【技术实现步骤摘要】
本技术涉及偏移量检测，尤其是涉及一种偏移量检具。
技术介绍
1、现阶段的光学冷加工的行业中，在镜片进行偏移量检测时，是将镜片侧边竖起放在工具显微镜仪器镜头下，通过镜片平台粘住校正块保持不动，开始旋转仪器镜头y轴、x轴、z轴，将镜片凸面顶点与小外径斜边偏移量尺寸测量，使成像在显微镜视场中显示尺寸，每一枚镜片手动校准点找位置时都会有细微的偏移，测量一枚镜片大概需要3～5分钟，时间过长、操作步骤比较繁琐。
技术实现思路
1、本技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种偏移量检具。
2、本技术的目的可以通过以下技术方案来实现：
3、一种偏移量检具，所述的检具包括偏移量检具主体、量圈后体、千分表平头针和千分表表杆；所述的千分表表杆套入千分表平头针；所述的量圈后体通过量圈后体锁紧螺母固定在千分表表杆上；所述的偏移量检具主体固定在量圈后体上；所述的偏移量检具主体上放置有用于校准的归零片镜片。
4、进一步地，所述的偏移量检具主体为口径与偏移量位置一致的检具主体。
5、进一步地，所述的检具为公差±0.005mm且镜片外径公差-0mm～+0.01mm的检具。
6、进一步地，所述的偏移量检具主体通过螺纹连接的方式固定在量圈后体上。
7、进一步地，所述的千分表表杆上设置有用于显示偏移量的刻度线。
8、与现有技术相比，本技术具有以下优点：
9、(1)本实用型结构简单，操作方便，克服了检测镜片偏移量时间
10、(2)本技术性能稳定，实用性强，通用性广，可以作为测量偏移量的通用治具。
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1.一种偏移量检具，其特征在于，所述的检具包括偏移量检具主体(2)、量圈后体(3)、千分表平头针(5)和千分表表杆(6)；所述的千分表表杆(6)套入千分表平头针(5)；所述的量圈后体(3)通过量圈后体锁紧螺母(4)固定在千分表表杆(6)上；所述的偏移量检具主体(2)固定在量圈后体(3)上；所述的偏移量检具主体(2)上放置有用于校准的归零片镜片(1)。
2.根据权利要求1所述的一种偏移量检具，其特征在于，所述的偏移量检具主体(2)为口径与偏移量位置一致的检具主体。
3.根据权利要求1所述的一种偏移量检具，其特征在于，所述的检具为公差±0.005mm且镜片外径公差-0mm～+0.01mm的检具。
4.根据权利要求1所述的一种偏移量检具，其特征在于，所述的偏移量检具主体(2)通过螺纹连接的方式固定在量圈后体(3)上。
5.根据权利要求1所述的一种偏移量检具，其特征在于，所述的千分表表杆(6)上设置有用于显示偏移量的刻度线。
【技术特征摘要】
1.一种偏移量检具，其特征在于，所述的检具包括偏移量检具主体(2)、量圈后体(3)、千分表平头针(5)和千分表表杆(6)；所述的千分表表杆(6)套入千分表平头针(5)；所述的量圈后体(3)通过量圈后体锁紧螺母(4)固定在千分表表杆(6)上；所述的偏移量检具主体(2)固定在量圈后体(3)上；所述的偏移量检具主体(2)上放置有用于校准的归零片镜片(1)。
2.根据权利要求1所述的一种偏移量检具，其特征在于，所述的偏移量检具主体...
【专利技术属性】
技术研发人员：祝接武，戴志强，琚烈聪，苏建斌，
申请(专利权)人：江西高瑞光电股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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