【技术实现步骤摘要】
本申请是关于触控功能，特别是关于检测触控系统的制作变异并加以校正的方法。
技术介绍
1、触控面板或荧幕是现代电子系统常见的输出入装置之一。一般常见的触控面板或荧幕是由触控处理装置所控制。而触控处理装置是利用互电容原理或自电容原理，利用触控面板或荧幕上的触控电极进行触控侦测。
2、在进行工业化生产时，触控面板或荧幕的多条电极会有误差，触控处理装置的模拟处理前端(analog front-end)的元器件也会出现误差。导致触控处理装置与触控面板或荧幕结合之后，误差可能会被进一步放大，导致触控侦测功能失效。如此一来，装备此触控处理装置与触控面板或荧幕的电子系统就必须要回收，大幅增加成本。
3、有鉴于此，亟需一种整合检测方式，能够对触控处理装置与触控面板或荧幕的组合进行检测，并且选择出最佳的参数加以记录。在实际进行触控侦测时，能够利用所检测出的最佳参数进行触控侦测。
技术实现思路
1、本申请提供了一种整合检测方式，能够对触控处理装置与触控面板或荧幕的组合进行检测，并且选择出最佳的参数加以记录。在实际进行触控侦测时，能够利用所检测出的最佳参数进行触控侦测。
2、根据本申请一实施例，提供一种触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，包含：根据驱动信号的n个候选的时间差值其中之一第一时间差值，令该触控处理装置对该触控面板进行检测，以得到一第一检测结果；根据该第一检测结果与对应的该第一时间差值所对应的一般区间和绝对区间，判断该第一检测结果是否合格；以及当该第一检测
3、较佳地，为了当第一检测结果不及格时，继续检测其余的候选的时间差值，该方法更包含：根据该n个候选的时间差值其中之一第i时间差值，令该触控处理装置对该触控面板进行检测，以得到一第i检测结果；根据该第i检测结果与对应的该第i时间差值所对应的一般区间和绝对区间，判断该第i检测结果是否合格；以及当该第i检测结果为合格时，记录该第i检测结果与对应的该第i时间差值，其中i为大于1且小于或等于n的正整数。
4、较佳地，该方法更包含：当该第一检测结果至该第n检测结果都不合格时，判断该组合为不合格。
5、较佳地，为了尽快地结束检测，该方法更包含：当判断该第i检测结果合格时，判断该组合为合格，将该第i时间差值储存于该触控处理装置的非挥发性内存内的记忆空间，并且结束该检测方法。
6、较佳地，为了找出最适当的时间差值，该方法更包含：根据所记录的一个或多个检测结果，找出最适当的检测结果；以及将该最适当的检测结果所对应的该时间差值储存于该触控处理装置的非挥发性内存内的记忆空间。
7、较佳地，为了排除特别差的触控面板，其中上述的判断该第i检测结果是否合格的步骤更包含：判断该第i检测结果的任一时间差值信号是否超出该第i时间差值所对应的绝对区间；以及当该第i检测结果有时间差值信号超出该第i时间差值所对应的绝对区间时，判断该第i检测结果为不合格。
8、较佳地，为了排除误差个数多的触控面板，其中上述的判断该第i检测结果是否合格的步骤更包含：判断该第i检测结果的多个时间差值信号当中超出该第i时间差值所对应的一般区间的个数；以及当该个数超过一个数门槛值时，判断该第i检测结果为不合格。
9、较佳地，为了排除误差总量大的触控面板，其中上述的判断该第i检测结果是否合格的步骤更包含：判断该第i检测结果的多个时间差值信号当中超出该第i时间差值所对应的一般区间的信号值的绝对值的总和；以及当该总和超过门槛值时，判断该第i检测结果为不合格。
10、较佳地，为了判断固件内的时间差值参数是否合适，该方法先执行下列步骤：根据该触控处理装置的非挥发性内存所记录的固件内的基准时间差值，令该触控处理装置对该触控面板进行检测，以得到基准检测结果；根据该基准检测结果与对应的该基准时间差值所对应的一般区间和绝对区间，判断该基准检测结果是否合格；以及当该基准检测结果为合格时，删除该非挥发性内存内的非固件内所记录的时间差值，并且结束该检测方法。
11、较佳地，为了预先判断触控电极是否有开路或断路的问题，该方法先执行下列步骤：令该触控处理装置对该触控面板的多条触控电极进行检测；以及当该多条触控电极当中有至少一条触控电极检测不合格时，判断该组合为不合格，并且结束该检测方法。
12、较佳地，为了找出最适当的时间差值，其中上述的找出最适当的检测结果的步骤更包含：分别计算所记录的每一个检测结果的平均时间差值；分别计算每一个该平均时间差值与其相对应的时间差值的绝对差值；以及找出最小的该绝对差值，其所对应的该检测结果即为上述的最适当的检测结果。
13、根据本申请的一实施例，提供一种触控处理方法，包含：接受重置指令；判断该触控处理装置内的非挥发性内存内的非固件内是否有储存的时间差值，其中该时间差值为前述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法所储存的该第i时间差值；当该判断结果为真时，读取该非固件内的该时间差值；当该判断结果为伪时，读取该非挥发性内存内的固件内的时间差值；以及根据所读取的时间差值，进行触控处理。
14、根据本申请的一实施例，提供一种触控处理装置，包含处理器用于实现如权利要求1至11当中任一所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法或如权利要求12至13当中任一所述的触控处理方法。
15、根据本申请的一实施例，提供一种电脑可读取媒体，当触控处理装置的处理器载入并执行其所记载的指令和数据时，能够实现如前所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法或如前所述的触控处理方法。
16、根据本申请的一实施例，提供一种触控系统，包含如前所述的触控处理装置与触控面板。
17、根据本申请各实施例所提供的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，可以检测出不合格的组合。并且可以检测出最适当的时间差值参数，使得原先不合格的组合在适用了新的时间差值参数后，就可以正常地进行触控处理。
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1.一种触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，包含：
2.如权利要求1所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，更包含：
3.如权利要求2所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，更包含：
4.如权利要求2所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，更包含：
5.如权利要求2所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，更包含：
6.如权利要求2所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，上述的判断该第i检测结果是否合格的步骤更包含：
7.如权利要求6所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，上述的判断该第i检测结果是否合格的步骤更包含：
8.如权利要求6所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，上述的判断该第i检测结果是否合格的步骤更包含：
9.如权利要求1所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，更包含在执行权利要求1所述的步骤之前，执行下列步骤：<...
【技术特征摘要】
1.一种触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，包含：
2.如权利要求1所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，更包含：
3.如权利要求2所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，更包含：
4.如权利要求2所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，更包含：
5.如权利要求2所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，更包含：
6.如权利要求2所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，上述的判断该第i检测结果是否合格的步骤更包含：
7.如权利要求6所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，上述的判断该第i检测结果是否合格的步骤更包含：
8.如权利要求6所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，上述的判断该第i检测结果是否合格的步骤更包含：
9.如权利要求1所述的触控处理装置与触控面板的组合的检测方法，其特征在于，更包含在执行权利要求1所述的步骤之前，执行下列步骤：...
【专利技术属性】
技术研发人员：洪志明，
申请(专利权)人：禾瑞亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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