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平板探测器及平板探测器系统技术方案

技术编号:43612457 阅读:5 留言:0更新日期:2024-12-11 14:56
本申请提供一种平板探测器及平板探测器系统,平板探测器包括:壳体;探测模组,探测模组位于壳体内,探测模组用于接收辐射光并转换为电信号;传感模块,传感模块位于探测模组的接收侧,传感模块用于在被检体与平板探测器接触时,确定接触区域的形状以及接触区域在平板探测器上的位置。本申请提供的一种平板探测器,通过在探测模组的接收侧设置传感模块,利用传感模块在被检体与平板探测器接触时,确定接触区域的形状以及接触区域在平板探测器上的位置,相对于人工肉眼观察,该平板探测器对被检体体位的识别精度更高,速度更快,可以辅助医生快速对被检体进行体位调整,使被检体位于曝光区域内的目标位置,大幅提升影像拍摄效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及射线检测,尤其涉及一种平板探测器及平板探测器系统


技术介绍

1、当前,数字化x射线平板探测器(digital flat panel detector,简称dfpd),以其更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率等显著优点,成为x射线检测技术的主要方法。

2、在辐射影像的拍摄中,需要调整被检体的体位,使其位于曝光区域内的目标位置,但是,当前的调整主要依靠人工肉眼观察,存在效率低的问题。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请的目的在于提出一种可加快被检体的体位纠正,提升影像拍摄效率的平板探测器。

2、基于上述目的,本申请提供了一种平板探测器,该平板探测器包括:

3、壳体;

4、探测模组,所述探测模组位于所述壳体内,所述探测模组用于接收辐射光并转换为电信号;

5、传感模块,所述传感模块位于所述探测模组的接收侧,所述传感模块用于在被检体与所述平板探测器接触时,确定接触区域的形状以及所述接触区域在所述平板探测器上的位置。

6、在其中一个实施例中,在被检体与所述平板探测器接触时,所述平板探测器的表面产生压力信号,所述传感模块基于所述压力信号的分布确定接触区域的形状以及所述接触区域在所述平板探测器上的位置。

7、在其中一个实施例中,所述平板探测器还包括:

8、盖板,所述盖板与所述壳体连接,所述盖板位于所述探测模组的接收侧,所述盖板用于与所述被检体接触,所述传感模块位于所述盖板靠近所述探测模组的一侧;

9、优选地,所述传感模块与所述盖板粘接。

10、在其中一个实施例中,所述盖板包括相对的第一平面和第二平面,所述传感模块为平板结构,所述传感模块包括相对的第三平面和第四平面,所述第三平面与所述第二平面粘接。

11、优选地,所述第三平面与所述第二平面之间形成有粘合剂层。

12、在其中一个实施例中,所述传感模块在所述探测模组上的正投影位于所述盖板在所述探测模组上的正投影内;

13、优选地,所述传感模块在所述探测模组上的正投影与所述盖板在所述探测模组上的正投影全部重合。

14、在其中一个实施例中,所述传感模块包括基底,以及形成于所述基底上的传感器。

15、在其中一个实施例中,所述传感器包括电阻式传感器或电容式传感器。

16、在其中一个实施例中,所述传感器采用ito或金属制备。

17、在其中一个实施例中,所述探测模组包括:

18、阵列基板;

19、闪烁体层,所述闪烁体层形成于所述阵列基板的一侧;

20、封装层,所述封装层形成于所述闪烁体层远离所述阵列基板的一侧。

21、基于同样的专利技术构思,本申请还公开了一种平板探测器系统,其包括:

22、上述的平板探测器;以及

23、成像装置,用于对所述探测模组探测的信号进行成像,以及对所述接触区域的形状以及所述接触区域在所述平板探测器上的位置进行成像。

24、与现有技术相比,本申请提供的一种平板探测器,通过在探测模组的接收侧设置传感模块,利用传感模块在被检体与平板探测器接触时,确定接触区域的形状以及接触区域在平板探测器上的位置,相对于人工肉眼观察,该平板探测器对被检体体位的识别精度更高,速度更快,可以辅助医生快速对被检体进行体位调整,使被检体位于曝光区域内的目标位置,大幅提升影像拍摄效率。

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【技术保护点】

1.一种平板探测器,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的平板探测器,其特征在于,在被检体与所述平板探测器接触时,所述平板探测器的表面产生压力信号,所述传感模块基于所述压力信号的分布确定接触区域的形状以及所述接触区域在所述平板探测器上的位置。

3.如权利要求1所述的平板探测器,其特征在于,所述平板探测器还包括:

4.如权利要求3所述的平板探测器,其特征在于,所述盖板包括相对的第一平面和第二平面,所述传感模块为平板结构,所述传感模块包括相对的第三平面和第四平面,所述第三平面与所述第二平面粘接;

5.如权利要求4所述的平板探测器,其特征在于,所述传感模块在所述探测模组上的正投影位于所述盖板在所述探测模组上的正投影内;

6.如权利要求1所述的平板探测器,其特征在于,所述传感模块包括基底,以及形成于所述基底上的传感器。

7.如权利要求6所述的平板探测器,其特征在于,所述传感器包括电阻式传感器或电容式传感器。

8.如权利要求6所述的平板探测器,其特征在于,所述传感器采用ITO或金属制备。

9.如权利要求1所述的平板探测器,其特征在于,所述探测模组包括:

10.一种平板探测器系统,其特征在于,包括:

...

【技术特征摘要】

1.一种平板探测器,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的平板探测器,其特征在于,在被检体与所述平板探测器接触时,所述平板探测器的表面产生压力信号,所述传感模块基于所述压力信号的分布确定接触区域的形状以及所述接触区域在所述平板探测器上的位置。

3.如权利要求1所述的平板探测器,其特征在于,所述平板探测器还包括:

4.如权利要求3所述的平板探测器,其特征在于,所述盖板包括相对的第一平面和第二平面,所述传感模块为平板结构,所述传感模块包括相对的第三平面和第四平面,所述第三平面与所述第二平面粘接;

5.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈星星
申请(专利权)人:昆山国显光电有限公司
类型:发明
国别省市:

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