【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体芯片外观检测装置设计领域，特别涉及一种半导体外观检测设备缓存堆栈装置。
技术介绍
1、半导体芯片需要完成外观检测如缺陷检测等，在相关技术中半导体芯片外观检测设备大多采用堆叠式收料结构，根据检测传感器高度位置设置堆叠高度，达到堆叠高度后设备会报警停机，提示操作人员及时收取产品。
2、然而该结构存在堆叠高度限制，收料数量有限，需要操作人员频繁收取产品，无法实现固定料盘数量的产品分垛及添加盖盘功能。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种半导体外观检测设备缓存堆栈装置，解决相关技术中堆叠式收料机构存在的上述问题。所述技术方案如下：
2、本专利技术提供了一种半导体外观检测设备缓存堆栈装置，所述装置包括：缓存轨道、良品收料机构和plc控制部分；
3、所述缓存轨道与所述良品收料机构配合使用搬运抓手，所述缓存轨道用于缓存良品，所述良品收料机构用于通过所述搬运抓手伸缩收取所述良品；
4、所述plc控制部分用于所述缓存轨道和所述良品收料机构之间的通讯交互与机械结构运行控制。
5、可选的，所述良品收料机构包括伸缩皮带轮机构、收料平台以及控制伺服电机。
6、可选的，所述缓存轨道设有皮带输送线，所述皮带输送线的皮带通过所述控制伺服电机连接皮带轮来控制所述缓存轨道上的tray盘进行前后移动。
7、可选的，所述良品收料机构还设有传感器实现所述缓存轨道上所述tray盘的位置定位与安全监控。
8、可
9、可选的，所述plc控制部分配置控制按钮，所述控制按钮用于触发后发出收取良品的操作命令。
10、可选的，所述缓存轨道的缓存容量满足缓存4捆tray盘，每捆不超过11盘tray盘。
11、可选的，所述装置配合安装在检测设备的末端位置，所述装置与检测设备实现动力传输及通讯交互。
12、可选的，所述装置还包括护罩、升降气缸、移栽模组和缓存流水线，其中，所述升降气缸用于控制顶出机构伸缩以便于操作人员拿取，所述移栽模组控制所述皮带输送线运动，所述缓存流水线控制所述护罩内传送带运动；所述顶出机构位于所述移栽模组前端。
13、可选的，所述装置还包括第一对射传感器、第二对射传感器、齿轮传动结构、出料移栽模组、第一传感器、第二传感器，所述第一传感器用于检测所述顶出机构伸缩空间有无干涉起到保护作用，所述第二传感器检测所述顶出机构有无产品，所述第一对射传感器和所述第二对射传感器检查产品是否运行到位，所述齿轮传动结构控制皮带运动。
14、本申请至少带来的技术效果如下。
15、本专利技术公开了一种半导体外观检测设备缓存堆栈装置，涉及半导体封装行业硬件装置
，装置包括缓存轨道、良品收料机构和plc控制部分。通过设计缓存轨道增加设备的良品缓存功能，解决操作员人员需要频繁收料的问题，降低人机配比，起到节约人力成本的目的，还为自动对接打包设备预留了窗口，提高了自动化程度；此外，配合plc控制部分实现便捷操控。
【技术保护点】
1.一种半导体外观检测设备缓存堆栈装置，其特征在于，所述装置包括：缓存轨道、良品收料机构和PLC控制部分；
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述良品收料机构包括伸缩皮带轮机构、收料平台以及控制伺服电机。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述缓存轨道设有皮带输送线，所述皮带输送线的皮带通过所述控制伺服电机连接皮带轮来控制所述缓存轨道上的Tray盘进行前后移动。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述良品收料机构还设有传感器实现所述缓存轨道上所述Tray盘的位置定位与安全监控。
5.根据权利要求1至4任一所述的装置，其特征在于，所述PLC控制部分与所述控制伺服电机交互来进行机械结构运行控制，所述机械结构运行控制包括将所述良品搬运到所述缓存轨道。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述PLC控制部分配置控制按钮，所述控制按钮用于触发后发出收取良品的操作命令。
7.根据权利要求1至4任一所述的装置，其特征在于，所述缓存轨道的缓存容量满足缓存4捆Tray盘，每捆不超过11盘Tray盘
8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置配合安装在检测设备的末端位置，所述装置与检测设备实现动力传输及通讯交互。
9.根据权利要求3或4任一所述的装置，其特征在于，所述装置还包括护罩、升降气缸、移栽模组和缓存流水线，其中，所述升降气缸用于控制顶出机构伸缩以便于操作人员拿取，所述移栽模组控制所述皮带输送线运动，所述缓存流水线控制所述护罩内传送带运动；所述顶出机构位于所述移栽模组前端。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括第一对射传感器、第二对射传感器、齿轮传动结构、出料移栽模组、第一传感器、第二传感器，所述第一传感器用于检测所述顶出机构伸缩空间有无干涉起到保护作用，所述第二传感器检测所述顶出机构有无产品，所述第一对射传感器和所述第二对射传感器检查产品是否运行到位，所述齿轮传动结构控制皮带运动。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体外观检测设备缓存堆栈装置，其特征在于，所述装置包括：缓存轨道、良品收料机构和plc控制部分；
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述良品收料机构包括伸缩皮带轮机构、收料平台以及控制伺服电机。
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述缓存轨道设有皮带输送线，所述皮带输送线的皮带通过所述控制伺服电机连接皮带轮来控制所述缓存轨道上的tray盘进行前后移动。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述良品收料机构还设有传感器实现所述缓存轨道上所述tray盘的位置定位与安全监控。
5.根据权利要求1至4任一所述的装置，其特征在于，所述plc控制部分与所述控制伺服电机交互来进行机械结构运行控制，所述机械结构运行控制包括将所述良品搬运到所述缓存轨道。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述plc控制部分配置控制按钮，所述控制按钮用于触发后发出收取良品的操作命令。
7.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘红波，付志杰，
申请(专利权)人：天水华天科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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