【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示模组，尤其涉及一种fpc差分阻抗线阻抗检测方法。
技术介绍
1、在液晶显示屏上，差分阻抗线特征阻抗会直接影响到信号传输质量，从而影响到显示效果。因此，对于模组来说，差分阻抗是硬性指标，不可不满足，特别是在高分辨率、高刷新率的产品上，由于差分传输速率超过1ghz，阻抗线的稳定性更是成为产品的重要指标，也影响着整机的性能。
2、目前差分阻抗线特征阻抗从设计上仿真，以得到需求阻抗值的线宽和线距，在实际生产中，线路蚀刻后进行初次测量阻抗值，在贴合覆盖膜后会再次测试阻抗值，根据测试结果去优化线宽线距设计值，存在以下缺陷：1、目前阻抗值测试为当班次首件测试，生产过程中不再进行测试，在制程不稳定时极易造成阻抗值超出设计规格；2、双邦定类平板模组，由于两颗驱动ic，阻抗线在线路过程中分叉的情况，在阻抗测试时，易受分叉后影响，测试阻值与实际线路阻值不符，影响设计者判断；3、双绑定类平板模组fpc在阻抗测试时，需在分叉点后割断一边，测试另一边的阻抗值，割断后产品会报废，平板fpc面积一般较大，成本较高。
3、因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是克服至少部分现有技术的不足，提供一种fpc差分阻抗线阻抗检测方法。
2、本专利技术的技术方案如下：本专利技术提供一种fpc差分阻抗线阻抗检测方法，包括以下步骤：
3、步骤1：根据fpc的阻抗要求、fpc厂商铜厚值和反面参考gnd类型，通过仿真软件计算阻抗范围内的
4、步骤2：按照fpc设计图纸，在fpc上以绑定对位mark为原点，在fpc的每条阻抗线路径上均分别选取8至40个点作为线宽和线距的测量取值点；
5、步骤3：对阻抗线路径的测量取值点的线宽和线距进行测量，获取每一个测量取值点的线宽和线距；
6、步骤4：将所述步骤3获得的每一个测量取值点的线宽和线距与所述步骤2获取的线宽大小合格范围和线距大小合格范围进行对比，当全部测量测取值的线宽和线距均在合格范围内时，则fpc差分阻抗线阻抗合格，否则为不合格。
7、进一步地，当fpc只有单个驱动ic时，每条阻抗线路径上的所述测量取值点均匀分布。
8、进一步地，每条阻抗线路径上均分别具有10个测量取值点。
9、进一步地，当fpc具有两个驱动ic时，fpc包括主体部和两个分叉部，两个所述分叉部分别连接所述主体部，两个驱动ic分别设置在两个所述分叉部上，每条阻抗线路中，位于所述主体部的测量取值点在所述主体部上单独均匀分布，位于所述分叉部的测量取值点在所述分叉部上单独均匀分布。
10、进一步地，每条阻抗线路路径在所述主体部有10个测量取值点，在所述分叉部有10个测量取值点。
11、进一步地，提供一检测系统，所述步骤3中通过所述检测系统的微距镜头模块拍照后，检测系统计算获取所述测量取值点的线宽大小和线距大小。
12、进一步地，所述检测系统的存储模块存储有fpc阻抗范围内对应的线宽大小合格范围和线距大小合格范围，所述步骤4中，通过所述检测系统的mcu将所述步骤3获得的每一个测量取值点的线宽和线距与所述步骤2获取的线宽大小合格范围和线距大小合格范围进行对比，并判断fpc差分阻抗线阻抗是否合格。
13、进一步地，所述检测系统还包括显示模块，在获取了fpc差分阻抗线阻抗的检测结果后，通过显示模块输出检测结果。
14、采用上述方案，本专利技术的有益效果在于：通过对fpc线路的线宽、线距参数测量来判断阻抗线的阻抗是否合格，可以实现对fpc阻抗线阻值的100％测试，筛选出阻抗值不符合产品要求的fpc；同时，也可对双头阻抗线进行不割断测试阻抗值，减少测试而产生的成本。
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1.一种FPC差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的FPC差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，当FPC只有单个驱动IC时，每条阻抗线路径上的所述测量取值点均匀分布。
3.根据权利要求2所述的FPC差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，每条阻抗线路径上均分别具有10个测量取值点。
4.根据权利要求1所述的FPC差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，当FPC具有两个驱动IC时，FPC包括主体部和两个分叉部，两个所述分叉部分别连接所述主体部，两个驱动IC分别设置在两个所述分叉部上，每条阻抗线路中，位于所述主体部的测量取值点在所述主体部上单独均匀分布，位于所述分叉部的测量取值点在所述分叉部上单独均匀分布。
5.根据权利要求4所述的FPC差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，每条阻抗线路路径在所述主体部有10个测量取值点，在所述分叉部有10个测量取值点。
6.根据权利要求1至5任一项所述的FPC差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，提供一检测系统，所述步骤3中通过所述检测系统的微距镜头模块拍照后，检测
7.根据权利要求6所述的FPC差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，所述检测系统的存储模块存储有FPC阻抗范围内对应的线宽大小合格范围和线距大小合格范围，所述步骤4中，通过所述检测系统的MCU将所述步骤3获得的每一个测量取值点的线宽和线距与所述步骤2获取的线宽大小合格范围和线距大小合格范围进行对比，并判断FPC差分阻抗线阻抗是否合格。
8.根据权利要求6所述的FPC差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，所述检测系统还包括显示模块，在获取了FPC差分阻抗线阻抗的检测结果后，通过显示模块输出检测结果。
...【技术特征摘要】
1.一种fpc差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的fpc差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，当fpc只有单个驱动ic时，每条阻抗线路径上的所述测量取值点均匀分布。
3.根据权利要求2所述的fpc差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，每条阻抗线路径上均分别具有10个测量取值点。
4.根据权利要求1所述的fpc差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，当fpc具有两个驱动ic时，fpc包括主体部和两个分叉部，两个所述分叉部分别连接所述主体部，两个驱动ic分别设置在两个所述分叉部上，每条阻抗线路中，位于所述主体部的测量取值点在所述主体部上单独均匀分布，位于所述分叉部的测量取值点在所述分叉部上单独均匀分布。
5.根据权利要求4所述的fpc差分阻抗线阻抗检测方法，其特征在于，每条阻抗线路路径在所述主体部有...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄平洋，田野，张丽霞，曾小马，
申请(专利权)人：赣州市同兴达电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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