【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学透镜焦距测试，尤其涉及一种光学超振荡透镜焦距自动测试系统。
技术介绍
1、传统的光学成像系统由于受到光的衍射极限的限制，无法实现亚波长尺度的分辨率。超振荡透镜是一种特殊设计的透镜，它能够在远场区域产生超分辨率的光学成像。这种透镜通过精确控制光波的振幅和相位，使得光波在透镜的后焦面上形成超精细的焦点，从而突破传统光学系统的衍射极限，超振荡透镜通过特殊设计的光学结构，可以在远场区域产生亚波长尺度的光斑，从而实现超分辨率成像。
2、中国专利公开号：公开了一种cn106404357a包括：底座支架子系统及沿其长度方向上依次设置的光源子系统及成像子系统；所述的待测光学透镜设置在所述的光源子系统及成像子系统之间，并设置在所述的底座支架子系统上；一数据采集显示子系统，与所述的成像子系统通信连接；一驱动电源子系统，驱动所述的待测光学透镜进行变焦，并与所述的数据采集显示子系统通信连接；一步进电机子系统，驱动所述的成像子系统，并与所述的数据采集显示子系统通信连接。
3、现有技术中，由于很少采用超振荡透镜进行焦距测量，导致缺少根据对不同超振荡透镜焦距进行自动测试的系统。
技术实现思路
1、为此，本专利技术提供一种光学超振荡透镜焦距自动测试系统，用以克服现有技术中缺少根据对不同超振荡透镜焦距进行自动测试的系统的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供一种光学超振荡透镜焦距自动测试系统，包括，
3、轨道装置，包括：滑轨、滑块和伺服电机组，用
4、稳定冷光源，其设置在所述滑轨前端固定不动，用于提供平行光；
5、光栅，其与所述第二滑块连接，用于将经过超振荡透镜的所述平行光形成光斑；
6、成像装置，其安置在所述滑轨尾端，用于对所述光斑进行图像成像；
7、透镜夹持器，其与所述第一滑块连接安置在所述稳定冷光源与所述光栅之间，用于固定超振荡透镜；
8、图像采集装置，其与所述成像装置连接，用于对所述光斑进行拍照以及生成光斑连续图像；
9、测距装置，其平行安置在所述透镜夹持器一侧，用于测量超振荡透镜焦距；
10、控制模块，其与所述伺服电机组相连，用以控制伺服电机组运动速度和运动方向；
11、分析处理模块，其与所述伺服电机、所述图像采集装置和所述控制模块连接，用于对所述透镜夹持器移动距离和移速进行判定；以及根据所述光斑面积对所述光栅移动距离、移动方向和移速进行判定。
12、进一步地，所述分析处理模块，包括，
13、第一分析处理单元，根据所述图像采集装置采集的光斑数据对超振荡透镜是否完整进行判定；
14、第二分析处理单元，基于所述光斑数据生成光斑面积，根据光斑面积变化生成光斑面积变化曲线；
15、第三分析处理单元，用于对光栅移动速度和移动距离进行判定。
16、进一步地，所述伺服电机组，包括，
17、第一伺服电机，其与所述第一滑块连接，用于控制所述透镜夹持器移动速度和移动方向；
18、第二伺服电机，其与所述第二滑块连接，用于控制所述光栅移动速度和移动方向。
19、进一步地，所述第二分析处理单元通过超振荡透镜正向移动若干单位距离在所述图像采集装置形成的光斑对是否生成初始光斑进行判定。
20、进一步地，所述第二分析处理单元通过所述图像采集装置获取所述成像装置采集的光斑数据生成光斑连续图像，根据所述光斑连续图像的光斑面积变化生成光斑面积变化曲线。
21、进一步地，通过所述面积变化曲线对是否存有拐点进行判定，对不存有拐点的单项递增或单项递减曲线根据所述第一滑块移动距离与所述图像采集装置上的光斑面积计算其对应曲线的斜率。
22、进一步地，所述第二数据分析单元根据光斑面积变化曲线为单项递增或单项递减曲线判定光斑零点范围的位置方向，所述控制模块控制移动第一滑块向对应方向移动，第二分析单元通过所述图像采集装置检测是否出现光斑零点范围以及出现光斑零点范围后控制第一滑块停止移动
23、若没有出现光斑零点范围，则第三分析处理单元对第二滑块位置进行调整。
24、进一步地，光斑面积变化曲线为带有拐点的曲线，所述第二数据分析单元通过拐点位置对零点范围进行确定，以及根据零点范围控制第一滑块进行第一次调节。
25、进一步地，所述第一滑块进行第一次调节后，所述第二数据分析单元通过一次调节后的光斑面积与预设的光斑面积进行的实时对比结果对第一滑块进行二次调节。
26、进一步地，所述第一滑块进行二次调节后，所述第二数据分析模块通过所述图像采集装置采集的光斑面积进行实时检测，直至在前采集的光斑面积大于在后采集的光斑面积，控制模块控制第一模块停止移动。
27、与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于，焦距自动测试系统带有轨道装置所述分析处理模块根据所述图像采集装置采集的数据通过所述控制模块能够调节所述光栅与所述透镜夹持器位置，所述测距装置能够对所述超振荡透镜的焦距进行更精确测量，避免因光斑不同导致焦距测量不准确。
28、进一步地，所述第一伺服电机与所述第一滑块连接，所述第二分析处理单元能够通过控制模块对所述透镜夹持器移动速度和移动方向进行控制，能够根据光斑大小对透镜夹持器进行不同方向调节，避免因只能对单一方向进行调节导致测量超振荡透镜焦距产生误差。
29、进一步地，所述第二伺服电机与所述第二滑块连接，所述第三分析处理单元能够通过控制模块对所述光栅移动速度和移动方向进行控制，能够根据光斑大小对光栅进行不同方向调节，避免因只能对单一方向进行调节导致测量超振荡透镜焦距产生误差。
30、进一步地，所述第二分析处理单元对图像采集装置采集的光斑连续图像进行面积变化分析，根据光斑连续图像的面积变化生成关于光斑连续图像面积变化曲线，若光斑面积变化曲线不存有拐点，第二分析单元根据第一滑块移动时所述图像采集装置生成光斑零点范围，则控制模块控制第一滑块降速并停止，所述测距装置测量超振荡透镜焦距，能够对焦距进行跟精确测量，对不能生成光斑零点范围的超震荡透镜，第三数据分析单元对第二滑块位置进行调整。
31、进一步地，通过透镜在正向移动单位距离对光斑零点范围进行初步估算，避免因超振荡透镜在正向移动速度过快导致通过超振荡透镜位置理论理想光斑点，所述超振荡透镜需在反向方向移动以确定其超振荡透镜位置理想点，导致测量焦距时间延长，所述第二分析处理单元根据所述超振荡透镜是否能找到光斑理想点来确定所述光栅是否移动，能够有效减少测量焦距过程中的误差以及时间。
32、进一步地，所述第二分析处理单元根据光斑图像面积对所述超振荡透镜移动速度进行二次调节，能够根据光斑图像面积面积大小对速度进行二次调节，光斑图像面积越小，超振荡透镜移动速度进本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种光学超振荡透镜焦距自动测试系统，其特征在于，包括，
2.根据权利要求1所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，所述分析处理模块，包括，
3.根据权利要求1所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，所述伺服电机组，包括，
4.根据权利要求2所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，所述第二分析处理单元通过超振荡透镜正向移动距离在所述图像采集装置形成的光斑对是否生成初始光斑进行判定。
5.根据权利要求4所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，所述第二分析处理单元通过所述图像采集装置获取所述成像装置采集的光斑数据生成光斑连续图像，根据所述光斑连续图像的光斑面积变化生成光斑面积变化曲线。
6.根据权利要求5所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，通过所述面积变化曲线对是否存有拐点进行判定，对不存有拐点的单项递增或单项递减曲线根据所述第一滑块移动距离与所述图像采集装置上的光斑面积计算其对应曲线的斜率。
7.根据权利要求2所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在
8.根据权利要求7所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，光斑面积变化曲线为带有拐点的曲线，所述第二数据分析单元通过拐点位置对零点范围进行确定，以及根据零点范围控制第一滑块进行第一次调节。
9.根据权利要求8所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，所述第一滑块进行第一次调节后，所述第二数据分析单元通过一次调节后的光斑面积与预设的光斑面积进行的实时对比结果对第一滑块进行二次调节。
10.根据权利要求1所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，所述第一滑块进行二次调节后，所述第二数据分析模块通过所述图像采集装置采集的光斑面积进行实时检测，直至在前采集的光斑面积大于在后采集的光斑面积，控制模块控制第一模块停止移动。
...【技术特征摘要】
1.一种光学超振荡透镜焦距自动测试系统，其特征在于，包括，
2.根据权利要求1所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，所述分析处理模块，包括，
3.根据权利要求1所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，所述伺服电机组，包括，
4.根据权利要求2所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，所述第二分析处理单元通过超振荡透镜正向移动距离在所述图像采集装置形成的光斑对是否生成初始光斑进行判定。
5.根据权利要求4所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，所述第二分析处理单元通过所述图像采集装置获取所述成像装置采集的光斑数据生成光斑连续图像，根据所述光斑连续图像的光斑面积变化生成光斑面积变化曲线。
6.根据权利要求5所述的光学超振荡透镜焦距自动测试系统,其特征在于，通过所述面积变化曲线对是否存有拐点进行判定，对不存有拐点的单项递增或单项递减曲线根据所述第一滑块移动距离与所述图像采集装置上的光斑面积计算其对应曲线的斜率。
7.根据权利要求2所述的光学...
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