本发明专利技术提供了一种圆光栅标定机构，该圆光栅标定机构包括套设在同一轴上同步转动的两个圆光栅，通过两个圆光栅测量转角信号进而得到转角差值数据，多次测量得到多个转角差值数据，对每个转角差值数据进行中值滤波处理，再将多个中值滤波处理后的数据进行平均化的到误差值；该圆光栅标定机构可用于检测齿轮传动测量系统的误差值，进而确定齿轮传动测量系统的精度，为高精度齿轮传动误差测量提供技术支撑。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及传动误差测量，具体涉及一种圆光栅标定机构。
技术介绍
1、齿轮传动系统可以实现运动和动力的传递，具有传动平稳、精度高、效率高、工作可靠、使用寿命长等优点，在航空航天、汽车制造、机床制造等领域应用广泛；齿轮传动误差是齿轮传动系统动态性能的重要指标，传动误差量值越小则齿轮传动振动越小，齿轮传动精度越高；随着相关装备技术要求的提高，对齿轮传动误差高精度测量显得尤为迫切。圆光栅法是目前齿轮传动系统误差高精度测量的主要方法，该方法是在输入轴与输出轴上分别安装一个高精度圆光栅，将圆光栅测得的转角信号通过数据采集卡输入计算机，然后进行信号处理、计算齿轮传动误差；由于当前工业齿轮加工精度日益提高，齿轮传动误差值越来越小，对于gb3～4级齿轮，传动误差值仅为1～2角秒，为准确测量齿轮传动误差，需确定齿轮传动误差测量系统的精度能否达到测量要求，即测量齿轮传动误差测量系统的误差，因此亟需一种齿轮传动误差测量系统的误差检测装置。
技术实现思路
1、为了解决目前齿轮传动误差测量系统的误差检测问题，本专利技术提供了一种圆光栅标定机构，该机构获取同轴连接的两个圆光栅的转角信号，根据得到的转角信号得到转角数据并计算转角差值数据，将得到的转角差值数据进行中值滤波处理，多次测量获得多个中值滤波处理后的转角差值数据，将多个中值滤波处理后的转角差值数据进行平均化处理得到误差值；将该圆光栅标定机构安装于齿轮传动误差测量系统的同一根齿轮轴上，此时测得的误差值即为该齿轮传动误差测量系统一次测量的误差。
>2、一种圆光栅标定机构，包括：第一圆光栅、第二圆光栅和数据处理器；3、第一圆光栅与第二圆光栅套设于同一转轴，第一圆光栅与第二圆光栅同步转动，第一圆光栅和第二圆光栅用于测量转角信号；
4、数据处理器用于采集第一圆光栅测量的转角信号和第二圆光栅测量的转角信号，根据采集的第一圆光栅测量的转角信号和第二圆光栅测量的转角信号得到转角差值数据；
5、数据处理器还用于多次采集第一圆光栅测量的转角信号和第二圆光栅测量的转角信号得到多个转角差值数据，对每个转角差值数据分别进行中值滤波处理，得到多个中值滤波处理后的转角差值数据；将得到的多个中值滤波处理处理后的转角差值数据进行平均化处理得到误差值。
6、有益效果
7、本专利技术提供了一种圆光栅标定机构，该圆光栅标定机构包括套设在同一轴上同步转动的两个圆光栅，通过两个圆光栅测量转角信号进而得到转角差值数据，多次测量得到多个转角差值数据，对每个转角差值数据进行中值滤波处理，再将多个中值滤波处理后的数据进行平均化得到的误差值；该圆光栅标定机构可安装于齿轮传动测量系统的齿轮轴，用于检测齿轮传动测量系统的误差值，进而确定齿轮传动测量系统的精度是否达到测量要求，为高精度齿轮传动误差测量提供技术支撑。
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【技术保护点】
1.一种圆光栅标定机构，其特征在于：包括，第一圆光栅、第二圆光栅和数据处理器；
2.根据权利要求1所述的一种圆光栅标定机构，其特征在于：对每个转角差值数据分别进行中值滤波处理的方法为：
3.根据权利要求2所述的一种圆光栅标定机构，其特征在于：将得到的多个中值滤波处理后的转角差值数据Yi进行平均化处理的方法为：其中Z为多个中值滤波处理后的转角差值数据进行平均化得到的误差值。
4.根据权利要求1所述的一种圆光栅标定机构，其特征在于：第一圆光栅和第二圆光栅均为RPN886圆光栅。
5.根据权利要求4所述的一种圆光栅标定机构，其特征在于：每个RPN886圆光栅包括RPN886圆光栅定子和RPN886圆光栅转子。
6.根据权利要求1所述的一种圆光栅标定机构，其特征在于：所述转轴为齿轮传动误差测试系统的输入轴或输出轴。
【技术特征摘要】
1.一种圆光栅标定机构，其特征在于：包括，第一圆光栅、第二圆光栅和数据处理器；
2.根据权利要求1所述的一种圆光栅标定机构，其特征在于：对每个转角差值数据分别进行中值滤波处理的方法为：
3.根据权利要求2所述的一种圆光栅标定机构，其特征在于：将得到的多个中值滤波处理后的转角差值数据yi进行平均化处理的方法为：其中z为多个中值滤波处理后的转角差值数据进行平均化得到...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶盛鉴，汤鱼，周宏亮，张建，武毅，
申请(专利权)人：中国船舶集团有限公司第七零三研究所，
类型：发明
国别省市：
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