【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及单细胞微流控芯片的调平领域，尤其涉及一种单细胞微流控芯片的位姿调节方法、终端及计算机存储介质。
技术介绍
1、在对细胞进行算法分选时，通常需要先识别微流控芯片单元的各喷孔；为实现自动化分选，采用图像识别方法，对所述喷孔进行自动识别；在识别过程中，为保证识别效果，通常需要将微流控芯片单元调节至目标位置处，且通常需要将其调整为水平放置状态，以使采集到的图像均为各喷孔实际状态下所呈现的图像，而非为形变状态下呈现的图像，从而可以更好地匹配识别算法。
2、然而，目前微小面积的芯片调平算法比较欠缺，通常为采用手动调节旋转轴的方式将芯片调整至水平位置；但这种手动调平方式其调节效果较差，即调节准确度较低，包括无法准确调至目标位置处或无法准确调至水平状态，且在手动调节过程中因机器震动或人为操作不当等原因，会使微流控芯片单元发生偏移，因而常需要对微流控芯片单元进行重新调平，导致该调平过程效率低下。
3、因此，如何高效、便捷且自动化地实现微流控芯片单元的调平处理，以成为本领域亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种单细胞微流控芯片的位姿调节方法、终端及计算机存储介质，可以解决现有的单细胞微流控芯片调平过程其调节准确度较低，且调节效率低下等问题。
2、为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术第一方面提供一种单细胞微流控芯片的位姿调节方法，适用于单细胞分选系统，用于对微流控芯片单元进行位姿调节；所述位姿
3、于本专利技术一实施例中，所述微流控芯片单元的空间坐标的获取方式，包括：确定所述微流控芯片单元的芯片配准点；获取所述喷孔与所述芯片配准点之间的相对位置；基于所述喷孔的图像位置，所述喷孔与所述芯片配准点之间的相对位置，和所述第一图像的空间坐标，获取所述微流控芯片单元的空间坐标。
4、于本专利技术一实施例中，所述芯片配准点的空间坐标的获取方式，包括：对于单个所述喷孔，获取当前喷孔与所述芯片配准点之间的相对距离；根据当前喷孔的所述图像位置、所述当前喷孔与所述芯片配准点之间的相对距离，获取于当前喷孔下所述芯片配准点的图像位置；对各所述喷孔均执行该步骤，以获得各喷孔下所述芯片配准点的图像位置；将各所述芯片配准点的图像位置取均值，获得所述芯片配准点于所述第一图像中的图像位置。
5、于本专利技术一实施例中，所述芯片配准点的空间坐标的获取方式，包括：于识别出的各所述喷孔中，随机选取相互平行的两排/列喷嘴作为目标喷孔；获取各所述目标喷孔与所述芯片配准点之间相对位置，和获取各所述目标喷孔于所述第一图片中的图像位置；基于各所述目标喷孔的图像位置，和所述目标喷孔的图像位置与所述芯片配准点之间的相对位置，获取所述目标喷孔下芯片配准点的图像位置；将各所述芯片配准点的图像位置取均值，获得所述芯片配准点于所述第一图像中的图像位置。
6、于本专利技术一实施例中，所述芯片配准点采用所述微流控芯片单元的芯片中心点。
7、于本专利技术一实施例中，所述第二图像的电路识别结果的获取方式，包括：利用梯度算法提取所述第二图像中的各电路子段，并获取各所述电路子段对应的识别准确度；于各所述识别准确度中提取其中的最高识别准确度，作为该第二图像对应的所述电路识别结果。
8、于本专利技术一实施例中，所述调平处理的实现方式，包括：基于各所述电路识别结果，分别提取所述微流控芯片单元的左侧电路识别结果、右侧电路识别结果、前侧电路识别结果和后侧电路识别结果；基于所述左侧电路识别结果和所述右侧电路识别结果，构建所述微流控芯片单元的侧偏调平参数；以及，基于所述前侧电路识别结果和所述后侧电路识别结果，构建所述微流控芯片单元的俯仰调平参数；基于所述侧偏调平参数和所述俯仰调平参数，对所述微流控芯片单元进行水平调整；其中，所述左侧电路识别结果、所述右侧电路识别结果、所述前侧电路识别结果和所述后侧电路识别结果，分别对应为所述微流控芯左侧区域内、右侧区域内、前侧区域内和后侧区域内的最大电路识别结果。
9、于本专利技术一实施例中，所述侧偏调平参数的获取方式，包括：基于所述左侧电路识别结果和所述右侧电路识别结果，构建所述侧偏调平参数为：
10、kx＝z1/z2；
11、式中，kx为所述侧偏调平参数；z1为所述左侧电路识别结果；z2为所述右侧电路识别结果；所述俯仰调平参数的获取方式，包括：基于所述前侧电路识别结果和所述后侧电路识别结果，构建所述俯仰调平参数为：
12、ky＝z3/z4；
13、式中，ky为所述俯仰调平参数；z3为所述前侧电路识别结果；z3为所述后侧电路识别结果。
14、于本专利技术一实施例中，所述基于所述侧偏调平参数和所述俯仰调平参数，对所述微流控芯片单元进行水平调整的实现方式，包括：根据所述侧偏调平参数，通过查找所述侧偏调平参数与侧偏调平角度之间的映射关系，获取对应的侧偏调平角度，以基于所述侧偏调平角度对所述微流控芯片单元进行调节；以及，根据所述俯仰调平参数，通过查找所述俯仰调平参数与俯仰调平角度之间的映射关系，获取对应的俯仰调平角度，以基于所述俯仰调平角度对所述微流控芯片单元进行调节。
15、本专利技术于第二方面还提供一种终端，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以执行如上任意所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法。
16、本专利技术于第三方面还提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任意所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法。
17、如上所述，本专利技术提供的所述单细胞微流控芯片的位姿调节方法、终端及计算机存储介质，通过获取识别所述微流控芯片单元上的喷孔，和基于第一图像的空间坐标，获取所述微流控芯片单元的当前空间坐标与目标坐标之间的坐标差值向量，以基于坐标差值向量实现坐标配准；并通过识别所述微流控芯片单元的第二图像，和获取所述第二图像的电路识别结果，以基于识别结果获本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，适用于单细胞分选系统，用于对微流控芯片单元进行位姿调节；所述位姿调节包括若干次位姿调节子过程；于执行单次所述位姿调节子过程时，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述微流控芯片单元的空间坐标的获取方式，包括：
3.根据权利要求2所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述芯片配准点的空间坐标的获取方式，包括：
4.根据权利要求1所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述芯片配准点的空间坐标的获取方式，包括：
5.根据权利要求2或3所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述芯片配准点采用所述微流控芯片单元的芯片中心点。
6.根据权利要求1所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述第二图像的电路识别结果的获取方式，包括：
7.根据权利要求1所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述调平处理的实现方式，包括：
8.据权利要求7所述的单细胞微流控芯片
9.据权利要求7所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述基于所述侧偏调平参数和所述俯仰调平参数，对所述微流控芯片单元进行水平调整的实现方式，包括：
10.一种终端，其特征在于，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以执行如权利要求1至9中任一项所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法。
11.一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法。
...【技术特征摘要】
1.一种单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，适用于单细胞分选系统，用于对微流控芯片单元进行位姿调节；所述位姿调节包括若干次位姿调节子过程；于执行单次所述位姿调节子过程时，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述微流控芯片单元的空间坐标的获取方式，包括：
3.根据权利要求2所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述芯片配准点的空间坐标的获取方式，包括：
4.根据权利要求1所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述芯片配准点的空间坐标的获取方式，包括：
5.根据权利要求2或3所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述芯片配准点采用所述微流控芯片单元的芯片中心点。
6.根据权利要求1所述的单细胞微流控芯片的位姿调节方法，其特征在于，所述第二图像的电路识别结...
【专利技术属性】
技术研发人员：江巍，关一民，王梦琪，张异，
申请(专利权)人：上海傲睿科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。