【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体测试设备，尤其涉及一种半导体测试用底座。
技术介绍
1、半导体(semiconductor)，指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用，例如二极管、三极管就是采用半导体制作的器件。
2、但现有的三极管在进行检测时，还存在以下问题：
3、传统的三级管在进行检测时，通常利用数字万用表对三极管的三个引脚进行两两检测，但三极管的引脚较为细小，检测时容易对其造成损伤，且与引脚进行连接接触时不太方便，不利于检测的快速的进行，容易影响到检测的工作效率。
4、针对上述问题，本技术文件提出了一种半导体测试用底座。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在对三极管进行检测时容易损伤到引脚，且不方便于引脚进行连接等缺点，而提出的一种半导体测试用底座。
2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
3、一种半导体测试用底座，包括：
4、检测底座，所述检测底座内设置有数字万用表，所述检测底座的一侧设置有多个检测线材接口，多个所述检测线材接口能够连接相应的检测线材，所述检测底座的顶部固定安装有连接盒，所述连接盒的顶部固定安装有固定座，所述固定座的顶部开设三个引脚插孔，所述固定座的顶部插接有三极管；
5、检测组件，所述检测组件用于方便用户对三极管的多个引脚进行接触检测。
6、在一种可能的设计
7、在一种可能的设计中，所述检测组件包括固定安装于检测底座顶部的三个固定块，三个所述固定块的顶部均固定安装有金属触片，三个所述固定块固定贯穿有同一个线束，所述线束为三个导线组合而成，所述线束的一端分别与三个金属触片电性连接，线束的另一端分别与相应的弹性导电触片电性连接。
8、在一种可能的设计中，所述检测组件还包括滑动连接于检测底座顶部的两个滑动座，两个所述滑动座分别位于多个金属触片的两侧，所述滑动座的内壁滑动连接有升降块，所述升降块的底部固定安装有压簧，所述压簧的另一端与滑动座的底部内壁固定连接，所述升降块的顶部固定安装有夹持块，所述夹持块的顶部开设有凹槽，所述夹持块通过凹槽卡合连接有安装头，所述安装头的一端固定安装有金属检测头，所述安装头的另一端固定连接有检测线材，所述检测线材的另一端通过连接头与相应的检测线材接口相配合，所述金属检测头与检测线材相连通，所述金属检测头与金属触片相配合，能够方便用户对三极管的相应引脚进行检测。
9、在一种可能的设计中，两个所述升降块的一侧均固定安装有铁皮板，所述检测底座的顶部固定安装有多个磁铁，多个所述磁铁均与金属触片相对应，所述铁皮板与磁铁磁性配合，能够自动完成对升降块的下压，便于完成金属检测头与金属触片的接触。
10、在一种可能的设计中，所述夹持块的凹槽两侧内壁均固定安装有卡块，所述安装头通过卡槽与卡块滑动连接，所述卡块可提高夹持块对安装头的固定效果，可保证检测时金属检测头与金属触片的接触效果较好。
11、在一种可能的设计中，所述检测底座的顶部固定安装有显示屏，所述显示屏与数字万用表电性连接，所述显示屏用于对检测数值进行显示，便于用户进行检测结果的判断，所述检测底座的一侧转动设置有调节旋钮，所述调节旋钮能够方便对数字万用表进行调节。
12、本申请中，使用时，接通电源，用户可直接将待检测的三极管插在固定座的上方，此时三极管的三个引脚能够分别与连接盒内的三个弹性导电触片进行接触，接着用户可将两根检测线材分别接在相应的检测线材接口上，并将安装有安装头的一端卡合安装在两个夹持块上，至此便完成了检测前的准备；检测时，用户可推动滑动座进行移动，当滑动座移动至任意一个金属触片的侧面时，此时铁皮板会被相应的磁铁吸引，并牵引升降块完成下压，使得金属检测头与相邻的金属触片相接触，以此完成对引脚的检测，通过使金属触片与引脚电性连接，可增大检测面积，方便检测的进行，同时还不易损坏引脚，使用效果较好，且当用户需要改变检测的引脚时，只需要推动滑动座，使铁皮板与磁铁分离即可，操作简单；按照上述操作，用户可移动两侧的滑动座，并依次对任意两个引脚完成检测，通过观察显示屏中显示的读数，可判断三极管的质量是否合格，检测操作简单，能够有效提高工作效率。
13、本技术中，所述一种半导体测试用底座，通过设置有连接盒和固定座，可直接对三极管进行插接固定，方便进行安装，同时固定后的三极管可将其引脚分别连接至三个金属触片，能够以金属触片代替引脚进行检测，增大了检测的检接触面积，同时在检测时不易对引脚造成损伤，方便了检测的进行，便于用户进行使用；
14、本技术中，所述一种半导体测试用底座，通过检测组件，可利用移动座与夹持块对两个金属检测头进行安装，便于移动调节，可方便完成金属检测头与金属触片的接触，并且还设置有相应的磁铁，可在相应的位置自动完成金属检测头与金属触片的接触，接触效果好，便于检测的进行；
15、本技术中，该半导体测试用底座可直接对三极管进行插接固定，方便进行安装，同时固定后的三极管可将其引脚分别连接至三个金属触片，能够以金属触片代替引脚进行检测，增大了检测的接触面积，同时在检测时不易对引脚造成损伤，方便了检测的进行，便于用户进行使用，同时还可利用移动座与夹持块对两个金属检测头进行安装，便于移动调节，可方便完成金属检测头与金属触片的接触，并且还设置有相应的磁铁，可在相应的位置自动完成金属检测头与金属触片的接触，接触效果好，便于检测的进行。
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1.一种半导体测试用底座，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试用底座，其特征在于，所述检测组件包括固定安装于检测底座(1)顶部的三个固定块(8)，三个所述固定块(8)的顶部均固定安装有金属触片(9)，三个所述固定块(8)固定贯穿有同一个线束(10)，所述线束(10)为三个导线组合而成，所述线束(10)的一端分别与三个金属触片(9)电性连接，线束(10)的另一端分别与相应的弹性导电触片(12)电性连接。
3.根据权利要求2所述的一种半导体测试用底座，其特征在于，所述检测组件还包括滑动连接于检测底座(1)顶部的两个滑动座(13)，两个所述滑动座(13)分别位于多个金属触片(9)的两侧，所述滑动座(13)的内壁滑动连接有升降块(15)，所述升降块(15)的底部固定安装有压簧(14)，所述压簧(14)的另一端与滑动座(13)的底部内壁固定连接，所述升降块(15)的顶部固定安装有夹持块(17)，所述夹持块(17)的顶部开设有凹槽，所述夹持块(17)通过凹槽卡合连接有安装头(18)，所述安装头(18)的一端固定安装有金属检测头(19)，所述安装头
4.根据权利要求3所述的一种半导体测试用底座，其特征在于，两个所述升降块(15)的一侧均固定安装有铁皮板(16)，所述检测底座(1)的顶部固定安装有多个磁铁(11)，多个所述磁铁(11)均与金属触片(9)相对应，所述铁皮板(16)与磁铁(11)磁性配合，能够自动完成对升降块(15)的下压，便于完成金属检测头(19)与金属触片(9)的接触。
5.根据权利要求3所述的一种半导体测试用底座，其特征在于，所述夹持块(17)的凹槽两侧内壁均固定安装有卡块(20)，所述安装头(18)通过卡槽与卡块(20)滑动连接，所述卡块(20)可提高夹持块(17)对安装头(18)的固定效果，可保证检测时金属检测头(19)与金属触片(9)的接触效果较好。
6.根据权利要求1所述的一种半导体测试用底座，其特征在于，所述检测底座(1)的顶部固定安装有显示屏(2)，所述显示屏(2)与数字万用表电性连接，所述显示屏(2)用于对检测数值进行显示，便于用户进行检测结果的判断，所述检测底座(1)的一侧转动设置有调节旋钮(3)，所述调节旋钮(3)能够方便对数字万用表进行调节。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体测试用底座，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试用底座，其特征在于，所述检测组件包括固定安装于检测底座(1)顶部的三个固定块(8)，三个所述固定块(8)的顶部均固定安装有金属触片(9)，三个所述固定块(8)固定贯穿有同一个线束(10)，所述线束(10)为三个导线组合而成，所述线束(10)的一端分别与三个金属触片(9)电性连接，线束(10)的另一端分别与相应的弹性导电触片(12)电性连接。
3.根据权利要求2所述的一种半导体测试用底座，其特征在于，所述检测组件还包括滑动连接于检测底座(1)顶部的两个滑动座(13)，两个所述滑动座(13)分别位于多个金属触片(9)的两侧，所述滑动座(13)的内壁滑动连接有升降块(15)，所述升降块(15)的底部固定安装有压簧(14)，所述压簧(14)的另一端与滑动座(13)的底部内壁固定连接，所述升降块(15)的顶部固定安装有夹持块(17)，所述夹持块(17)的顶部开设有凹槽，所述夹持块(17)通过凹槽卡合连接有安装头(18)，所述安装头(18)的一端固定安装有金属检测头(19)，所述安装头(18)的另一端固定连接有检测线材，所述检测线材的另一端通过连接头与相应的检测线材接口(4)相配合，所述金属检测...
【专利技术属性】
技术研发人员：张凯川，
申请(专利权)人：深圳市盟科电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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