤波处理，得到目标点云数据，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述点云数据进行滤波处理，得到目标点云数据，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述高度数据生成拟合基准平面，包括：
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，所述线激光的安装角度相对于x轴的倾斜角度为13度～14度。
7.一种平面度测量装置，其特征在于，包括：
...
【专利技术属性】
技术研发人员：周逸铭，秦浩，许应，
申请(专利权)人：深圳市辰卓科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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