【技术实现步骤摘要】
本申请涉及老化测试，特别是涉及一种存储装置的老化测试方法和老化测试设备。
技术介绍
1、存储设备是计算机、嵌入式系统、用户设备等装置的关键部件之一，它决定着上述装置运行的稳定性，因此对存储设备进行测试非常必要。
2、老化测试是存储设备测试的一环。目前，对不同存储颗粒的存储设备或不同批次的存储设备进行老化测试之前，需要测试人员费时在老化测试设备的固件中调整老化测试流程以及老化测试的温度，大幅增加了测试时长。如此旷日费时的测试方式不符合现今对高效率生产制作的需求。
技术实现思路
1、本申请提供存储装置的老化测试方法和老化测试设备。
2、本申请采用的一个技术方案是提供一种存储装置的老化测试方法，方法包括：
3、获取被测存储装置的闪存颗粒类型；
4、利用闪存颗粒类型从配置文件中获取对应的测试参数；
5、基于测试参数形成对应的老化测试程序；
6、利用老化测试程序对被测存储装置进行老化测试。
7、其中，测试参数至少包括测试类型，闪存颗粒类型包括slc颗粒和非slc颗粒；测试类型包括读取、编程、擦除中的一种或多种；
8、利用老化测试程序对被测存储装置进行老化测试，包括：
9、响应于闪存颗粒类型为slc颗粒，对被测存储装置进行编程及擦除测试和/或低格测试，低格测试包括对被测存储装置进行擦除、编程和读取测试。
10、其中，利用老化测试程序对被测存储装置进行老化测试，还包括：
...【技术保护点】
1.一种存储装置的老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，所述测试参数至少包括测试类型，所述闪存颗粒类型包括SLC颗粒和非SLC颗粒；所述测试类型包括读取、编程、擦除中的一种或多种；
3.根据权利要求2所述的老化测试方法，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的老化测试方法，其特征在于，
5.根据权利要求3所述的老化测试方法，其特征在于，所述利用所述老化测试程序对所述被测存储装置进行老化测试，包括：
6.根据权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的老化测试方法，其特征在于，
8.根据权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，
9.一种存储装置的老化测试设备，其特征在于，所述存储装置的老化测试设备包括主控设备和至少一个被测存储装置；
10.根据权利要求9所述的老化测试设备，其特征在于，所述老化测试设备中的每一批次的所述被测存储装置为同一技术规格的存储装置。
【技术特征摘要】
1.一种存储装置的老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的老化测试方法，其特征在于，所述测试参数至少包括测试类型，所述闪存颗粒类型包括slc颗粒和非slc颗粒；所述测试类型包括读取、编程、擦除中的一种或多种；
3.根据权利要求2所述的老化测试方法，其特征在于，
4.根据权利要求3所述的老化测试方法，其特征在于，
5.根据权利要求3所述的老化测试方法，其特征在于，所述利用所述老化测试程序对所述被测存储...
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋业尚，钟泽群，张嘎，
申请(专利权)人：上海江波龙数字技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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