【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种门锁故障检测装置，特别涉及一种屏蔽门门锁故障检测装置。
技术介绍
1、地铁屏蔽门门锁采用电磁铁门锁，当给电磁铁通入48v电压时，门锁提起。断开48v电源，门锁落下。从而保证在门锁落下的情况下，乘客无法从门外扒开屏蔽门，保证乘客安全。
2、目前现有的主流方案中，屏蔽门控制器只对门锁进行通电断电操作，没有检测电磁铁门锁是否正常工作。如图1所示。当电磁铁门锁出现提锁故障时，无法准确定位是48v电源问题还是电磁铁门锁的问题。由于屏蔽门控制器使用环境的特殊，出现问题后需要紧急复位，无法保持现场的问题环境，导致门锁问题排查相当复杂。目前现有技术中，出现门锁问题后，需要将屏蔽门控制器和电磁铁门锁同时进行更换，大大增加维保成本。
3、基于此，提出本申请。
技术实现思路
1、本技术的目的是提供一种屏蔽门门锁故障检测装置。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
3、屏蔽门门锁故障检测装置，包括：电磁铁检测模块，用于检测电磁铁电路中的电流；屏蔽门控制器电源检测模块，用于检测屏蔽门控制器的电源电压；信号处理模块，用于判断电磁铁检测模块获得的电流以及屏蔽门控制器电源检测模块获得的电压是否正常。
4、本技术提供了一种优选方案，所述屏蔽门门锁故障检测装置还包括信号放大模块，用于将电磁铁检测模块输出的电压放大后输入信号处理模块。
5、本技术提供了一种优选方案，所述电磁铁检测模块包括与电磁铁线圈串联的采样电阻r1、与采样电
6、本技术提供了一种优选方案，所述屏蔽门控制器电源检测模块采用与屏蔽门控制器电源并联的第二电压采样单元以获取屏蔽门控制器电源两端的采样电压v2。
7、本技术提供了一种优选方案，所述采样电阻r1<<电磁铁线圈的电阻r2。
8、本技术提供了一种优选方案，所述信号放大模块采用线性光耦放大器。
9、本技术提供了一种优选方案，所述信号处理模块采用stm32f407vet6主芯片进行adc采样。
10、与现有技术相比，上述技术方案具有以下优点：
11、本技术通过判断电磁铁检测模块获得的电流以及屏蔽门控制器电源检测模块获得的电压是否正常，即通过电压及电流的状态判断屏蔽门电磁门锁以及屏蔽门控制器电源的状态，在故障发生时精准确定故障位置，大大简化屏蔽门门锁问题的排查工作，实现快速的紧急复位，并针对相应问题点进行相应部位的维修或相关器件的更换，大大降低维保成本。
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1.屏蔽门门锁故障检测装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的屏蔽门门锁故障检测装置，其特征在于，还包括：信号放大模块，用于将电磁铁检测模块输出的电压放大后输入信号处理模块。
3.根据权利要求1所述的屏蔽门门锁故障检测装置，其特征在于，所述电磁铁检测模块包括与电磁铁线圈串联的采样电阻R1、与采样电阻R1并联的第一电压采样单元以获取采样电阻R1两端的采样电压V1。
4.根据权利要求1所述的屏蔽门门锁故障检测装置，其特征在于，所述屏蔽门控制器电源检测模块采用与屏蔽门控制器电源并联的第二电压采样单元以获取屏蔽门控制器电源两端的采样电压V2。
5.根据权利要求3所述的屏蔽门门锁故障检测装置，其特征在于，所述采样电阻R1<<电磁铁线圈的电阻R2。
6.根据权利要求2所述的屏蔽门门锁故障检测装置，其特征在于，所述信号放大模块采用线性光耦放大器。
7.根据权利要求1所述的屏蔽门门锁故障检测装置，其特征在于，所述信号处理模块采用STM32F407VET6主芯片进行ADC采样。
【技术特征摘要】
1.屏蔽门门锁故障检测装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的屏蔽门门锁故障检测装置，其特征在于，还包括：信号放大模块，用于将电磁铁检测模块输出的电压放大后输入信号处理模块。
3.根据权利要求1所述的屏蔽门门锁故障检测装置，其特征在于，所述电磁铁检测模块包括与电磁铁线圈串联的采样电阻r1、与采样电阻r1并联的第一电压采样单元以获取采样电阻r1两端的采样电压v1。
4.根据权利要求1所述的屏蔽门门锁故障检测装置，其特征在于，所述屏蔽门控...
【专利技术属性】
技术研发人员：许伟波，谭黎，蔺泽轩，吕晓东，宋朗，
申请(专利权)人：杭州兆鼎科技实业有限公司，
类型：新型
国别省市：
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