System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种基于FPGA的快速相序判断方法、系统、设备及介质技术方案_技高网

一种基于FPGA的快速相序判断方法、系统、设备及介质技术方案

技术编号:43635143 阅读:3 留言:0更新日期:2024-12-13 12:35
本发明专利技术公开了一种基于FPGA的快速相序判断方法、系统、设备及介质,方法包括对电网A相、B相和C相的电压进行采样,并对A相的采样波形进行整形,获取整形方波;对所述整形方波进行上升沿检测;通过检测结果,判断上升沿时刻下电网B相和C相电压采样值的正负关系,获得相序判断结果。本发明专利技术无需复杂计算,提高了相序判断的效率,保证了相序判断的实时性,实现了快速相序判断。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及相序判断,特别涉及一种基于fpga的快速相序判断方法、系统、设备及介质。


技术介绍

1、当前相序判断方法层出不穷,但大多需要经过复杂计算,如通过计算旋转坐标下电压正负序分量,且需耗费较多cpu资源和时间。


技术实现思路

1、为解决上述问题,本专利技术提供了一种基于fpga的快速相序判断方法、系统、设备及介质,通过判断a相电压过零时刻b、c相电压来判断电网电压相序,无需复杂计算,降低了硬件设备的压力,提高了相序判断的效率,保证了相序判断的实时性。

2、本专利技术提供了一种基于fpga的快速相序判断方法,具体技术方案如下:

3、s1:对电网a相、b相和c相的电压进行采样,并对a相的采样波形进行整形,获取整形方波;

4、s2:对所述整形方波进行上升沿检测;

5、s3:通过检测结果,判断上升沿时刻下电网b相和c相电压采样值的正负关系,获得相序判断结果。

6、进一步的,步骤s1中,所述整形,具体如下:

7、获取采样数据,将采样数据中采样值大于0的波形输出,整形为高电平输出。

8、进一步的,步骤s2中,所述上升沿检测,具体如下:

9、根据所述整形方波,将前一状态和后一状态进行寄存;

10、若前一状态为低电平,后一状态为高电平,则为上升沿。

11、进一步的,步骤s3中,根据当前时刻电网b相和c相电压采样值的正负关系,所述相序判断如下:

12、b相电压采样结果为负且c相电压采样结果为正时,所述相序判断结果为正相序;其余采样结果判定为负相序。

13、本专利技术还提供了一种基于fpga的快速相序判断系统,具体技术方案如下:

14、系统包括采样模块、整形输出模块、寄存模块、上升沿检测模块、处理器模块以及相序判断模块;

15、所述采样模块包括第一采样单元、第二采样单元和第三采样单元,分别对电网a相、b相和c相进行同步采样;

16、所述整形输出模块与所述第一采样单元连接,接收电网a相的采样数据,并进行整形输出;

17、所述寄存模块接收所述整形输出模块输出的采样数据,进行寄存;

18、所述上升沿检测模块与所述寄存模块连接,获取寄存模块存储的波形数据,并根据前一状态和后一状态的数据进行上升沿检测;

19、所述相序判断模块与所述上升沿检测模块、第二采样单元以及第三采样单元连接,根据检测结果,判断上升沿时刻对应的b相和c相电压采样值的正负关系,并输出相序判断结果。

20、进一步的,所述整形输出模块根据接收的电网a相的采样数据,将采样值大于0的波形整形为高电平输出。

21、进一步的,所述寄存模块包括两个寄存器,分别对前一状态和后一状态进行寄存。

22、进一步的,所述上升沿检测模块从两个寄存器中,分别获取前一状态和后一状态的波形数据,若前一状态为低电平,后一状态为高电平,则判定为上升沿并输出。

23、本专利技术还提供了一种基于fpga的快速相序判断设备,所述基于fpga的快速相序判断设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上,并可在所述处理器上运行的基于fpga的快速相序判断程序,所述基于fpga的快速相序判断程序被所述处理器执行时实现上述所述的基于fpga的快速相序判断方法的步骤。

24、本专利技术还提供了一种计算机存储介质,所述存储介质上存储有基于fpga的快速相序判断程序,所述基于fpga的快速相序判断程序被处理器执行时实现上述所述的基于fpga的快速相序判断方法的步骤。

25、本专利技术的有益效果如下:

26、本专利技术通过对电网a相电压进行采样整形,根据得到的整形方波进行边沿检测,基于检测结果,获取电网b相和c相电压采样值的正负关系来判断电网电压相序,无需复杂的运算,提高了相序判断的效率,保证了相序判断的实时性。

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【技术保护点】

1.一种基于FPGA的快速相序判断方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于FPGA的快速相序判断方法,其特征在于,步骤S1中,所述整形,具体如下:

3.根据权利要求1所述的基于FPGA的快速相序判断方法,其特征在于,步骤S2中,所述上升沿检测,具体如下:

4.根据权利要求1所述的基于FPGA的快速相序判断方法,其特征在于,步骤S3中,根据当前时刻电网B相和C相电压采样值的正负关系,所述相序判断如下:

5.一种基于FPGA的快速相序判断系统,其特征在于,系统包括采样模块、整形输出模块、寄存模块、上升沿检测模块、处理器模块以及相序判断模块;

6.根据权利要求5所述的基于FPGA的快速相序判断系统,其特征在于,所述整形输出模块根据接收的电网A相的采样数据,将采样值大于0的波形整形为高电平输出。

7.根据权利要求5所述的基于FPGA的快速相序判断系统,其特征在于,所述寄存模块包括两个寄存器,分别对前一状态和后一状态进行寄存。

8.根据权利要求7所述的基于FPGA的快速相序判断系统,其特征在于,所述上升沿检测模块从两个寄存器中,分别获取前一状态和后一状态的波形数据,若前一状态为低电平,后一状态为高电平,则判定为上升沿并输出。

9.一种基于FPGA的快速相序判断设备,其特征在于,所述基于FPGA的快速相序判断设备包括:存储器、处理器及存储在所述存储器上,并可在所述处理器上运行的基于FPGA的快速相序判断程序,所述基于FPGA的快速相序判断程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-4任一所述的基于FPGA的快速相序判断方法的步骤。

10.一种计算机存储介质,其特征在于,所述存储介质上存储有基于FPGA的快速相序判断程序,所述基于FPGA的快速相序判断程序被处理器执行时实现如权利要求1-4任一所述的基于FPGA的快速相序判断方法的步骤。

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【技术特征摘要】

1.一种基于fpga的快速相序判断方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于fpga的快速相序判断方法,其特征在于,步骤s1中,所述整形,具体如下:

3.根据权利要求1所述的基于fpga的快速相序判断方法,其特征在于,步骤s2中,所述上升沿检测,具体如下:

4.根据权利要求1所述的基于fpga的快速相序判断方法,其特征在于,步骤s3中,根据当前时刻电网b相和c相电压采样值的正负关系,所述相序判断如下:

5.一种基于fpga的快速相序判断系统,其特征在于,系统包括采样模块、整形输出模块、寄存模块、上升沿检测模块、处理器模块以及相序判断模块;

6.根据权利要求5所述的基于fpga的快速相序判断系统,其特征在于,所述整形输出模块根据接收的电网a相的采样数据,将采样值大于0的波形整形为高电平输出。

7.根据权利要求5所述的基于fpga的快速相序判断...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨琳
申请(专利权)人:四川航电微能源有限公司
类型:发明
国别省市:

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