System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 纳米孔阵列装置的校准制造方法及图纸_技高网

纳米孔阵列装置的校准制造方法及图纸

技术编号:43631222 阅读:8 留言:0更新日期:2024-12-11 15:11
本文描述了一种校准纳米孔阵列装置的方法。所述纳米孔阵列装置包括纳米孔通道阵列,每个纳米孔通道形成于分隔两种离子溶液的膜中。所述纳米孔通道连接所述离子溶液,并且所述装置进一步包括用于调整所述纳米孔通道阵列的温度的热控制组件。所述方法包括以下步骤:测量指示通过所述纳米孔通道的离子流的信号;分析测量信号并与参考值进行比较;以及基于比较来调整所述热控制组件以调节所述纳米孔通道阵列的所述温度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】


技术介绍


技术实现思路

【技术保护点】

1.一种校准纳米孔阵列装置的方法,

2.根据权利要求1所述的方法,其中在分析物通过所述纳米孔通道的移位期间测量指示离子流的信号。

3.根据权利要求2所述的方法,其中分析每个测量信号以确定所述分析物通过所述纳米孔通道的移位的速度。

4.根据权利要求2或权利要求3所述的方法,其中所述分析物是包含聚合物单元的序列的聚合物,并且其中所述测量信号指示所述聚合物通过所述纳米孔通道的至少部分移位。

5.根据权利要求4所述的方法,其中分析每个测量信号以确定所述序列中聚合物单元的数量,并且由此确定聚合物单元平均移位速度/每单位时间并将其与所述参考值进行比较。

6.根据权利要求4或权利要求5所述的方法,其中所述聚合物是多核苷酸。

7.根据权利要求4至6中任一项所述的方法,其中所述聚合物通过所述纳米孔通道的移位速率由酶分子马达控制。

8.根据权利要求5至7中任一项所述的方法,其中聚合物单元移位速度/每单位时间包括确定聚合物单元的序列长度。

9.根据权利要求7所述的方法,其中所述酶是多核苷酸结合蛋白。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中指示通过所述纳米孔通道的离子流的所述信号是在跨每个膜提供的电势差下的电流测量值。

11.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述装置包括公共腔室和阱阵列,所述公共腔室包括与设置在所述纳米孔通道阵列和相应膜的一侧上的离子溶液接触的公共电极,每个阱含有电极和离子溶液,每个纳米孔通道和膜将所述公共腔室中的所述离子溶液与每个相应的阱中含有的所述离子溶液分隔开。

12.根据权利要求11中任一项所述的方法,其中所述纳米孔通道阵列、所述阱阵列设置在可拆卸流动池上。

13.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中测量所述装置的第一温度,并且在所述比较之后将所述热控制组件从第一水平调整至第二水平以提供第二装置温度。

14.一种确定聚合物序列的方法,所述方法包括以下步骤:校准根据权利要求1至13中任一项所述的纳米孔装置,随后在聚合物分析物通过纳米孔通道阵列的移位期间测量指示离子流的信号,并分析测量信号以确定聚合物单元的序列。

15.一种纳米孔阵列装置,其被配置为执行根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中所述方法的步骤存储在存储器中并且在硬件设备或计算机设备中实现。

16.根据权利要求15所述的装置,其中纳米孔通道阵列作为可拆卸流动池的一部分而被包括。

17.根据权利要求16所述的装置,其中所述可拆卸流动池作为多个彼此间隔开的可拆卸流动池的一部分而被包括。

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【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种校准纳米孔阵列装置的方法,

2.根据权利要求1所述的方法,其中在分析物通过所述纳米孔通道的移位期间测量指示离子流的信号。

3.根据权利要求2所述的方法,其中分析每个测量信号以确定所述分析物通过所述纳米孔通道的移位的速度。

4.根据权利要求2或权利要求3所述的方法,其中所述分析物是包含聚合物单元的序列的聚合物,并且其中所述测量信号指示所述聚合物通过所述纳米孔通道的至少部分移位。

5.根据权利要求4所述的方法,其中分析每个测量信号以确定所述序列中聚合物单元的数量,并且由此确定聚合物单元平均移位速度/每单位时间并将其与所述参考值进行比较。

6.根据权利要求4或权利要求5所述的方法,其中所述聚合物是多核苷酸。

7.根据权利要求4至6中任一项所述的方法,其中所述聚合物通过所述纳米孔通道的移位速率由酶分子马达控制。

8.根据权利要求5至7中任一项所述的方法,其中聚合物单元移位速度/每单位时间包括确定聚合物单元的序列长度。

9.根据权利要求7所述的方法,其中所述酶是多核苷酸结合蛋白。

10.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中指示通过所述纳米孔通道的离子流的所述信号是在跨每个膜提供的电势差下的电流测量值。

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【专利技术属性】
技术研发人员:D·B·T·沃德G·J·霍尔
申请(专利权)人:牛津纳米孔科技公开有限公司
类型:发明
国别省市:

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