一种阵列型连接器测试装置，用于对一待测主板上的至少一阵列型连接器进行测试，包括一数据采集电路、一主控电路、一存储单元及一显示单元，所述数据采集电路采集待测主板上的阵列型连接器的针脚信息，并将采集到的针脚信息传送给所述主控电路，所述存储单元和主控电路电性相连，其中储存有正常的阵列型连接器的针脚信息，所述主控电路将采集到的针脚信息与存储单元中正常的针脚信息进行比较，并将比较结果显示在所述显示单元上提示待测主板上的阵列型连接器的针脚是否正常。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种连接器测试装置，特别是一种阵列型连接器测试装置。
技术介绍
阵列型连接器为刀片式服务器常用的表面连接设备的连接器，其特点是针脚数量 多、封装精密、体积大，因而给测试带来了较大的困难。特别是在对连接器针脚焊点的开路 以及短路测试时，传统的ICT (In Current Test)测试和飞针测试由于容易造成连接器针脚 的损坏，因而无法对阵列型连接器进行测试，业界暂时没有这类连接器的测试设备。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种阵列型连接器测试装置。一种阵列型连接器测试装置，用于对一待测主板上的至少一阵列型连接器进行测 试，包括一数据采集电路、一主控电路、一存储单元及一显示单元，所述数据采集电路采集 待测主板上的阵列型连接器的针脚信息，并将采集到的针脚信息传送给所述主控电路，所 述存储单元和主控电路电性相连，其中储存有正常的阵列型连接器的针脚信息，所述主控 电路将采集到的针脚信息与存储单元中正常的针脚信息进行比较，并将比较结果显示在所 述显示单元上提示待测主板上的阵列型连接器的针脚是否正常。相较于现有技术，本专利技术阵列型连接器测试装置通过所述主控电路控制数据采集 电路对所述阵列型连接器的各个针脚进行测试，避免了传统测试治具对连接器针脚的损 坏。附图说明图1是本专利技术较佳实施方式阵列型连接器测试装置的组成框图，所述阵列型连接 器测试装置包括一待测主板、一数据采集电路、一主控电路、一存储单元、一开关单元及一 显示单元。图2是图1中数据采集电路的电路图。图3是图1中主控电路、存储单元、开关单元及显示单元电性连接的电路图。 具体实施例方式请参阅图1，本专利技术阵列型连接器测试装置较佳实施方式包括一待测主板100、一 数据采集电路200、一主控电路300、一存储单元400、一开关单元500及一显示单元600。所 述数据采集电路200采集待测主板100上的阵列型连接器的针脚信息，并将采集到的针脚 信息传送给所述主控电路300。所述存储单元400和主控电路300电性相连，其中储存有正 常的阵列型连接器的针脚信息。所述主控电路300将采集到的针脚信息与存储单元400中 正常的针脚信息进行比较，并将比较结果显示在所述显示单元600上提示待测主板上的阵 列型连接器的针脚是否正常。所述开关单元500与主控电路300电性相连，用于向所述主控电路300输入密码并将正常的阵列型连接器的针脚信息储存到存储单元400内。请参阅图2，所述数据采集电路200包括一复杂可编程逻辑器件U1、一数据传输连接器jl、一 25M晶振J2、若干N沟道场效应管Q0、Ql Qn及若干电阻。所述复杂可编 程逻辑器件Ul包括若干数据采集引脚Al An、Bl Bru—数据发送引脚Cl、若干时钟引 脚C2、CLKO CLK3、若干程序烧入引脚TDO、TD1、TMS、TCK、控制引脚D1、D2、若干电源引脚 VCCl VCCn及若干接地引脚GNDl GNDn。所述若干数据采集引脚Al An分别经由若 干电阻连接一 3. 3V电源，所述若干数据采集引脚Bl Bn分别经由若干电阻接地。所述数 据传输连接器Jl包括一数据端DATA及一时钟端CLK，所述数据发送引脚Cl和时钟引脚C2 分别连接数据端DATA及时钟端CLK。所述数据采集引脚Al An、Bl Bn分别用以电性 连接待测主板100上的阵列型连接器针脚并采集针脚信息，所述复杂可编程逻辑器件Ul对 采集到的针脚信息进行处理后由数据发送引脚Cl输出。所述晶振J2包括一振荡信号输出 端OUT，所述时钟引脚CLKO CLK3连接振荡信号输出端OUT。所述控制引脚D1、D2分别连 接场效应管QO的栅极和源极，所述场效应管QO的漏极连接所述3. 3V电源。所述若干数据 采集引脚Bl Bn还分别连接相应的场效应管Ql Qn的源极，所述场效应管Ql Qn的 栅极和漏极连接所述3. 3V电源。所述复杂可编程逻辑器件Ul通过控制场效应管Q0、Q1 Qn的导通和截止对与所述阵列型连接器针脚相连接的电子元件充电和放电，从而获得连接 器针脚的焊点信息。所述若干电源引脚VCCl VCCn连接所述3. 3V电源，所述若干接地引 脚GNDl GNDn接地。请参阅图3，所述主控电路300包括一微控制器U2及一功率场效应管Q10。所述 微控制器U2包括若干数据输入引脚H1、H2、F0 Fru控制引脚G1、G4、一数据接收引脚G2、 一时钟引脚G3、振荡信号输入端OSCl、振荡信号输出端0SC2及若干数据输出引脚El En。 所述功率场效应管QlO包括一栅极G、若干源极Sl S3及若干漏极Dl D4。所述控制引 脚Gl连接功率场效应管QlO的栅极G和源极Sl S3。所述数据接收引脚G2和时钟引脚 G3连接连接功率场效应管QlO的若干漏极Dl D4。所述微控制器U2通过控制功率场效 应管QlO的导通和截止对复杂可编程逻辑器件Ul放电和上电，避免在所述复杂可编程逻辑 器件Ul在和阵列型连接器的针脚热插拔过程中烧坏复杂可编程逻辑器件Ul。所述振荡信 号输入端OSCl和振荡信号输出端0SC2经由一 12M晶振J4接地。所述数据接收引脚G2和 时钟引脚G3还分别连接数据传输连接器Jl的数据端DATA和时钟端CLK。所述存储单元400包括一电可擦可编程只读存储器U3及一跳帽J3。所述电可擦 可编程只读存储器U3包括一串行时钟引脚SCL、一串行数据引脚SDA及一写保护引脚WP。 所述数据输入引脚HI、H2分别连接串行时钟引脚SCL和串行数据引脚SDA，所述写保护引 脚WP经由所述跳帽J3接地。所述电可擦可编程只读存储器U3中储存有正常的阵列型连 接器的针脚信息，当断开所述跳帽J3时可对电可擦可编程只读存储器U3进行写入信息的 操作，而当短接所述跳帽J3时可对电可擦可编程只读存储器U3进行擦除信息的操作。所述开关单元500包括若干开关SO Sn，所述微控制器U2的数据输入引脚FO Fn分别连接若干开关SO Sn。所述开关单元500用于向主控电路300输入密码并将正常 的阵列型连接器的针脚信息储存到所述存储单元400内。其中开关SO为复位开关，用于复 位开关单元500的密码。所述显示单元600包括一液晶显示面板J5及一场效应管Q20。所述液晶显示面板J5包括若干数据总线引脚DBl DBn及一背光控制引脚LEDK，所述数据输出引脚El En 分别连接若干数据总线引脚DBl DBn，所述控制引脚G4经由所述场效应管Q20连接背光 控制引脚LEDK。所述显示单元600接收来自主控电路300的比较结果，并将比较结果显示 在液晶显示面板J5上提示待测主板100上的阵列型连接器的针脚是否正常。其中控制引 脚G4通过所述场效应管Q20控制显示单元600的背光显示。测试时，按照图1 3所示将待测主板接入本专利技术阵列型连接器测试装置 ，所述复 杂可编程逻辑器件Ul的数据采集引脚Al An、Bl Bn分别采集待测主板100上的阵列 型连接器针脚信息，所述复杂可编程逻辑器件Ul对采集到的针脚信息进行处理后由数据 发送引脚Cl经由微控制器U2的数据接收引脚G2发送给所述微控制器U2。所述微控制器 U2将接收到的针脚信息与储存在存储单元400中正常的针脚信息进行比较，本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种阵列型连接器测试装置，用于对一待测主板上的至少一阵列型连接器进行测试，包括一数据采集电路、一主控电路、一存储单元及一显示单元，所述数据采集电路采集待测主板上的阵列型连接器的针脚信息，并将采集到的针脚信息传送给所述主控电路，所述存储单元和主控电路电性相连，其中储存有正常的阵列型连接器的针脚信息，所述主控电路将采集到的针脚信息与存储单元中正常的针脚信息进行比较，并将比较结果显示在所述显示单元上提示待测主板上的阵列型连接器的针脚是否正常。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈仰新，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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