System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 温度测量方法、气溶胶生成装置及存储介质制造方法及图纸_技高网

温度测量方法、气溶胶生成装置及存储介质制造方法及图纸

技术编号:43476629 阅读:3 留言:0更新日期:2024-11-29 16:51
本发明专利技术公开一种温度测量方法、气溶胶生成装置和非易失性计算机可读存储介质。温度测量方法应用于气溶胶生成装置,气溶胶生成装置包括发热元件、振荡电路和控制器,振荡电路被配置产生交变磁场,发热元件通过交变磁场加热气溶胶生成基质,控制器包括CPU、总线、第一存储空间和温度测量单元,通过温度测量单元将温度采样信号通过直接内存访问的方式存储至第一存储空间;CPU在预设温度计算时间到达时,通过总线访问第一存储空间,从第一存储空间读取温度采样信号;CPU根据温度采样信号计算发热元件的测量温度。相较于通过中断和查询的方式存储温度采样信号而言,对MCU中断触发次数少,提高了系统的实时性,对系统的性能要求低,有助于降低硬件成本。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及测温,更具体而言,涉及一种温度测量方法、气溶胶生成装置及非易失性计算机可读存储介质。


技术介绍

1、目前气溶胶生成装置的发热元件的测温方法可以通过测试发热元件在不同温度下的振荡反馈量来换算对应的温度值,反馈量的测定可以是通过中断或查询的方式进行的。

2、中断的方式需要气溶胶生成装置的微控制单元的引脚进行中断触发,在中断的过程中记录相应的电平跳变时刻;查询的方式是用轮询的方式不断查询引脚的状态并记录电平跳变时刻;然而由于测温采样信号的频率较高,需要频繁地向总线发送中断信号或者频繁地进行查询,对总线资源和中央处理器的资源占用较高,从而影响系统的实时性,并且对中央处理器总线性能要求较高,而且需要更多的硬件配套电路,成本较高。


技术实现思路

1、本申请实施方式提供一种温度测量方法、气溶胶生成装置及非易失性计算机可读存储介质。

2、本申请实施方式的温度测量方法应用于气溶胶生成装置,所述气溶胶生成装置包括发热元件、振荡电路和控制器,所述振荡电路被配置产生交变磁场,所述发热元件通过所述交变磁场加热气溶胶生成基质,所述控制器包括cpu、总线、第一存储空间和温度测量单元,所述温度测量方法包括温度测量单元将温度采样信号通过直接内存访问dma的方式存储至所述第一存储空间;cpu在预设温度计算时间到达时,通过总线访问所述第一存储空间,从所述第一存储空间读取所述温度采样信号;所述cpu根据所述温度采样信号计算所述发热元件的测量温度。

3、在某些实施方式中,所述温度采样信号通过响应于温度测量控制信号,所述振荡电路充电预设时间,所述预设时间为所述温度测量控制信号的持续时间;控制所述振荡电路放电,所述温度测量单元测量所述振荡电路在放电过程中的温度采样信号。

4、在某些实施方式中,所述振荡电路为lc振荡电路,所述振荡电路包括第一电感和第一电容,所述温度采样信号包括所述振荡电路在放电过程中,所述第一电容两端的电压信号。

5、在某些实施方式中,所述振荡电路为lc振荡电路,所述振荡电路包括第一电感和第一电容,所述温度采样信号包括数字电压信号,所述数字电源信号通过获取所述振荡电路在放电过程中,所述第一电容两端的电压信号;将所述电压信号进行模数转换,得到所述数字电压信号。

6、在某些实施方式中,所述模数转换的阈值为0或电源电压。

7、在某些实施方式中,所述预设温度计算时间为所述cpu的空闲时间。

8、在某些实施方式中,所述cpu根据所述温度采样信号计算所述发热元件温度的步骤之前,还包括所述cpu判断所述温度采样信号的值是否在预设范围内,若否,所述cpu根据下一次读取的所述温度采样信号计算所述发热体元件温度的步骤。

9、在某些实施方式中,温度测量方法还包括所述cpu计算预设个所述测量温度的加权均值得到平均测量温度,根据所述平均测量温度控制向所述发热元件供应得的电力的步骤。

10、本申请实施方式的气溶胶生成装置包括发热元件、振荡电路和控制器,所述振荡电路被配置产生交变磁场,所述发热元件通过所述交变磁场加热气溶胶生成基质,所述控制器包括cpu、总线、第一存储空间和温度测量单元,所述控制器被配置为执行温度测量单元将温度采样信号通过直接内存访问dma的方式存储至所述第一存储空间;cpu在预设温度计算时间到达时,通过总线访问所述第一存储空间,从所述第一存储空间读取所述温度采样信号;所述cpu根据所述温度采样信号计算所述发热元件的测量温度的步骤。

11、本申请实施方式的计算机可读存储介质包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行所述温度测量方法。所述温度测量方法包括温度测量单元将温度采样信号通过直接内存访问dma的方式存储至所述第一存储空间;cpu在预设温度计算时间到达时,通过总线访问所述第一存储空间,从所述第一存储空间读取所述温度采样信号;所述cpu根据所述温度采样信号计算所述发热元件的测量温度。

12、本申请实施方式的温度测量方法、气溶胶生成装置及非易失性计算机可读存储介质通过温度测量单元将振荡电路中发热元件产生的温度采样信号,采用直接内存访问dma的方式存储至控制器的第一存储空间中,cpu在预设温度计算时间到达的情况下,通过总线访问控制器中的第一存储空间,从而读取在第一存储空间内的温度采样信号,最后cpu再根据读取的温度采样信号,从而可以计算发热元件的测量温度,相较于通过中断和查询的方式存储温度采样信号而言,对微控制单元的中断触发次数少,提高了系统的实时性,对系统的性能要求低,有助于降低硬件成本。

13、本申请的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实施方式的实践了解到。

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【技术保护点】

1.一种温度测量方法,其特征在于,所述温度测量方法应用于气溶胶生成装置,所述气溶胶生成装置包括发热元件、振荡电路和控制器,所述振荡电路被配置产生交变磁场,所述发热元件通过所述交变磁场加热气溶胶生成基质,所述控制器包括CPU、总线、第一存储空间和温度测量单元,所述方法包括步骤:

2.根据权利要求1所述的温度测量方法,其特征在于,所述温度采样信号通过如下方式采集:

3.根据权利要求2所述的温度测量方法,其特征在于,所述振荡电路为LC振荡电路,所述振荡电路包括第一电感和第一电容,所述温度采样信号包括:

4.根据权利要求2所述的温度测量方法,其特征在于,所述振荡电路为LC振荡电路,所述振荡电路包括第一电感和第一电容,所述温度采样信号包括数字电压信号,所述数字电压信号通过如下方式获得:

5.根据权利要求4所述的温度测量方法,其特征在于,所述模数转换的阈值为0或电源电压。

6.根据权利要求1所述的温度测量方法,其特征在于,所述预设温度计算时间为所述CPU的空闲时间。

7.根据权利要求1所述的温度测量方法,其特征在于,所述CPU根据所述温度采样信号计算所述发热元件温度的步骤之前,还包括步骤:

8.根据权利要求1所述的温度测量方法,其特征在于,还包括步骤:所述CPU计算预设个所述测量温度的加权均值得到平均测量温度,根据所述平均测量温度控制向所述发热元件供应的电力。

9.一种气溶胶生成装置,其特征在于,所述气溶胶生成装置包括发热元件、振荡电路和控制器,所述振荡电路被配置产生交变磁场,所述发热元件通过所述交变磁场加热气溶胶生成基质,所述控制器包括CPU、总线、第一存储空间和温度测量单元,所述控制器被配置为执行权利要求1至8任一项所述的步骤。

10.一种包含计算机程序的非易失性计算机可读存储介质,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行权利要求1至8任一项所述的步骤。

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【技术特征摘要】

1.一种温度测量方法,其特征在于,所述温度测量方法应用于气溶胶生成装置,所述气溶胶生成装置包括发热元件、振荡电路和控制器,所述振荡电路被配置产生交变磁场,所述发热元件通过所述交变磁场加热气溶胶生成基质,所述控制器包括cpu、总线、第一存储空间和温度测量单元,所述方法包括步骤:

2.根据权利要求1所述的温度测量方法,其特征在于,所述温度采样信号通过如下方式采集:

3.根据权利要求2所述的温度测量方法,其特征在于,所述振荡电路为lc振荡电路,所述振荡电路包括第一电感和第一电容,所述温度采样信号包括:

4.根据权利要求2所述的温度测量方法,其特征在于,所述振荡电路为lc振荡电路,所述振荡电路包括第一电感和第一电容,所述温度采样信号包括数字电压信号,所述数字电压信号通过如下方式获得:

5.根据权利要求4所述的温度测量方法,其特征在于,所述模数转换的阈值为0或电源电压。

6.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈俊梁陈耿平王晓冉
申请(专利权)人:深圳麦时科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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