【技术实现步骤摘要】
本公开涉及化学成分检测的，特别是涉及一种降低发泡件三乙烯二胺含量的方法及其测试方法。
技术介绍
1、三乙烯二胺teda主要用作聚氨酯的催化剂、制取聚氨酯类泡沫塑料的催化剂和石油添加剂，teda为碱性，teda广泛用于聚氨酯泡沫、弹性体与塑料制品及成型工艺。
2、teda在常温中容易产生升华，当teda挥发后的蒸气对眼睛、鼻孔、咽喉和呼吸器官有刺激性，由于teda是过敏原，可能引起过敏和哮喘，并能引起疼痛，从而影响人体健康。目前在纺织品行业生产聚氨酯发泡件过程中，仅将teda做为高关注的有害物质，生产聚氨酯发泡件的过程中缺少降低聚氨酯发泡件中有害物质teda含量的方法。
3、例如对比文件cn202210791231.3公开了一种聚氨酯乳胶、其制备方法及应用，该方案提供的一种聚氨酯乳胶的制备方法通过在乳化前加入三元异氰酸酯，在后续乳化过程中，在乳化的同时预聚体中可以和三乙烯四胺交联形成网状结构，且交联程度被乳化反应控制，从而可以明显提高聚氨酯的内聚力，并兼顾柔韧性。但在生产聚氨酯乳胶后，由于聚氨酯乳胶内部残留的teda未完全去除，在使用过程中teda产生挥发，挥发的teda作为过敏原对人体健康造成伤害。
技术实现思路
1、本公开的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种有效降低发泡件teda含量的方法及其测试方法。
2、本公开的目的是通过以下技术方案来实现的：
3、一种降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，包括如下步骤：
4、一种降
5、提供含teda的发泡件；
6、采用液态水作为清洗介质，在25℃-60℃清洗温度下对所述含teda的发泡件进行清洗操作，得到含teda的发泡件前驱体；
7、将所述含teda的发泡件前驱体置入至100℃-160℃的烘烤温度下，对所述含teda的发泡件前驱体进行烘烤操作，得到超低含teda的发泡件或不含teda的发泡件。
8、在其中一个实施例中，对所述含teda的发泡件进行清洗操作，包括将所述含teda的发泡件放置在水洗池内进行浸泡。
9、在其中一个实施例中，所述含teda的发泡件在水洗池内的浸泡时间为5min-10min。
10、在其中一个实施例中，对所述含teda的发泡件放置在水洗池内进行浸泡之后，还包括如下步骤：
11、对所述含teda的发泡件进行超声波清洗。
12、在其中一个实施例中，所述超声波清洗的清洗时间为5min-10min。
13、在其中一个实施例中，对所述含teda的发泡件进行超声波清洗之后，还包括如下步骤：
14、对所述含teda的发泡件进行冲刷，将超声波清洗后的所述含teda的发泡件放置在冲洗池内通过液态水进行冲刷。
15、在其中一个实施例中，所述烘烤操作包括将所述含teda的发泡件放置在烘箱内进行烘烤，烘烤结束后取出所述含teda的发泡件。
16、在其中一个实施例中，对所述含teda的发泡件进行清洗操作之后，对所述含teda的发泡件前驱体进行烘烤操作之前还包括如下步骤：
17、对所述烘箱进行预热，使得烘箱温度达到预设的烘烤温度。
18、在其中一个实施例中，所述烘烤操作的烘烤时间的2min-30min。
19、一种降低发泡件三乙烯二胺含量的测试方法，包括上述任一实施例所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，还包括teda前测步骤及后测步骤，所述前测步骤为对含teda的发泡件进行检测，得到清洗前测teda含量，
20、所述后测步骤为对含teda的发泡件前驱体进行检测，得到清洗后测teda含量，对超低含teda的发泡件进行检测，得到烘烤后测teda含量；
21、当所述清洗前测teda含量大于0，且所述清洗后测teda含量在清洗前测teda含量基础上降低10％以上，则认为含teda的发泡件前驱体teda含量得到降低；当所述清洗前测teda含量大于0，且所述烘烤后测teda含量小于1mg/kg，则认为超低含量的发泡件teda含量为超低含量；当所述清洗前测teda含量大于0，且所述烘烤后测teda含量未检出时，则认为超低含teda的发泡件teda含量最少。
22、与现有技术相比，本公开至少具有以下优点：
23、上述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法及其测试方法，通过对含teda的发泡件清洗操作，使得得到含teda的发泡件前驱体的含量减少，再对含teda的发泡件前驱体进行烘烤操作，使得含teda的发泡件前驱体内的水分干燥，避免得到超低含teda的发泡件残留水分潮湿，超低含teda的发泡件在烘烤的过程中teda受热挥发，进一步有效地去除teda的含量，从而避免了teda挥发后对人体健康的影响。
24、通过对清洗后测teda含量与清洗前测teda含量进行对比，可直观的反应清洗操作有效地降低了含teda发泡件的teda含量；通过对烘烤后测teda含量与清洗后测teda含量进行对比，可直观的反应烘烤操作有效地降低了含teda的发泡件的teda含量，且经过清洗操作及烘烤操作后，发泡件的teda含量较低。开发lcmsms法对发泡件中的teda进行含量测定，通过液相色谱串联质谱仪对发泡件的teda进行检测，使得液相色谱串联质谱仪在1min内快速出峰，完成1个发泡件的样品上机测试仅需5min，大大缩短了检测发泡件的teda含量的时间。
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1.一种降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，对所述含TEDA的发泡件进行清洗操作，包括往水洗池注入液态水，将所述含TEDA的发泡件放置在水洗池内进行浸泡水洗。
3.根据权利要求1所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，所述含TEDA的发泡件在水洗池内的浸泡时间为5min-10min。
4.根据权利要求2所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，对所述含TEDA的发泡件放置在水洗池内进行浸泡之后，还包括如下步骤：
5.根据权利要求4所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，所述超声波清洗的清洗时间为5min-10min。
6.根据权利要求4所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，对含TEDA的发泡件进行超声波清洗之后，还包括如下步骤：
7.根据权利要求1所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，所述烘烤操作包括将所述含TEDA的发泡件放置在烘箱内进行烘烤，烘烤结束后取出所述含T
8.根据权利要求7所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，对所述含TEDA的发泡件进行清洗操作之后，对所述含TEDA的发泡件前驱体进行烘烤操作之前还包括如下步骤：
9.根据权利要求1所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，所述烘烤操作的烘烤时间的2min-30min。
10.一种降低发泡件三乙烯二胺含量的测试方法，包括如权利要求1至9中任一所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，还包括TEDA前测步骤及后测步骤，
...【技术特征摘要】
1.一种降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，对所述含teda的发泡件进行清洗操作，包括往水洗池注入液态水，将所述含teda的发泡件放置在水洗池内进行浸泡水洗。
3.根据权利要求1所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，所述含teda的发泡件在水洗池内的浸泡时间为5min-10min。
4.根据权利要求2所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，对所述含teda的发泡件放置在水洗池内进行浸泡之后，还包括如下步骤：
5.根据权利要求4所述的降低发泡件三乙烯二胺含量的方法，其特征在于，所述超声波清洗的清洗时间为5min-10min。
6.根据权利要求4所述的降低发泡件三乙烯二胺...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘慧，梁庄宝，吴成琴，方同兴，
申请(专利权)人：深圳市艾溹技术研究有限公司，
类型：发明
国别省市：
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