【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机视觉，具体为一种多线激光联合装置及微晶玻璃检测方法。
技术介绍
1、微晶玻璃是利用高速运动的钢线携带附着在钢线上的磨料对玻璃块进行研磨从而达到切割玻璃的目的。在实际操作时，会因为突发情况停机重启，钢线不能按照原位置切割；钢线断开后焊接点粗细、硬度不同；承载台转速、主轴进给速度和转速参数的调整等各种原因，会使微晶玻璃不可避免地产生多种缺陷，其中，厚度、ttv(total thicknessvariation，总厚度变化)以及线痕这三项指标对微晶玻璃质量影响较大，是目前微晶玻璃生产厂家必不可少的检测环节。
2、目前国内外对玻璃材料的厚度、ttv以及线痕检测的研究较少。在公开号为cn118067071a的专利文献《一种光学玻璃表面粗糙度检测装置》采用接触式测量方法，通过触针接触到光学玻璃上的包覆件进行粗糙度检测。在公开号为cn220913008u的专利文献《一种玻璃基板外观检测设备》、公开号为cn117990719a的专利文献《一种曲面玻璃缺陷的检测方法》、公开号为cn117517348a的专利文献《基于微晶玻璃面板成品的表面缺陷检测系统》均采用传统视觉检测，即通过工业相机获取玻璃的待检测图像，根据像素点的灰度进行外观缺陷检测，由于工业相机缺少高度信息，这些方法均不能用于测量玻璃材料的厚度、ttv以及线痕，而且也没有借鉴意义。
3、国内一些厂家采用人工手动检测，厚度和ttv的测量工具是手持式千分尺测厚仪，在微晶玻璃不同位置进行多次测量厚度；线痕检测不借助任何测量工具和光学观察仪器，通过手指触
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种多线激光联合装置及微晶玻璃检测方法，解决了线痕检测不借助任何测量工具和光学观察仪器，通过手指触摸玻璃表面是否有起伏的触感以及眼睛观察时候有线状纹路，无法判断线痕的真实深度，检测效率低，而且每个人对产品的判断标准较为主观，难以达到统一的品控标准，容易导致判断不准确的问题。
2、为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种多线激光联合装置，包括输送架，所述输送架的上方固定设置有多个支架以及安装于支架上的多组检测单元，任一组检测单元包括两个上下相对安装的第一线激光相机和第二线激光相机，第一线激光相机和第二线激光相机与支架之间均设置有平移调节单元；
3、多组检测单元沿输送架输送方向分开排布，且多组检测单元在垂直于输送架方向的方向上错位安装，多个第一线激光相机和多个第二线激光相机分别用于扫描微晶玻璃正反面的轮廓数据，能够测量线痕真实深度，且第一线激光相机和第二线激光相机对称安装，经过标定能够测量微晶玻璃厚度和ttv。
4、优选的，一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，包括以下步骤：
5、步骤一、三组检测单元进行点云数据对齐；
6、步骤二、标定三组检测单元厚度补偿值；
7、步骤三、采集数据；
8、步骤四、计算厚度、ttv、线痕。
9、优选的，所述三组检测单元进行点云数据对齐步骤具体为以下步骤：
10、步骤一、第一线激光相机和第二线激光相机激光线重合；
11、准备一块一面光滑、一面毛糙的玻璃，将毛糙面朝向第一线激光相机，光滑面朝向第二线激光相机，利用平移调节单元分别调节第一线激光相机和第二线激光相机竖直方向的位置，确保玻璃在两个相机景深范围内；监控第一线激光相机轮廓线，显示区域会出现两条轮廓线，一条是第一线激光相机发出的激光线被第一线激光相机接收，另一条是第二线激光相机发出的激光线透过玻璃被第一线激光相机接收，利用平移调节单元调节第二线激光相机水平方向的位置，使第二线激光相机移动，直至两条轮廓线重合；
12、步骤二、第一线激光相机和第二线激光相机起始点对齐；
13、将标定块放置在第一线激光相机的激光线起始点，使第一线激光相机的激光线伸出标定块，然后分别打开第一线激光相机和第二线激光相机，采集点云数据，第一个非零点即为起始点的索引值；
14、步骤三、数据有效区间；
15、将标定块放置在第一线激光相机和第二线激光相机的景深内，使第一线激光相机和第二线激光相机的激光线完全在标定块上，分别打开第一线激光相机和第二线激光相机，采集点云数据，第一个有效点即为数据有效区间的起点，最后一个有效点即为数据有效区间的终点；
16、步骤四、数据裁剪；
17、设主相机起始点索引为，副相机起始点索引为，主相机数据有效区间为，为主相机点云数据第一个有效点，为主相机点云数据最后一个有效点；副相机数据有效区间为，为副相机点云数据第一个有效点，为副相机点云数据最后一个有效点；若裁剪点数为，从主相机第个有效点开始裁剪；
18、则裁剪后主相机保留的数据区间为：
19、，
20、副相机保留的数据区间为：
21、。
22、多线激光联合装置有三组检测单元，每组检测单元分别执行一遍上述步骤即可实现点云数据对齐。
23、优选的，所述标定三组检测单元厚度补偿值步骤具体：
24、矫正变量后的厚度测量公式为：
25、
26、其中：
27、h——测量物的厚度；
28、a——主相机的测量值；（深度值，一般是用较大的整数表示）
29、b——副相机的测量值；（深度值，一般是用较大的整数表示）
30、x——深度值转物理深度的系数；
31、y——厚度补偿值；
32、系数x为相机出厂时自动标定，这个值不需要用户标定，因此，实际标定时只需要一个标定板标定y值。设标定板厚度为，第一线激光相机和第二线激光相机的读数分别是、，则厚度补偿值；且三组检测单元存在三个厚度补偿值。
33、优选的，所述采集数据步骤具体为：
34、第一线激光相机和第二线激光相机采用分时触发的方式，即先触发第一线激光相机采集数据，间隔之后才触发第二线激光相机采集数据。
35、优选的，所述计算厚度、ttv、线痕步骤具体为：
36、三组检测单元共有6个线激光相机，存在6张深度图，按照第一组检测单元的第一线激光相机深度图、第一组检测单元的第二线激光相机深度图、第二组检测单元的第一线激光相机深度图、第二组检测单元的第二线激光相机深度图、第三组检测单元的第一线激光相机深度图、第三组检测单元的第二线激光相机深度图存储，记为，具体步骤如下：
37、步骤一、对中每一张深度图进行数据滤波，得到平滑数据；
38、步骤二、对中每一张深度图依次计算线痕，共得到6个线痕深度值，取其中最大值作为当前产品的线痕深度；
39、步骤三、对中每一张深度图依次进行数本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种多线激光联合装置，包括输送架（1），其特征在于，所述输送架（1）的上方固定设置有多个支架（2）以及安装于支架（2）上的多组检测单元（3），任一组检测单元（3）包括两个上下相对安装的第一线激光相机（31）和第二线激光相机（32），第一线激光相机（31）和第二线激光相机（32）与支架（2）之间均设置有平移调节单元（33）；
2.根据权利要求1所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，其特征在于，所述三组检测单元（3）进行点云数据对齐步骤具体为以下步骤：
4.根据权利要求2所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，其特征在于，所述标定三组检测单元（3）厚度补偿值步骤具体：
5.根据权利要求2所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，其特征在于，所述采集数据步骤具体为：
6.根据权利要求2所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，其特征在于，所述计算厚度、TTV、线痕步骤具体为：
7.根据权利要求6所述
8.根据权利要求6所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，其特征在于，所述步骤二中的计算线痕方法，其具体过程如下：
9.根据权利要求6所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，其特征在于，所述步骤三中的数据融合方法，其具体过程如下：
10.根据权利要求6所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，其特征在于，所述步骤四中的生成厚度值方法，其具体过程如下：
...【技术特征摘要】
1.一种多线激光联合装置，包括输送架（1），其特征在于，所述输送架（1）的上方固定设置有多个支架（2）以及安装于支架（2）上的多组检测单元（3），任一组检测单元（3）包括两个上下相对安装的第一线激光相机（31）和第二线激光相机（32），第一线激光相机（31）和第二线激光相机（32）与支架（2）之间均设置有平移调节单元（33）；
2.根据权利要求1所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，其特征在于，所述三组检测单元（3）进行点云数据对齐步骤具体为以下步骤：
4.根据权利要求2所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法，其特征在于，所述标定三组检测单元（3）厚度补偿值步骤具体：
5.根据权利要求2所述的一种多线...
【专利技术属性】
技术研发人员：钱凯，沈江华，孙诗杰，路家恒，
申请(专利权)人：德济智能科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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