【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及分析装置以及分析方法。本专利技术特别涉及对于可能采取多个晶型的多晶型的分析对象能够预测晶型的种类的分析装置以及分析方法。
技术介绍
1、在分析对象为可能采取多个晶型的多晶型的物质的情况下，溶解度等特性根据晶型而不同，因此期望能够预测要析出的晶型。作为现有技术，存在通过机器学习来推定与晶体结构对应的能量的信息的方法。
2、在专利文献1中，进行如下这样的机器学习：通过第一原理计算来求出从多个晶体结构候选中选择的选择晶体结构候选各自所涉及的能量的信息，将表示晶体结构候选的结构记述信息中的与选择晶体结构候选对应的结构记述信息作为输入信息，将选择晶体结构候选所涉及的能量的信息作为教师信息，推定与结构记述信息对应的能量的信息。还公开了进行处理的装置，该处理是由通过该机器学习单元得到的机器学习的结果推定与由结构记述信息确定的晶体结构对应的能量的信息。
3、现有技术文献
4、专利文献
5、专利文献1：日本特开2020-166706号公报
技术实现思路
1、专利技术所要解决的课题
2、然而，晶体的生成过程是复合且复杂的物理化学现象。因此，难以与使晶体析出时的干燥条件、温度条件等晶体的生成过程中的各种条件对应地通过计算来预测晶型。另外，晶型特别容易相对于要析出时的时间变动而变化。因此，反映这样的条件地进行计算等而预测晶体结构本身不仅需要大量的时间以及成本，而且非常困难。
3、本专利技术的目的在于，提供对于采取多晶型的
4、用于解决课题的技术方案
5、为了解决上述课题，本专利技术提供一种分析装置，具备：接受部，其接受对成为分析多晶型的对象的分析对象的晶体的析出造成影响的参数；预测部，其基于所接受的结构式以及参数，来预测要析出的晶型的种类；评价部，其基于参数对分析对象的晶体的析出造成影响的程度即影响度，来评价要析出的晶型的种类与参数的关联；以及提供部，其将要析出的晶型的种类以及析出条件作为要析出的晶体的晶型的信息提供给用户。
6、另外，本专利技术提供一种分析方法，接受对分析对象的晶体的析出造成影响的参数，基于接受到的所述参数来预测要析出的晶型的种类，基于参数对所述分析对象的晶体的析出造成影响的程度即影响度来评价要析出的晶型的种类与所述参数的关联，将要析出的晶型的种类以及析出条件作为要析出的晶体的晶型的信息提供给用户。
7、专利技术效果
8、能够提供对于采取多晶型的分析对象能够预测要析出的晶型的种类和各个晶型的析出条件的分析装置以及分析方法。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种分析装置，具备：
2.根据权利要求1所述的分析装置，其中，所述预测部基于具有所述晶型的所述分析对象的溶解度曲线，来预测要析出的所述晶型。
3.根据权利要求2所述的分析装置，其中，所述预测部使用基于倾向预测而推定出的所述溶解度曲线，所述倾向预测是被预想为要析出的所述晶型的倾向。
4.根据权利要求1所述的分析装置，其中，在所述参数中包括使晶体析出时所使用的红外线的波长。
5.根据权利要求4所述的分析装置，其中，所述红外线的波长选择具有预想为要析出的所述晶型的所述分析对象吸收的波长。
6.根据权利要求1所述的分析装置，其中，所述评价部基于由所述预测部预测为要析出的晶型，针对各个所述参数求出所述影响度。
7.根据权利要求6所述的分析装置，其中，所述评价部基于所述影响度和所述参数的贡献率进行评分，根据所述评分的结果预测要析出的晶型，评价要析出的晶型的种类与所述参数的关联。
8.根据权利要求7所述的分析装置，其中，所述评价部将根据所述评分的结果预测为要析出的晶型与实际析出了的晶型进行比较，探索所述贡献
9.根据权利要求8所述的分析装置，其中，所述评价部基于根据所述评分的结果预测为要析出的晶型与实际析出了的晶型的匹配性来探索所述贡献率。
10.根据权利要求1所述的分析装置，其中，所述预测部针对新的晶型进一步进行预测。
11.一种分析方法，其中，
12.一种分析方法，其中，
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种分析装置，具备：
2.根据权利要求1所述的分析装置，其中，所述预测部基于具有所述晶型的所述分析对象的溶解度曲线，来预测要析出的所述晶型。
3.根据权利要求2所述的分析装置，其中，所述预测部使用基于倾向预测而推定出的所述溶解度曲线，所述倾向预测是被预想为要析出的所述晶型的倾向。
4.根据权利要求1所述的分析装置，其中，在所述参数中包括使晶体析出时所使用的红外线的波长。
5.根据权利要求4所述的分析装置，其中，所述红外线的波长选择具有预想为要析出的所述晶型的所述分析对象吸收的波长。
6.根据权利要求1所述的分析装置，其中，所述评价部基于由所述预测部预测为要析出的晶型，针对各个所述参数求出所...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。