一种检测装置制造方法及图纸

技术编号:43658895 阅读:0 留言:0更新日期:2024-12-13 12:50
本技术实施例涉及检测设备技术领域,尤其公开了一种检测装置,包括支架、显微镜、平台和调节机构。所述显微镜设于所述支架,所述显微镜用于观察样品,所述平台活动设于所述支架,所述平台用于承载样品;所述调节机构设于所述支架和所述平台,所述调节机构用于调节所述平台相对于所述显微镜的位置。通过上述方式,可通过所述调节机构使所述显微镜对所述平台上的样品稳定对焦,提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术实施例涉及检测设备,特别是涉及一种检测装置


技术介绍

1、随着电子信息产业的欣荣发展,多层陶瓷电容器因其具有高电容、小尺寸、低成本、高可靠性等优点,逐渐成为市场占有率最大的无源电子元器件。在陶瓷电容器的制作工艺中,切割后可得到半成品巴块,在进行下一流程前需要对巴块进行检验,以保证发生异常后及时调整生产以减少损失。目前通常通过手持巴块竖立于显微镜下方来观察巴块有无不良情况。

2、在实现本申请实施例的过程中,专利技术人发现:手持巴块时常发生抖动,导致对焦不准,难以清楚观察巴块,检验效率较低。


技术实现思路

1、鉴于上述问题,本技术实施例提供了一种检测装置,克服了上述问题或者至少部分地解决了上述问题。

2、为解决上述技术问题,本技术采用的一个技术方案是:提供一种检测装置,包括支架、显微镜、平台和调节机构,所述显微镜设于所述支架,所述显微镜用于观察样品,所述平台活动设于所述支架,所述平台用于承载样品;所述调节机构设于所述支架和所述平台,所述调节机构用于调节所述平台相对于所述显微镜的位置。

3、可选的,所述支架包括第一支架和第二支架,所述第二支架套设于所述第一支架的一端,所述第二支架可相对于所述第一支架移动,所述显微镜固定于所述第一支架的另一端;所述调节机构包括第一调节结构和第二调节结构,所述第一调节结构用于驱动所述平台沿第一方向移动,所述第二调节结构用于驱动所述平台沿第二方向移动;其中,所述第一方向为所述显微镜的中心轴轴线方向,所述第二方向为垂直于所述第一支架表面的直线方向,所述第一方向垂直于所述第二方向。

4、可选的,所述第二支架包括第一板块和第二板块,所述第一板块与所述第二板块固定连接,所述第一板块与所述第二板块相互垂直,所述第一板块设有通孔,所述第一支架从所述通孔穿过,所述第一支架沿所述通孔运动,所述第二板块设置有盲孔,所述平台插接于所述盲孔,并且所述平台可沿所述盲孔运动;所述第一调节结构设置于所述第一板块和所述第一支架,所述第一调节结构可驱动所述第一板块沿所述第一方向运动,以使所述平台沿第一方向移动,所述第二调节结构设置于所述第二板块和所述平台,所述第二调节结构可驱动所述平台沿所述第二板块运动,以使所述平台沿第二方向移动。

5、可选的,所述第一调节结构包括第一转轴、第一齿轮和第一齿条,所述第一齿条固定于所述第一支架,所述第一板块设置有第一开口,所述第一转轴转动设置于所述第一板块,所述第一齿轮固定于所述第一转轴,并且所述第一齿轮穿过所述第一开口后与所述第一齿条啮合。

6、可选的,所述第一调节结构还包括第一旋钮,所述第一旋钮固定于所述第一转轴的一端,所述第一旋钮可带动所述第一齿轮转动。

7、可选的,所述第二调节结构包括第二转轴、第二齿轮和第二齿条,所述第二齿条固定于所述平台,所述第二板块设置有第二开口,所述第二转轴转动设置于所述第二板块,所述第二齿轮固定于所述第二转轴,并且所述第二齿轮穿过所述第二开口后与所述第二齿条啮合。

8、可选的,所述第二调节结构还包括第二旋钮,所述第二旋钮固定于所述第二转轴的一端,所述第二旋钮可带动所述第二齿轮转动。

9、可选的,所述平台包括台板和连接板,所述连接板插接于所述盲孔,所述台板与所述连接板垂直连接,所述台板位于所述连接板背向所述显微镜的表面,所述连接板设有透光通孔,所述第二齿条设于所述连接板面向所述显微镜的表面。

10、可选的,所述显微镜包括目镜组件、物镜组件和镜筒,所述目镜组件设于所述镜筒的一端,所述物镜组件设于所述镜筒的另一端,所述镜筒安装于所述第一支架的另一端。

11、可选的,所述显微镜还包括灯光筒,所述灯光筒套设于所述物镜组件,所述灯光筒用于照明。

12、本技术实施例的有益效果是:区别于现有技术的情况,本申请实施例提供一种检测装置,包括支架、显微镜、平台和调节机构。所述显微镜设于所述支架,所述显微镜用于观察样品,所述平台活动设于所述支架,所述平台用于承载样品;所述调节机构设于所述支架和所述平台,所述调节机构用于调节所述平台相对于所述显微镜的位置。通过上述方式,可通过所述调节机构使所述显微镜对所述平台上的样品稳定对焦,提高了工作效率。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种检测装置,其特征在于,包括

2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于,

6.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,

7.根据权利要求6所述的检测装置,其特征在于,

8.根据权利要求6所述的检测装置,其特征在于,

9.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,

10.根据权利要求9所述的检测装置,其特征在于,

【技术特征摘要】

1.一种检测装置,其特征在于,包括

2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的检测装置,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于,

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【专利技术属性】
技术研发人员:高伟清施蕾
申请(专利权)人:信维电子科技益阳有限公司
类型:新型
国别省市:

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