System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种半导体测试文件的解析方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸_技高网

一种半导体测试文件的解析方法、装置、电子设备及介质制造方法及图纸

技术编号:43586246 阅读:6 留言:0更新日期:2024-12-06 17:49
本申请提供了一种半导体测试文件的解析方法、装置、电子设备及介质,该方法包括:按照信息提取规则,从原始公共基础信息中提取目标公共基础信息;根据测试项名称确定规则、测试项信息中各测试项编号对应的所有原始测试项名称,确定各测试项编号对应的目标测试项名称;根据目标公共基础信息、各测试项编号对应的目标测试项名称分别对待解析半导体测试文件中的原始公共基础信息、原始测试项名称进行修正,得到目标半导体测试数据。通过本申请的方法,能够从半导体测试文件中解析半导体测试数据,提高了解析得到的半导体测试数据的准确率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体测试,具体而言,涉及一种半导体测试文件的解析方法、装置、电子设备及介质


技术介绍

1、在半导体测试领域,测试机台会运行编写好的测试程序对半导体进行流程化的测试。测试程序会生成相应格式的半导体测试文件,去记录本次测试的芯片的公共基础信息及各芯片的测试信息。

2、由于测试机和测试程序多种多样,因此半导体测试文件中写入的公共基础信息和测试项信息并不标准,导致从半导体测试文件中解析得到的半导体测试数据并不准确。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请的目的在于提供一种半导体测试文件的解析方法、装置、电子设备及介质,能够从半导体测试文件中解析半导体测试数据,提高了解析得到的半导体测试数据的准确率。

2、第一方面,本申请实施例提供了一种半导体测试文件的解析方法,该半导体测试文件的解析方法包括:

3、获取待解析半导体测试文件中的原始公共基础信息和原始测试项信息,以及待解析半导体测试文件对应的预设的信息提取规则和测试项名称确定规则;原始测试项信息中包括测试项编号以及对应的原始测试项名称;

4、按照信息提取规则,从原始公共基础信息中提取目标公共基础信息;

5、根据测试项名称确定规则、测试项信息中各测试项编号对应的所有原始测试项名称,确定各测试项编号对应的目标测试项名称;

6、根据目标公共基础信息、各测试项编号对应的目标测试项名称分别对待解析半导体测试文件中的原始公共基础信息、原始测试项名称进行修正,得到目标半导体测试数据。

7、在一种可能的实施方式中,原始公共基础信息包括原始物料编号和除所述原始物料编号以外的其他原始公共基础信息,信息提取规则包括物料编号提取规则和其他公共基础信息提取规则,获取待解析半导体测试文件对应的预设的信息提取规则,包括:

8、获取待解析半导体测试文件对应的文件来源信息;

9、将与文件来源信息对应的物料编号提取规则确定为待解析半导体测试文件对应的物料编号提取规则;

10、按照物料编号提取规则从原始物料编号中提取目标物料编号;

11、将与文件来源信息和目标物料编号对应的其他公共基础信息提取规则,确定为待解析半导体测试文件对应的其他公共基础信息提取规则。

12、在一种可能的实施方式中,该方法还包括:

13、获取用户发起的物料编号提取规则配置请求;物料编号提取规则配置请求中包括待配置文件来源信息和待配置物料编号提取规则;

14、将待配置物料编号提取规则确定为与待配置文件来源信息对应半导体测试文件的物料编号提取规则。

15、在一种可能的实施方式中,该方法还包括:

16、获取用户发起的其他公共基础物料编号提取规则配置请求;其他公共基础物料编号提取规则配置请求中包括待配置文件来源信息、待配置物料编号和待配置其他公共基础信息提取规则;

17、将待配置其他公共基础信息提取规则,确定为待配置文件来源信息下待配置物料编号对应的半导体测试文件的其他公共基础信息提取规则。

18、在一种可能的实施方式中,获取待解析半导体测试文件中的原始测试项信息,包括:

19、获取待解析半导体测试文件中所有测试项信息;

20、对待解析半导体测试文件中所有测试项信息进行去重,得到原始测试项信息。

21、在一种可能的实施方式中,根据目标公共基础信息、各测试项编号对应的目标测试项名称分别对待解析半导体测试文件中的原始公共基础信息、原始测试项名称进行修正,得到目标半导体测试数据,包括:

22、将目标公共基础信息添加到半导体测试文件中,或将待解析半导体测试文件中的原始公共基础信息修改为目标公共基础信息,得到初始半导体测试文件;

23、将待解析半导体测试文件中的各测试项编号对应的原始测试项名称,修改为各测试项编号对应的目标测试项名称,得到目标半导体测试文件;

24、将目标半导体测试文件中的数据确定为目标半导体测试数据。

25、在一种可能的实施方式中,该方法还包括:

26、将目标半导体测试数据存储到目标文件或目标数据库表中;目标文件和目标数据库表用于存储所有解析得到的半导体测试数据。

27、第二方面,本申请实施例还提供了一种半导体测试文件的解析装置,该半导体测试文件的解析装置包括:

28、获取模块,用于获取待解析半导体测试文件中的原始公共基础信息和原始测试项信息,以及待解析半导体测试文件对应的预设的信息提取规则和测试项名称确定规则;原始测试项信息中包括测试项编号以及对应的原始测试项名称;

29、提取模块,用于按照信息提取规则,从原始公共基础信息中提取目标公共基础信息;

30、确定模块,用于根据测试项名称确定规则、测试项信息中各测试项编号对应的所有原始测试项名称,确定各测试项编号对应的目标测试项名称;

31、修正模块,用于根据目标公共基础信息、各测试项编号对应的目标测试项名称分别对待解析半导体测试文件中的原始公共基础信息、原始测试项名称进行修正,得到目标半导体测试数据。

32、在一种可能的实施方式中,原始公共基础信息包括原始物料编号和除所述原始物料编号以外的其他原始公共基础信息,信息提取规则包括物料编号提取规则和其他公共基础信息提取规则,获取模块,具体用于获取待解析半导体测试文件对应的文件来源信息;将与文件来源信息对应的物料编号提取规则确定为待解析半导体测试文件对应的物料编号提取规则;按照物料编号提取规则从原始物料编号中提取目标物料编号;将与文件来源信息和目标物料编号对应的其他公共基础信息提取规则,确定为待解析半导体测试文件对应的其他公共基础信息提取规则。

33、在一种可能的实施方式中,获取模块,还用于获取用户发起的物料编号提取规则配置请求;物料编号提取规则配置请求中包括待配置文件来源信息和待配置物料编号提取规则;

34、确定模块,还用于将待配置物料编号提取规则确定为与待配置文件来源信息对应半导体测试文件的物料编号提取规则。

35、在一种可能的实施方式中,获取模块,还用于获取用户发起的其他公共基础物料编号提取规则配置请求;其他公共基础物料编号提取规则配置请求中包括待配置文件来源信息、待配置物料编号和待配置其他公共基础信息提取规则;

36、确定模块,还用于将待配置其他公共基础信息提取规则,确定为待配置文件来源信息下待配置物料编号对应的半导体测试文件的其他公共基础信息提取规则。

37、在一种可能的实施方式中,获取模块,具体用于获取待解析半导体测试文件中所有测试项信息;对待解析半导体测试文件中所有测试项信息进行去重,得到原始测试项信息。

38、在一种可能的实施方式中,修正模块,具体用于将目标公共基础信息添加到半导体测试文件中,或将待解析半导体测试文件中的原始公共基础信息修改为目标公共基础信息,得到初始半导体本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体测试文件的解析方法,其特征在于,所述半导体测试文件的解析方法包括:

2.根据权利要求1所述的半导体测试文件的解析方法,其特征在于,所述原始公共基础信息包括原始物料编号和除所述原始物料编号以外的其他原始公共基础信息,所述信息提取规则包括物料编号提取规则和其他公共基础信息提取规则,所述获取所述待解析半导体测试文件对应的预设的信息提取规则,包括:

3.根据权利要求2所述的半导体测试文件的解析方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求2所述的半导体测试文件的解析方法,其特征在于,所述方法还包括:

5.根据权利要求1所述的半导体测试文件的解析方法,其特征在于,获取待解析半导体测试文件中的原始测试项信息,包括:

6.根据权利要求1所述的半导体测试文件的解析方法,其特征在于,所述根据所述目标公共基础信息、各测试项编号对应的目标测试项名称分别对所述待解析半导体测试文件中的所述原始公共基础信息、所述原始测试项名称进行修正,得到目标半导体测试数据,包括:

7.根据权利要求1或6所述的半导体测试文件的解析方法,其特征在于,所述方法还包括:

8.一种半导体测试文件的解析装置,其特征在于,所述半导体测试文件的解析装置包括:

9.一种电子设备,其特征在于,包括:处理器、存储介质和总线,所述存储介质存储有所述处理器可执行的机器可读指令,当电子设备运行时,所述处理器与所述存储介质之间通过总线通信,所述处理器执行所述机器可读指令,以执行如权利要求1至7任一项所述的半导体测试文件的解析方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器运行时执行如权利要求1至7任一项所述的半导体测试文件的解析方法的步骤。

...

【技术特征摘要】

1.一种半导体测试文件的解析方法,其特征在于,所述半导体测试文件的解析方法包括:

2.根据权利要求1所述的半导体测试文件的解析方法,其特征在于,所述原始公共基础信息包括原始物料编号和除所述原始物料编号以外的其他原始公共基础信息,所述信息提取规则包括物料编号提取规则和其他公共基础信息提取规则,所述获取所述待解析半导体测试文件对应的预设的信息提取规则,包括:

3.根据权利要求2所述的半导体测试文件的解析方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求2所述的半导体测试文件的解析方法,其特征在于,所述方法还包括:

5.根据权利要求1所述的半导体测试文件的解析方法,其特征在于,获取待解析半导体测试文件中的原始测试项信息,包括:

6.根据权利要求1所述的半导体测试文件的解析方法,其特征在于,所述根据所述目标公共基础信息、各测试项编号...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈紫钱大君周浩
申请(专利权)人:上海孤波科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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