【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于集成电路，具体涉及一种负压检测电路。
技术介绍
1、随着功率器件在集成电路领域内的快速发展，开关电路的设计也越来越朝着高鲁棒性、低功耗以及可以快速响应的方向发展。
2、在开关电路中，有时功率管栅极需要负压工作，为保证功率管有足够的驱动能力且不影响电路的整体工作性能，需要检测栅极电压的大小，同时为降低成本，减小芯片的整体工作电流，需要该检测电路的静态功耗可以越低越好。此外，在某些ldo芯片中，也会采取检测输入负压来进入某些特殊的测试模式，对芯片进行测试或其他的功能操作，在一些低功耗的ldo正常工作过程中，会希望该部分检测电路不消耗电流。
3、因此，针对上述技术问题，有必要提供一种负压检测电路。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种负压检测电路，其能够解决负压检测精度低、检测电路静态功耗大、检测速度慢、电路面积大的问题。
2、为了实现上述目的，本专利技术一实施例提供的技术方案如下：
3、一种负压检测电路，所述电路包括使能模块、比较模块和整形模块；其中，
4、使能模块，包括逻辑单元和开关单元，所述逻辑单元用于根据第一输入信号和第二输入信号产生第一控制信号和第二控制信号以控制开关单元处于第一状态或第二状态；
5、比较模块，连接于电源电压和参考电位之间，且与输入电压和开关单元相连，所述开关单元在第一状态下，所述比较模块不工作，所述开关单元在第二状态下，所述比较模块对输入电压和参考电位进行比较以产生
6、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述比较模块包括第一支路和第二支路；其中，
7、所述第一支路包括分压单元和第三晶体管，所述分压单元连接于输入电压与电源电压之间，所述分压单元包括第一分压节点，所述第三晶体管的第一端与第一分压节点相连，所述第三晶体管的第二端与分压单元相连；
8、所述第二支路包括第四晶体管，所述第四晶体管的第一端与参考电位相连，所述第四晶体管的控制端与第三晶体管的控制端相连，所述第四晶体管的第二端间接与电源电压相连；
9、所述比较模块通过对第一分压节点电压和参考电位进行比较以产生比较信号。
10、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述分压单元包括第一电阻和第三电阻，所述第一电阻的第一端与电源电压相连，所述第一电阻的第二端与第三晶体管的第二端相连，所述第三电阻的第一端与第三晶体管的第一端均与第一分压节点相连，所述第三电阻的第二端用于接收输入电压；所述第二支路包括第二电阻，所述第二电阻的第一端与电源电压相连，所述第二电阻的第二端与第四晶体管的第二端相连；或，
11、所述分压单元包括第一电流源和第三电阻，所述第一电流源的第一端与电源电压相连，所述第一电流源的第二端与第三晶体管的第二端相连，所述第三电阻的第一端与第三晶体管的第一端均与第一分压节点相连，所述第三电阻的第二端用于接收输入电压；所述第二支路包括第二电流源，所述第二电流源的第一端与电源电压相连，所述第二电流源的第二端与第四晶体管的第二端相连。
12、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述开关单元包括第一晶体管和第二晶体管；其中，
13、所述第一晶体管的第一端与第四晶体管的控制端相连，所述第一晶体管的第二端与第四晶体管的第二端相连，所述第一晶体管的控制端接收第一控制信号；
14、所述第二晶体管的第一端与参考电位相连，所述第二晶体管的第二端与第四晶体管的控制端相连，所述第二晶体管的控制端接收第二控制信号。
15、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述比较模块还包括第三支路，所述第三支路包括第五晶体管，所述第五晶体管的第一端与第一分压节点相连，所述第五晶体管的第二端间接与电源电压相连，所述第五晶体管的控制端与第四晶体管的第二端相连。
16、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述分压单元包括第三电阻和第六电阻，所述第六电阻的第一端与电源电压相连，所述第六电阻的第二端与第三晶体管的第二端相连，所述第三电阻的第一端和第三晶体管的第一端均与第一分压节点相连，所述第三电阻的第二端用于接收输入电压；所述第二支路包括第五电阻，所述第五电阻的第一端与电源电压相连，所述第五电阻的第二端与第四晶体管的第二端相连；所述第三支路包括第四电阻，所述第四电阻的第一端与电源电压相连，所述第四电阻的第二端与第五晶体管的第二端相连；或，
17、所述分压单元包括第三电流源和第三电阻，所述第三电流源的第一端与电源电压相连，所述第三电流源的第二端与第三晶体管的第二端相连，所述第三电阻的第一端与第三晶体管的第一端均与第一分压节点相连，所述第三电阻的第二端用于接收输入电压，所述第二支路包括第四电流源，所述第四电流源的第一端与电源电压相连，所述第四电流源的第二端与第四晶体管的第二端相连；所述第三支路包括第四电阻和第五电流源，所述第四电阻的第一端和第五电流源的第一端与电源电压相连，所述第四电阻的第二端和第五电流源的第二端与第五晶体管的第二端相连。
18、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述开关单元包括第六晶体管、第七晶体管和第八晶体管；其中，
19、所述第六晶体管的第一端与第三晶体管的控制端相连，所述第六晶体管的第二端与第三晶体管的第二端相连，所述第六晶体管的控制端用于接收第一控制信号；
20、所述第七晶体管的第一端与参考电位相连，所述第七晶体管的第二端与第四晶体管的控制端相连，所述第七晶体管的控制端用于接收第二控制信号；
21、所述第八晶体管的第一端与第五晶体管的第一端相连，所述第八晶体管的第二端与第五晶体管的控制端相连，第八晶体管的控制端接收第二控制信号。
22、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述第二输入信号为第一输入信号的延迟信号；
23、在第一时段，所述第一输入信号为低电平，所述第二输入信号为低电平，所述第一控制信号为低电平，所述第二控制信号为高电平，所述开关单元在第一状态下，所述比较模块不工作；
24、在第二时段，所述第一输入信号为高电平，所述第二输入信号为低电平，所述第一控制信号为高电平，所述第二控制信号为低电平，所述开关单元在第二状态下，所述比较模块对输入电压和参考电位进行比较以产生比较信号；
25、在第三时段，所述第一输入信号为高电平，所述第二输入信号为高电平，所述第一控制信号为低电平，所述第二控制信号为高电平，所述开关单元在第一状态下，所述比较模块不工作。
26、在本专利技术的一个或多个实施例中，所述逻辑单元包括第一非门、第一与非门、第二与非门和第二非门；其中，
27、所述第一非门的输入端用于接收第二输入信号，所述第一非门的输出端与第一与非门的第一输入端以及第二与非门的第一输入端相连；
28、所述第一与非门的第二输入端用于接收第一输入信号，所述第一与非门的输出端与第二非门的输入端相连，所述第二非门的输出端与比较模块相连并产生第一控制信号；
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【技术保护点】
1.一种负压检测电路，其特征在于，所述电路包括使能模块、比较模块和整形模块；其中，
2.根据权利要求1所述的负压检测电路，其特征在于，所述比较模块包括第一支路和第二支路；其中，
3.根据权利要求2所述的负压检测电路，其特征在于，所述分压单元包括第一电阻和第三电阻，所述第一电阻的第一端与电源电压相连，所述第一电阻的第二端与第三晶体管的第二端相连，所述第三电阻的第一端与第三晶体管的第一端均与第一分压节点相连，所述第三电阻的第二端用于接收输入电压；所述第二支路包括第二电阻，所述第二电阻的第一端与电源电压相连，所述第二电阻的第二端与第四晶体管的第二端相连；或，
4.根据权利要求2所述的负压检测电路，其特征在于，所述开关单元包括第一晶体管和第二晶体管；其中，
5.根据权利要求2所述的负压检测电路，其特征在于，所述比较模块还包括第三支路，所述第三支路包括第五晶体管，所述第五晶体管的第一端与第一分压节点相连，所述第五晶体管的第二端间接与电源电压相连，所述第五晶体管的控制端与第四晶体管的第二端相连。
6.根据权利要求5所述的负压检测电路
7.根据权利要求5所述的负压检测电路，其特征在于，所述开关单元包括第六晶体管、第七晶体管和第八晶体管；其中，
8.根据权利要求1所述的负压检测电路，其特征在于，所述第二输入信号为第一输入信号的延迟信号；
9.根据权利要求1所述的负压检测电路，其特征在于，所述逻辑单元包括第一非门、第一与非门、第二与非门和第二非门；其中，
10.根据权利要求1所述的负压检测电路，其特征在于，所述负压检测电路还包括整形模块，所述整形模块与比较模块相连，用于对比较信号进行整形并产生输出信号。
11.根据权利要求10所述的负压检测电路，其特征在于，所述整形模块包括施密特触发器和反相器，所述施密特触发器的第一端接收比较信号，所述施密特触发器的第二端与反相器的第一端相连，所述反相器的第二端用于产生输出信号。
...【技术特征摘要】
1.一种负压检测电路，其特征在于，所述电路包括使能模块、比较模块和整形模块；其中，
2.根据权利要求1所述的负压检测电路，其特征在于，所述比较模块包括第一支路和第二支路；其中，
3.根据权利要求2所述的负压检测电路，其特征在于，所述分压单元包括第一电阻和第三电阻，所述第一电阻的第一端与电源电压相连，所述第一电阻的第二端与第三晶体管的第二端相连，所述第三电阻的第一端与第三晶体管的第一端均与第一分压节点相连，所述第三电阻的第二端用于接收输入电压；所述第二支路包括第二电阻，所述第二电阻的第一端与电源电压相连，所述第二电阻的第二端与第四晶体管的第二端相连；或，
4.根据权利要求2所述的负压检测电路，其特征在于，所述开关单元包括第一晶体管和第二晶体管；其中，
5.根据权利要求2所述的负压检测电路，其特征在于，所述比较模块还包括第三支路，所述第三支路包括第五晶体管，所述第五晶体管的第一端与第一分压节点相连，所述第五晶体管的第二端间接与电源电压相连，所述第五晶体管的控制端与第四晶体管的第二端相连。
6.根据权利要求5所述的负压检测电路，其特征在于，所述分压单元包括第三电阻和第六电阻，所述第六电阻的第一端与电源电压相连，所述第六电阻的第二...
【专利技术属性】
技术研发人员：李一飞，
申请(专利权)人：思瑞浦微电子科技上海有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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