一种陷印效果自动对比的方法及系统技术方案

本发明专利技术属于包装印刷技术领域，特别涉及一种陷印效果自动对比的方法及系统。本发明专利技术公开的方法首先将同一样张在不同版本下进行陷印，得到两个陷印图层，计算包含两个陷印区域的公共外接矩形，并且向外调整公共外接矩形的尺寸使其边界坐标值为整数；其次，以公共外接矩形为范围，按相同分辨率对两个陷印图层分别进行栅格化处理，得到两个相同尺寸的临时图像；最后，计算两个临时图像内对应位置的像素点油墨差值，记录油墨差值大于设定阈值的像素点的位置，并显示在用户界面上。本发明专利技术所述的方法及系统可以将不同版本下产生的陷印区域存在的差别准确且直观地显示给测试人员，提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于包装印刷
，特别涉及一种陷印效果自动对比的方法及系统。
技术介绍
包装印刷测试过程中，同一样张在不同版本下的陷印效果存在差别时，测试者很 难直接观察到细小的区别，容易产生疏漏。陷印结果的差别通常表现为陷印图形填充了 不同颜色，或者生成了不同的形状(例如拐点的圆角和方角的差别，或者陷印图形部分缺 失)。 现有技术中，测试人员通常是根据经验直接观察同一个样张在不同版本下的两次 陷印结果是否存在差别。在观察过程中，由于样张中图形多，涉及到的颜色复杂，陷印区域 中颜色和形状的细微差别不易被发现，不能准确地报告陷印效果的改进情况。同时，测试人 员花费时间较长，工作效率低下。
技术实现思路
针对现有技术中存在的缺陷，本专利技术的目的是提供一种陷印效果自动对比的方法 及系统。该方法及系统首先进行陷印区域栅格化，然后通过两次陷印效果的比较将陷印区 域存在的差别显示在用户界面上。 为实现上述专利技术目的，本专利技术采用的技术方案是一种陷印效果自动对比的方法， 包括以下步骤 (1)将同一样张在两个不同版本下进行陷印，得到两个陷印图层，计算两个陷印区 域的公共外接矩形，并且向外调整公共外接矩形的尺寸，使其边界坐标值为整数。； (2)以公共外接矩形为范围，按相同分辨率对两个陷印图层分别进行栅格化处理， 得到两个相同尺寸的临时图像； (3)计算两个临时图像内对应位置的像素点的油墨差值，记录油墨差值大于设定 阈值的像素点的位置，并显示在用户界面上。 进一步，步骤(1)中，计算两个陷印区域的公共外接矩形，包含以下步骤 a)分别计算每个陷印图层的陷印区域的外接矩形； b)计算包含两个外接矩形的最小公共外接矩形。 进一步，步骤(3)中，所述设定阈值为整数O 100。 更进一步，步骤(3)中，所述的油墨差值大于设定阈值的像素点被区分为孤立的像素点和多个相邻的像素点两种类型，以不同的标记显示在用户界面上。 与上述方法对应的一种陷印效果自动对比的系统，包括以下模块 (1)公共外接矩形计算模块用于将同一样张在两个不同版本下进行陷印，得到两个陷印图层，计算两个陷印区域的公共外接矩形，并且向外调整公共外接矩形的尺寸，使其边界坐标值为整数； (2)栅格化处理模块用于以公共外接矩形为范围，按相同分辨率对两个陷印图层分别进行栅格化处理，得到两个相同尺寸的临时图像； (3)油墨差值计算及显示模块用于计算两个临时图像内对应位置像素点的油墨差值，记录油墨差值大于设定阈值的像素点的位置，并显示在用户界面上。 本专利技术的效果在于采用本专利技术所述的方法，可以将不同版本下产生的陷印区域中存在的差别准确且直观地显示给测试人员，从而提高了测试效率。附图说明 图1为本专利技术所述的一种陷印效果自动对比的方法流程图； 图2为本专利技术实施例中一种陷印效果自动对比的方法流程图； 图3为本专利技术实施例中需要进行陷印的样张示意图； 图4为本专利技术实施例中同一样张在不同版本下进行陷印，得到两个陷印图层的示 意图； 图5为本专利技术实施例中两个外接矩形的相对位置示意图； 图6为本专利技术实施例中对两个陷印图层分别进行栅格化处理得到两个相同尺寸 的临时图像的示意图； 图7为本专利技术实施例中显示输出两个临时图像中有差别的像素点的位置示意图； 图8为本专利技术实施例中显示输出两个临时图像中有差别的像素点放大标记的位 置示意图。具体实施例方式下面结合说明书附图和具体实施例对本专利技术作进一步详细的描述。 —种陷印效果自动对比的系统，包括以下模块 (1)公共外接矩形计算模块用于将同一样张在两个不同版本下进行陷印，得到 两个陷印图层，计算两个陷印区域的公共外接矩形，并且向外调整公共外接矩形的尺寸，使 其边界坐标值为整数； (2)栅格化处理模块用于以公共外接矩形为范围，按相同分辨率对两个陷印图 层分别进行栅格化处理，得到两个相同尺寸的临时图像； (3)油墨差值计算及显示模块用于计算两个临时图像内对应位置像素点的油墨差值，记录油墨差值大于设定阈值的像素点的位置，并显示在用户界面上。本专利技术采用的技术方案是一种陷印效果自动对比的方法，包括以下步骤 (1)将同一样张在两个不同版本下进行陷印，得到两个陷印图层，计算包含两个陷印区域的公共外接矩形，并且向外调整公共外接矩形的尺寸，使其边界坐标值为整数，Sll ; (2)以公共外接矩形为范围，按相同分辨率对两个陷印图层分别进行栅格化处理， 得到两个相同尺寸的临时图像，S12 ; (3)计算两个临时图像内对应位置的像素点油墨差值，记录油墨差值大于设定阈 值的像素点的位置，并显示在用户界面上，S13。 图2提供了陷印效果自动对比的方法的具体实施方式，具体包括以下步骤 S21 :同一样张在不同版本下进行陷印，保存得到的两个陷印图层；4 如图3所示，本实施例中选择同一样张在不同版本下进行陷印，得到两个陷印图 层，如图4所示。S22 :分别计算两个陷印区域的外接矩形； 本实施例中，经计算得到，陷印区域41的外接矩形43和陷印区域42的外接矩形 44。 S23:计算包含两个外接矩形的最小公共外接矩形，使两个陷印区域包含在同等大 小的矩形中； 本实施例中，如图5为两个外接矩形43和44的相对位置示意图，如图所示包含两 个外接矩形的公共外接矩形为外接矩形43。 S24 :向外调整公共外接矩形的尺寸，使其边界坐标值为整数。 为了使栅格化后的临时图象边界与坐标系整数对齐，则需向外调整公共外接矩形 的大小，使其边界坐标值为整数，以确保栅格化处理得到的两个临时图象的大小和位置完全一致。 S25:以公共外接矩形为范围，按相同分辨率对两个陷印图层分别进行栅格化处 理，得到两个相同尺寸的临时图像； 如图6所示，本实施例中两个陷印图层栅格化处理后得到的临时图像示意图为61 和62。S26 :计算两个临时图像内对应像素点的油墨差值； 本实施例中，分别计算两个临时图像相同像素位置的对应像素点CMYK四个通道 下灰度值差值，其中灰度值差值以绝对值形式进行表示，最后将所述的四个灰度值差值进 行求和作为对应像素点的油墨差值。 本实施例中，用户设定像素点的油墨差值m，当油墨差值大于m时，认为这两个像 素油墨存在差别，其中m为整数0 100。S27 :记录油墨差值大于设定阈值的像素点的位置； S28 :显示输出两个临时图像中有差别的像素点的位置。 如图7所示，两个临时图像中有差别的像素位置被区分为孤立的像素点和多个相 邻的像素点两种类型，以不同的标记显示在用户界面上。同时，如图8所示，可以放大标记， 以便于测试人员观察。 本实施例中，m = 0时检测最为灵敏，即只要存在油墨差值就可以记录其像素点位 置。此设定阈值可能会出现大量的有差别的像素，降低了测试人员的查找效率。所以适当 提高m值能去除不必要的细小差别，这样就提高了效率。m值可以由测试人员设定。 通过上述实施例可以看出，本专利技术通过自动比较方法，标记并显示当前陷印结果 与上次陷印结果存在差别的色块的位置，使测试人员能直观的看到两次陷印效果的差别。 考虑到在此公开的对本专利技术的描述和特殊的实施例，本专利技术的其他实施例对于本 领域的技术人员来说是显而易见的。这些说明和实施例仅作为例子来考虑，它们都属于由 所附权利要求所指示的本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种陷印效果自动对比的方法，包括以下步骤：（１）将同一样张在两个不同版本下进行陷印，得到两个陷印图层，计算两个陷印区域的公共外接矩形，并且向外调整公共外接矩形的尺寸，使其边界坐标值为整数；（２）以公共外接矩形为范围，按相同分辨率对两个陷印图层分别进行栅格化处理，得到两个相同尺寸的临时图像；（３）计算两个临时图像内对应位置像素点的油墨差值，记录油墨差值大于设定阈值的像素点的位置，并显示在用户界面上。

【技术特征摘要】
一种陷印效果自动对比的方法，包括以下步骤(1)将同一样张在两个不同版本下进行陷印，得到两个陷印图层，计算两个陷印区域的公共外接矩形，并且向外调整公共外接矩形的尺寸，使其边界坐标值为整数；(2)以公共外接矩形为范围，按相同分辨率对两个陷印图层分别进行栅格化处理，得到两个相同尺寸的临时图像；(3)计算两个临时图像内对应位置像素点的油墨差值，记录油墨差值大于设定阈值的像素点的位置，并显示在用户界面上。2. 如权利要求l所述的一种陷印效果自动对比的方法，其特征在于步骤(1)中，计算 两个陷印区域的公共外接矩形，包含以下步骤a) 分别计算每个陷印图层的陷印区域的外接矩形；b) 计算包含两个外接矩形的最小公共外接矩形。3. 如权利要求l所述的一种陷印效果自动对比的方法，其特征在于步骤(3)中，所述 设定阈值...

【专利技术属性】
技术研发人员：马剑，具永兰，
申请(专利权)人：方正国际软件北京有限公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]