【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及激光修复，尤其涉及一种多工件台用激光修复方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、随着材料科学、微电子技术以及半导体制造与应用的迅猛发展，显示面板的应用领域日益拓展；尽管制造设备和生产工艺持续优化与提升，但生产过程中的复杂工艺仍不可避免地导致产品出现缺陷，例如亮点、闪点和碎亮点等问题，这些缺陷对显示质量产生负面影响，进而降低产品良品率；此外，随着显示面板尺寸的不断增加，相比在制造过程中丢弃存在缺陷的基板的这一选择，修复这些缺陷基板变得更为经济；因此，利用激光技术修复不良面板已成为一种普遍的面板修复方法。
2、激光修复流程通常包括上料、对准、检测评估、修复以及复检下料五个主要环节，现有的生产车间中，该修复过程为半自动化过程，即需要人工介入以确定修复方案和具体位置；目前，面板修复效率的瓶颈在于人工检测和判定环节，只有在人工判定完成后才能开始修复工作，而修复完成后还需人工复检，这种效率限制使得面板修复设备难以与流水线生产同步；进一步地，由于每个面板需要修复的数量不确定，且不同修复方法所需时间各异，这使得将修复工作整合进流水线生产变得复杂。
3、目前的生产车间，普遍多台修复设备，配合搬运机械臂和调度软件，实时向空闲设备输送待修复面板，即通过增加修复设备数量来解决生产效率的瓶颈问题；然而，这种方法存在占地面积大、设备冗余风险高，以及潜在的资源浪费等缺点。
4、可见，现有技术还有待改进和提高。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的不足，本专利
2、本专利技术第一方面提供了一种多工件台用激光修复方法，包括：获取摄像装置反馈的、标定板位于检测判定工位上、修复工位上以及复检工位上的标定图像数据，对标定图像数据进行坐标提取处理，得到特征坐标信息；基于特征坐标信息完成检测判定工位、修复工位以及复检工位与摄像装置之间的坐标标定，得到检测判定位姿矩阵、修复位姿矩阵和复检位姿矩阵；判断摄像装置的检测视野倍率是否小于预设的倍率阈值，若是，则获取工作台位于检测判定工位上的待检测图像数据，基于待检测图像数据以及检测判定位姿矩阵确定第一待修复位置；当工作台位于修复工位上时，基于第一待修复位置以及修复位姿矩阵确认第一待作业位置，并基于所确认的第一待作业位置对工作台上的缺陷面板进行激光修复；获取工作台位于复检工位上的第一复检图像数据，基于第一复检图像数据、第一待修复位置以及复检位姿矩阵，对工作台上的缺陷面板进行复检，得到第一复检结果。
3、可选的，在本专利技术第一方面的第一种实施方式中，所述判断摄像装置的检测视野倍率是否小于预设的倍率阈值，之后还包括：若否，则获取摄像装置反馈的、标定板位于校准对齐工位上的校准图像数据，对校准图像数据进行坐标提取处理，得到校准坐标信息；基于校准坐标信息完成校准对齐工位与摄像装置之间的坐标标定，得到校准对齐位姿矩阵；获取工作台位于校准对齐工位上的待校准图像数据，基于待校准图像数据以及校准对齐位姿矩阵确定第二待修复位置；当工作台位于修复工位上时，基于第二待修复位置、检测判定位姿矩阵和修复位姿矩阵确认第二待作业位置，并基于所确认的第二待作业位置对工作台上的缺陷面板进行激光修复；获取工作台位于复检工位上的第二复检图像数据，基于第二复检图像数据、第二待修复位置以及复检位姿矩阵，对工作台上的缺陷面板进行复检，得到第二复检结果。
4、可选的，在本专利技术第一方面的第二种实施方式中，所述获取摄像装置反馈的、标定板位于检测判定工位上、修复工位上以及复检工位上的标定图像数据，对标定图像数据进行坐标提取处理，得到特征坐标信息，具体包括：获取摄像装置反馈的、标定板位于检测判定工位上、修复工位上以及复检工位上的标定图像数据，所述标定图像数据包括标定板分别位于检测判定工位上、修复工位上以及复检工位上的、多个角度的标定图像；使用opencv库对多个标定图像逐一进行灰度转换处理和滤波去噪处理，得到预处理标定图像数据；使用harris角点检测算法对预处理标定图像数据进行特征提取处理，得到特征坐标信息，并将特征坐标信息保存为csv格式的数据文件。
5、可选的，在本专利技术第一方面的第三种实施方式中，所述基于特征坐标信息完成检测判定工位、修复工位以及复检工位与摄像装置之间的坐标标定，得到检测判定位姿矩阵、修复位姿矩阵和复检位姿矩阵，具体包括：获取标定板的实际特征坐标信息，基于实际特征坐标信息和所述特征坐标信息，使用张正友标定算法计算摄像装置的外参矩阵；获取检测判定工位的三维位置信息、修复工位的三维位置信息以及复检工位的三维位置信息，基于所获取的三个三维位置信息以及所计算的外参矩阵，分别计算检测判定位姿矩阵、修复位姿矩阵和复检位姿矩阵。
6、可选的，在本专利技术第一方面的第四种实施方式中，所述获取工作台位于检测判定工位上的待检测图像数据，基于待检测图像数据以及检测判定位姿矩阵确定第一待修复位置，具体包括：获取工作台位于检测判定工位上的待检测图像数据，所述待检测图像数据包括位于工作台上的缺陷面板的缺陷面板图像；将缺陷面板图像输入至基于yolov3 tiny网络预构建的缺陷检测模型中，得到缺陷标记图像，所述缺陷标记图像上记录上缺陷位置信息，设所述缺陷位置信息为；设所述检测判定位姿矩阵为，基于缺陷位置信息以及检测判定位姿矩阵确定第一待修复位置，所述第一待修复位置为。
7、可选的，在本专利技术第一方面的第五种实施方式中，所述当工作台位于修复工位上时，基于第一待修复位置以及修复位姿矩阵确认第一待作业位置，并基于所确认的第一待作业位置对工作台上的缺陷面板进行激光修复，具体包括：判断是否存在空余的修复工位，若不存在，将工作台移送至等待工位；当出现空余修复工位时，将工作台移送至修复工位上；设所述修复位姿矩阵为，基于第一待修复位置以及修复位姿矩阵确认第一待作业位置，所述第一待作业位置为/；基于所确认的第一待作业位置对工作台上的缺陷面板进行激光修复。
8、可选的，在本专利技术第一方面的第六种实施方式中，所述获取工作台位于复检工位上的第一复检图像数据，基于第一复检图像数据、第一待修复位置以及复检位姿矩阵，对工作台上的缺陷面板进行复检，得到第一复检结果，具体包括：基于第一待修复位置以及复检位姿矩阵，获取第一复检位置信息；获取工作台位于复检工位上的第一复检图像数据，使用opencv库对第一复检图像数据进行灰度转换处理和滤波去噪处理，得到第一预处理复检图像数据；基于第一预处理复检图像数据和第一复检位置信息，采用mura评估技术对工作台上的缺陷面板进行复检，得到第一复检结果。
9、本专利技术第二方面提供了一种多工件台用激光修复装置，包括：提取模块，用于获取摄像装置反馈的、标定板位于检测判定工位上、修复工位上以及复检工位上的标定图像数据，对标定图像数据进行坐标提取处理，得到特征坐标信息；标定模块，用于基于特征坐标信息完成检测判定工位、修复工位以及复检工位与摄像装置之间的坐标标定，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，所述判断摄像装置的检测视野倍率是否小于预设的倍率阈值，之后还包括：
3.根据权利要求1所述的一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，所述获取摄像装置反馈的、标定板位于检测判定工位上、修复工位上以及复检工位上的标定图像数据，对标定图像数据进行坐标提取处理，得到特征坐标信息，具体包括：
4.根据权利要求1所述的一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，所述基于特征坐标信息完成检测判定工位、修复工位以及复检工位与摄像装置之间的坐标标定，得到检测判定位姿矩阵、修复位姿矩阵和复检位姿矩阵，具体包括：
5.根据权利要求1所述的一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，所述获取工作台位于检测判定工位上的待检测图像数据，基于待检测图像数据以及检测判定位姿矩阵确定第一待修复位置，具体包括：
6.根据权利要求5所述的一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，所述当工作台位于修复工位上时，基于第一待修复位置以及修复位姿矩阵确认第一待作
7.根据权利要求1所述的一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，所述获取工作台位于复检工位上的第一复检图像数据，基于第一复检图像数据、第一待修复位置以及复检位姿矩阵，对工作台上的缺陷面板进行复检，得到第一复检结果，具体包括：
8.一种多工件台用激光修复装置，其特征在于，包括：
9.一种多工件台用激光修复设备，其特征在于，所述多工件台用激光修复设备包括：存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令；
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有指令，其特征在于，所述指令被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述多工件台用激光修复方法的各个步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，所述判断摄像装置的检测视野倍率是否小于预设的倍率阈值，之后还包括：
3.根据权利要求1所述的一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，所述获取摄像装置反馈的、标定板位于检测判定工位上、修复工位上以及复检工位上的标定图像数据，对标定图像数据进行坐标提取处理，得到特征坐标信息，具体包括：
4.根据权利要求1所述的一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，所述基于特征坐标信息完成检测判定工位、修复工位以及复检工位与摄像装置之间的坐标标定，得到检测判定位姿矩阵、修复位姿矩阵和复检位姿矩阵，具体包括：
5.根据权利要求1所述的一种多工件台用激光修复方法，其特征在于，所述获取工作台位于检测判定工位上的待检测图像数据，基于待检测图像数据以及检测判定位姿矩阵确定第一待修复位置，具体包括：
...【专利技术属性】
技术研发人员：岑洎涛，马章宇，曹艳波，田兴志，
申请(专利权)人：季华实验室，
类型：发明
国别省市：
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