【技术实现步骤摘要】
本技术涉及硅片及电池片检测，尤其涉及一种硅片检测仪器。
技术介绍
1、生产的硅片需要进行数量统计，目前，生产过程主要依靠人工去数花篮里面硅片数量。
2、由于硅片相当薄且易碎，靠人工拿着手电筒读数不方便，统计耗时耗力，浪费上下料时间，且计数不准确，容易造成误判错判；此外，人手误触容易给硅片造成划伤、脏污甚至损坏，导致破片率较高。
3、因此，有必要提供一种硅片检测仪器，帮助提升检测效率与检测结果的可靠性。
技术实现思路
1、本技术所要解决的技术问题在于，如何提升硅片检测效率与检测结果的可靠性。
2、为解决上述技术问题，本技术提供了一种硅片检测仪器，用于对花篮内排列插接的硅片进行检测，所述花篮设有两两相对设置的插槽，相对的两个插槽与第一平面平行，用于与所述硅片的两端对应插接，其中，检测仪器包括第一滑轨、设于所述第一滑轨上的第一光电传感器，以及驱动件，
3、所述第一滑轨的延伸方向与所述花篮内硅片的排列方向平行；
4、所述第一光电传感器发射的光束与所述第一平面平行；
5、所述驱动件用于驱动所述第一光电传感器沿所述第一滑轨移动
6、作为上述方案的改进，还包括第二滑轨和第二光电传感器，所述第二光电传感器设于所述第二滑轨上；
7、所述第一光电传感器、所述第二光电传感器发射的光束均位于相对两个插槽之间，且均处于与所述第一平面平行的平面上；
8、所述驱动件用于驱动所述第一光电传感器及所述第二光电
9、作为上述方案的改进，所述光电传感器的光束发射方向均与所述插槽的延伸方向平行。
10、作为上述方案的改进，还包括定位座，所述定位座上设有定位板，所述定位板用于限定花篮的放置位置。
11、作为上述方案的改进，所述定位板呈l形。
12、作为上述方案的改进，所述第一光电传感器、所述第二光电传感器均为漫反射型光电开关。
13、作为上述方案的改进，所述第一光电传感器、所述第二光电传感器均为对射型光电开关；
14、所述第一光电传感器包括第一发射光电传感器，以及设于所述第一发射光电传感器的光束发射方向上的第一接收光电传感器，所述第一发射光电传感器和所述第一接收光电传感器分设于所述花篮相对两侧的所述第一滑轨上；
15、所述第二光电传感器包括第二发射光电传感器，以及设于所述第二发射光电传感器的光束发射方向上的第二接收光电传感器，所述第二发射光电传感器和所述第二接收光电传感器分设于所述花篮相对两侧的所述第二滑轨上；
16、所述第一发射光电传感器、所述第一接收光电传感器、所述第二发射光电传感器和所述第二接收光电传感器同步移动。
17、作为上述方案的改进，还包括显示器和信号处理单元，所述信号处理单元与所述第一光电传感器、所述第二光电传感器及显示器连接，所述信号处理单元用于处理来自于所述第一光电传感器、所述第二光电传感器形成的脉冲信号，且将处理结果显示在显示器上。
18、作为上述方案的改进，还包括支撑杆，所述支撑杆与定位座固定，所述第一滑轨固定设置在所述支撑杆上。
19、作为上述方案的改进，所述花篮设有插放口，所述第一光电传感器与所述插放口相对设置，且所述花篮背离所述插放口的一侧与所述定位板抵接。
20、实施本技术，具有如下有益效果：
21、本技术公开了一种硅片检测仪器，当需要检测花篮中的硅片时，将花篮放置在该检测仪器上，使花篮内硅片的排列方向与第一滑轨的延伸方向平行；驱动件驱动第一光电传感器沿第一滑轨移动，可以扫过花篮中的各硅片，实现计数；
22、此外，通过将装有硅片的花篮放在检测仪器中，通过驱动件驱动第一滑轨上的第一光电传感器、第二滑轨上的第二光电传感器沿着花篮内硅片的排列方向同步移动，第一光电传感器、第二光电传感器发射的光束与第一平面平行，且沿花篮内硅片的排列方向扫过，通过第一光电传感器、第二光电传感器发射的光束被阻挡的情况(光信号)，对扫过的硅片进行计数，以及判断硅片插放位置是否正确；
23、本技术的硅片检测仪结构简单，成本低。
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1.一种硅片检测仪器，用于对花篮内排列插接的硅片进行检测，所述花篮设有两两相对设置的插槽，相对的两个插槽与第一平面平行，用于与所述硅片的两端对应插接，其特征在于，检测仪器包括第一滑轨、设于所述第一滑轨上的第一光电传感器，以及驱动件，
2.如权利要求1所述的硅片检测仪器，其特征在于，还包括第二滑轨和第二光电传感器，所述第二光电传感器设于所述第二滑轨上；
3.如权利要求2所述的硅片检测仪器，其特征在于，所述第一光电传感器、所述第二光电传感器的光束发射方向均与所述插槽的延伸方向平行。
4.如权利要求1所述的硅片检测仪器，其特征在于，还包括定位座，所述定位座上设有定位板，所述定位板用于限定花篮的放置位置。
5.如权利要求4所述的硅片检测仪器，其特征在于，所述定位板呈L形。
6.如权利要求2所述的硅片检测仪器，其特征在于，所述第一光电传感器、所述第二光电传感器均为漫反射型光电开关。
7.如权利要求2所述的硅片检测仪器，其特征在于，所述第一光电传感器、所述第二光电传感器均为对射型光电开关；
8.如权利要求2所
9.如权利要求4所述的硅片检测仪器，其特征在于，还包括支撑杆，所述支撑杆与定位座固定，所述第一滑轨固定设置在所述支撑杆上。
10.如权利要求4所述的硅片检测仪器，其特征在于，所述花篮设有插放口，所述第一光电传感器与所述插放口相对设置，且所述花篮背离所述插放口的一侧与所述定位板抵接。
...【技术特征摘要】
1.一种硅片检测仪器，用于对花篮内排列插接的硅片进行检测，所述花篮设有两两相对设置的插槽，相对的两个插槽与第一平面平行，用于与所述硅片的两端对应插接，其特征在于，检测仪器包括第一滑轨、设于所述第一滑轨上的第一光电传感器，以及驱动件，
2.如权利要求1所述的硅片检测仪器，其特征在于，还包括第二滑轨和第二光电传感器，所述第二光电传感器设于所述第二滑轨上；
3.如权利要求2所述的硅片检测仪器，其特征在于，所述第一光电传感器、所述第二光电传感器的光束发射方向均与所述插槽的延伸方向平行。
4.如权利要求1所述的硅片检测仪器，其特征在于，还包括定位座，所述定位座上设有定位板，所述定位板用于限定花篮的放置位置。
5.如权利要求4所述的硅片检测仪器，其特征在于，所述定位板呈l形。
6.如权利要求2所述的硅片检测仪器，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴奇隆，梁跃，王永谦，陈刚，
申请(专利权)人：浙江爱旭太阳能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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