【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体探针设备，具体为一种半导体探针测试台用探针及其使用方法。
技术介绍
1、半导体探针测试台通常用于对半导体芯片或器件进行测试和分析。而探针则是测试台中的一个重要部分，它主要用于检测半导体芯片中不同电路之间的连接、电阻、电容等参数，具体来说，半导体探针测试台用探针的作用包括，探针可以通过触点与芯片上的电路相连，从而检测电路中的连通性。这有助于确定芯片的结构和功能是否符合设计要求，探针可以测量芯片中不同电路之间的电阻、电容、电感等参数。这有助于评估芯片的性能和质量，并找出可能存在的缺陷，当测试过程中发现芯片出现问题时，探针可以帮助定位故障点。通过比较不同电路的参数，可以找出故障点所在的位置，有助于修复芯片问题。
2、然而，探针的使用需要非常谨慎，因为它们对芯片的触点会产生一定的压力和磨损，如果使用不当可能会对芯片造成损坏，其中，探针分为接收器与感应柱两部分，针对以上问题，提出下列方案。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本专利技术提供一种半导体探针测试台用探针，包括动力机构，动力机构还包括有滑动轨道，滑动轨道的侧壁处固定连接有滑动板，滑动轨道的顶部固定连接有固定板；
2、清洁机构，清洁机构包括固定连接在滑动轨道侧壁处的固定柱，固定柱远离滑动轨道的一端固定连接有清洁底座，清洁底座侧壁通孔内壁处滑动连接有清洁杆；
3、清除机构，清除机构包括滑动连接在滑动板内壁处的控制支架，控制支架的底部固定连接有挤压杆，挤压杆远离控制支架的一端转动
4、优选的，动力机构还包括固定连接在固定板底部的电动伸缩杆，电动伸缩杆远离固定板的一端固定连接有拉扯板，滑动轨道的侧壁处开设有杂料出口，该机构为后续机构提供安装位置，其在运转过程中起到稳定效果，保证设备正常运行，避免出现颠簸等问题。
5、优选的，动力机构还包括开设在杂料出口内壁处的转动孔，滑动轨道的侧壁处固定连接有固定架，拉扯板的外壁处固定连接有设备外壳，设备外壳的内壁与滑动轨道上轨道外壁滑动连接，在电动伸缩杆带动设备外壳向上移动时，设备外壳将受设备外壳的影响向上移动，在设备外壳上移并通过挤压杆带动控制支架上移，控制支架拉扯挤压杆，迫使翘板向下转动，使翘板与清洁底座处于平行状态收集接收器所掉落的杂质，并在电动伸缩杆下压时控制支架下移，并迫使翘板收起，避免翘板影响设备检测，且在翘板收起时，将杂质通过杂料出口向外排出，避免杂质掉落在半导体的表面，影响产品质量，通过上述组件的应用，收集探针清洁所掉落的杂质，避免杂质掉落在后续半导体表面的问题，影响探针的检测效果。
6、优选的，清洁机构还包括固定连接在清洁杆侧壁处的挤压板，挤压板的内壁处转动连接有滚轮，清洁杆的外壁处固定连接有拉扯弹簧，拉扯弹簧远离清洁杆的一端与清洁底座的侧壁固定连接。
7、优选的，清洁机构还包括滑动连接在设备外壳内壁处的拉扯圆板，拉扯圆板的底部固定连接有感应柱，感应柱的外壁与设备外壳上通孔的内壁滑动连接，感应柱远离拉扯圆板的一端固定连接有接收器，拉扯圆板的底部固定连接有复位弹簧，复位弹簧远离拉扯圆板的一端与设备外壳的内壁固定连接，挤压杆远离控制支架的两端与设备外壳的侧壁固定连接，在电动伸缩杆向下按压时，电动伸缩杆通过拉扯板将设备外壳向下推动，此时设备外壳携带拉扯圆板与感应柱向下移动，在接收器与半导体接触时，复位弹簧将吸收设备外壳所产生的多余下移的力，使得接收器由传统的硬接触优化为弹性接触，使得接收器在接触半导体表面时，不会因为按压力导致接收器损坏半导体外壁，提高设备在检测半导体时的稳定性，保障探针在使用过程，探针头部不会因为硬性接触，导致半导体外壁损坏。
8、优选的，清除机构转动连接在转动孔内壁处的受力柱，受力柱的外壁与翘板上通孔内壁转动连接，翘板的顶部固定连接有收集袋，收集袋远离翘板的一端与杂料出口的内壁固定连接，收集袋的侧壁处贯通连接有出料袋，在设备外壳上移时，设备外壳通过复位弹簧携带拉扯圆板与感应柱向上移动，在清洁杆远离滚轮的一端沿着感应柱的外壁进行移动时，接收器的底部将受清洁杆的挤压，并最终形成如图5所示的状态，通过上述组件的应用，实现对接收器的自清洁，避免长时间工作，导致接收器的外壁沾染杂质，影响设备的检测效果，清洁杆的工作过程中，将对探针外壁以及底部进行清洁与除尘，避免长期工作影响测量精度。
9、优选的，清除机构还包括开设在收集袋外壁处的收集槽，设备外壳的底部固定连接有受压弹簧，受压弹簧远离设备外壳的一端与清洁底座的顶部固定连接，设备外壳的底部固定连接有若干个受压板，若干个受压板的外壁与滚轮的外壁滑动连接，在设备外壳下压时，受压板也同步下降，此时受压板上的斜面将迫使滚轮与挤压板向外移动，挤压板带动清洁杆向外移动，使清洁杆失去对接收器的束缚，避免感应柱在下降时，感应柱受清洁杆的影响，使复位弹簧积蓄机械动力，在感应柱失去约束时，感应柱受复位弹簧与受压弹簧的影响将产生极大的冲击力，导致接收器向下冲击，对半导体外表造成损坏，通过上述组件的应用，使探针在下移时，不会因为复位弹簧与受压弹簧的推动产生冲击力，造成半导体外壁损坏。
10、一种半导体探针测试台用探针及其使用方法，包括以下几个步骤：
11、s1：本专利技术在使用前通过固定架固定在所需位置，并接通电动伸缩杆的电源，在底部出现所需检测电子元件时，通过电动伸缩杆推动设备外壳向下移动；
12、s2：在设备外壳向下移动时，感应柱携带接收器突破清洁杆的限制向下移动，并通过受压板带动滚轮与挤压板向外移动；
13、s3：在完成检测后，电动伸缩杆向上移动，带动感应柱向上移动，在接收器向上移动时，清洁杆远离滚轮的一端将对感应柱以及接收器的外壁进行挤压。
14、本专利技术具有以下有益效果：
15、(1)本专利技术在电动伸缩杆向下按压时，电动伸缩杆通过拉扯板将设备外壳向下推动，此时设备外壳携带拉扯圆板与感应柱向下移动，在接收器与半导体接触时，复位弹簧与受压弹簧将吸收设备外壳所产生的多余下移的力，使得接收器由传统的硬接触优化为弹性接触，使得接收器在接触半导体表面时，不会因为按压力导致接收器损坏半导体外壁，提高设备在检测半导体时的稳定性，保障探针在使用过程，探针头部不会因为硬性接触，导致半导体外壁损坏。
16、(2)本专利技术在设备外壳上移时，设备外壳通过复位弹簧携带拉扯圆板与感应柱向上移动，在清洁杆远离滚轮的一端沿着感应柱的外壁进行移动时，接收器的底部将受清洁杆的挤压，并最终形成如图5所示的状态，通过上述组件的应用，实现对接收器的自清洁，避免长时间工作，导致接收器的外壁沾染杂质，影响设备的检测效果，清洁杆的工作过程中，将对探针外壁以及底部进行清洁与除尘，避免长期工作影响测量精度。
17、(3)本专利技术在设备外壳下压时，受压板也同步下降，此时受压板上的斜面将迫使滚轮与挤压板向外移动，挤压板带动清洁杆向外移动，使清洁杆失去对接收器的束缚，避免感应柱在下降时，感应柱受清洁杆的影响，使受压弹簧与本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种半导体探针测试台用探针，包括动力机构(1)，所述动力机构(1)还包括有滑动轨道(101)，所述滑动轨道(101)的侧壁处固定连接有滑动板(102)，所述滑动轨道(101)的顶部固定连接有固定板(103)，其特征在于，还包括：
2.根据权利要求1所述的一种半导体探针测试台用探针，其特征在于：所述动力机构(1)还包括固定连接在固定板(103)底部的电动伸缩杆(104)，所述电动伸缩杆(104)远离固定板(103)的一端固定连接有拉扯板(105)，所述滑动轨道(101)的侧壁处开设有杂料出口(106)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体探针测试台用探针，其特征在于：所述动力机构(1)还包括开设在杂料出口(106)内壁处的转动孔(107)，所述滑动轨道(101)的侧壁处固定连接有固定架(108)，所述拉扯板(105)的外壁处固定连接有设备外壳(109)，所述设备外壳(109)的内壁与滑动轨道(101)上轨道外壁滑动连接。
4.根据权利要求3所述的一种半导体探针测试台用探针，其特征在于：所述清洁机构(2)还包括固定连接在清洁杆(203)侧壁处的
5.根据权利要求4所述的一种半导体探针测试台用探针，其特征在于：所述清洁机构(2)还包括滑动连接在设备外壳(109)内壁处的拉扯圆板(207)，所述拉扯圆板(207)的底部固定连接有感应柱(208)，所述感应柱(208)的外壁与设备外壳(109)上通孔的内壁滑动连接，所述感应柱(208)远离拉扯圆板(207)的一端固定连接有接收器(209)，所述拉扯圆板(207)的底部固定连接有复位弹簧(210)，所述复位弹簧(210)远离拉扯圆板(207)的一端与设备外壳(109)的内壁固定连接，所述挤压杆(302)远离控制支架(301)的两端与设备外壳(109)的侧壁固定连接。
6.根据权利要求5所述的一种半导体探针测试台用探针，其特征在于：所述清除机构(3)转动连接在转动孔(107)内壁处的受力柱(304)，所述受力柱(304)的外壁与翘板(303)上通孔内壁转动连接，所述翘板(303)的顶部固定连接有收集袋(305)，所述收集袋(305)远离翘板(303)的一端与杂料出口(106)的内壁固定连接，所述收集袋(305)的侧壁处贯通连接有出料袋(306)。
7.根据权利要求6所述的一种半导体探针测试台用探针，其特征在于：所述清除机构(3)还包括开设在收集袋(305)外壁处的收集槽(307)，所述设备外壳(109)的底部固定连接有受压弹簧(308)，所述受压弹簧(308)远离设备外壳(109)的一端与清洁底座(202)的顶部固定连接，所述设备外壳(109)的底部固定连接有若干个受压板(309)，若干个所述受压板(309)的外壁与滚轮(205)的外壁滑动连接。
8.根据权利要求1-7任意一项所述的半导体探针测试台用探针，其特征在于，所述探针的使用方法，包括如下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种半导体探针测试台用探针，包括动力机构(1)，所述动力机构(1)还包括有滑动轨道(101)，所述滑动轨道(101)的侧壁处固定连接有滑动板(102)，所述滑动轨道(101)的顶部固定连接有固定板(103)，其特征在于，还包括：
2.根据权利要求1所述的一种半导体探针测试台用探针，其特征在于：所述动力机构(1)还包括固定连接在固定板(103)底部的电动伸缩杆(104)，所述电动伸缩杆(104)远离固定板(103)的一端固定连接有拉扯板(105)，所述滑动轨道(101)的侧壁处开设有杂料出口(106)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体探针测试台用探针，其特征在于：所述动力机构(1)还包括开设在杂料出口(106)内壁处的转动孔(107)，所述滑动轨道(101)的侧壁处固定连接有固定架(108)，所述拉扯板(105)的外壁处固定连接有设备外壳(109)，所述设备外壳(109)的内壁与滑动轨道(101)上轨道外壁滑动连接。
4.根据权利要求3所述的一种半导体探针测试台用探针，其特征在于：所述清洁机构(2)还包括固定连接在清洁杆(203)侧壁处的挤压板(204)，所述挤压板(204)的内壁处转动连接有滚轮(205)，所述清洁杆(203)的外壁处固定连接有拉扯弹簧(206)，所述拉扯弹簧(206)远离清洁杆(203)的一端与清洁底座(202)的侧壁固定连接。
5.根据权利要求4所述的一种半导体探针测试台用探针，其特征在于：所述清洁机构(2)还包括滑动连接在设备外壳(109)内壁处的拉扯圆板(207)，...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱林，潘玲芳，朱力，屠美凤，周伟，王彦娜，张长沙，
申请(专利权)人：浙江日拓电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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