【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路，具体涉及一种集成电路测试系统的点检方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、集成电路测试技术的飞速发展为集成电路的广泛应用做出了巨大的贡献。在集成电路研制、生产、应用等各个阶段，都需要进行反复多次的检验、测试以确保产品质量，保障生产出符合系统要求的产品。集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，并将检测得到的集成电路的输出响应与预期输出比较，评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。
2、外围硬件、环境的差异会给测试系统带来一定的系统误差，进而导致测试结果出现偏差，引发严重的生产质量事故；因此为确保集成电路测试的准确，提高集成电路测试结果的可靠性，技术人员需要定期对集成电路测试系统进行点检，以检测测试系统当前是否出现故障或测试结果异常等情况。
3、现有技术的点检测试，主要依靠技术人员的自主操作，通过技术人员手动将指定的点检样品放置在分选机的测试工位上，再控制测试机对该集成电路进行测试；为保证点检结果准确性，通常需要测试多颗点检样品，如此需要技术人员多次重复上述操作，进而整个点检过程耗时较多，且只能使用少量样品进行点检，个别测试过程中出现测试值偏差较大时，对于测试值的准确性有较大影响；同时，由于手工上料的过程中集成电路安装位置的准确度无法达到机械手操作的精确程度，因此手工上料可能出现集成电路管脚意外刮伤测试工位接触面的情况，对测试装置造成损害。此外，在点检操作开始前，还需要技术人员清空测试系统的操作台面，从而避免在点检操作时将
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了一种集成电路测试系统的点检方法、装置、设备及存储介质，以解决技术人员手动对集成电路测试系统进行点检时存在的诸多问题。
2、第一方面，本专利技术提供了一种集成电路测试系统的点检方法，应用于测试机，集成电路测试系统的点检方法包括：获取历史测试数据，根据历史测试数据确定当前被测件所属料管的料管类型；当料管类型为点检料管时，进入点检模式，依次对点检料管内的多个被测件进行测试，得到点检料管内多个被测件的多个测试结果；根据所有点检料管的测试结果，得到点检结果。
3、本专利技术在集成电路测试系统中增设装有点检样品的点检料管，在集成电路测试过程中将点检料管预置于分选机的上料区，集成电路系统在对上料区进行处理时能够根据历史测试数据自动识别出点检料管，并依次对点检料管内的多个被测件进行测试，得到所述点检料管内多个所述被测件的多个测试结果，根据所有点检料管的测试结果得到点检结果，实现对集成电路测试系统的自动点检。
4、在一种可选的实施方式中，获取历史测试数据，根据历史测试数据确定当前被测件所属料管的料管类型，包括：获取最近完成测试的第一数量的被测件对应的历史测试数据；根据历史测试数据确定最近完成测试的第一数量的被测件是否为连续的第一数量的标志样品；若为连续的第一数量的标志样品，则当前被测件所属料管的料管类型为点检料管。
5、也就是说，通过在点检料管中连续设置第一数量的标志样品，集成电路系统在对上料区进行处理通过确定最近完成测试的第一数量的被测件是否为连续的第一数量的标志样品，可以准确的识别出当前被测件所属料管是否为点检料管。
6、在一种可选的实施方式中，对所述点检料管内的任一被测件i进行测试包括：响应于分选机发送的所述被测件i的上料完成信号，向所述分选机发送测试信号；接收所述分选机发送的所述被测件i的测试结果，并保存所述被测件i的测试结果。
7、由此可以对点检料管内的多个被测件进行自动测试。
8、在一种可选的实施方式中，接收分选机发送的测试结果，并保存测试结果之后，还包括：生成第一分选信号并发送至分选机，以使分选机根据第一分选信号，将被测件i置于下料区的空料管。
9、由此可以将被测件下料至特定的空料管中。
10、在一种可选的实施方式中，在所述对所述点检料管内的任一被测件i进行测试之后，还包括：根据所述点检模式下多个所述被测件的多个测试结果，确定点检样品的数量，判断所述数量是否达到预设阈值；若所述数量达到所述预设阈值，则退出点检模式；或者，根据所述点检模式下多个所述被测件的多个测试结果，确定是否存在连续的第二数量的标志样品；若存在连续的第二数量的标志样品，则退出所述点检模式。
11、也就是说，在进入点检模式后，可以通过统计点检样品的数量，在点检样品的数量达到预设的阈值时，自动退出点检模式；也可以点检料管中设置第二数量的标志样品，通过判断是否存在连续的第二数量的标志样品，确定点检料管是否测试完成。
12、在一种可选的实施方式中，获取历史测试数据，根据历史测试数据确定当前被测件所属料管的料管类型之后，还包括：当料管类型不为点检料管时，响应于分选机发送的上料完成信号，向分选机发送测试信号；接收分选机发送的测试结果，根据测试结果确定当前被测件的类型；根据被测件的类型生成第二分选信号，并发送至分选机，以使分选机根据第二分选信号对被测件进行分选下料。
13、由此可以完成对当前被测件的自动测试，并将当前被测件根据类型进行下料，以使相同类型的被测件能够下料至同一料管。
14、第二方面，本专利技术还提供了一种集成电路测试系统的点检方法，应用于分选机，集成电路测试系统的点检方法包括：响应于点检交互指令或预设时间的到达，将点检料管置于上料区或生成指示上料操作的交互指令；依次对上料区的被测件进行上料、测试，生成测试结果并发送至测试机，以使测试机根据测试结果生成第一分选信号或第二分选信号；接收测试机发送的第一分选信号或第二分选信号，根据第一分选信号将被测件置于下料区的空料管，或根据第二分选信号将被测件进行分选下料。
15、本专利技术提供的集成电路测试系统的点检方法，响应于点检交互指令或预设时间的到达，将点检料管置于分选机的上料区或生成指示上料操作的交互指令，由此可以使集成电路测试系统的测试机在对上料区进行处理时自动识别出点检料管，并依次对点检料管内多个点检样品进行测试，根据多个点检样品的测试结果得到点检结果，实现对集成电路测试系统的自动点检。
16、在一种可选的实施方式中，依次对上料口的被测集成电路进行上料、测试，生成测试结果并发送至测试机，以使测试机根据测试结果生成第一分选信号或第二分选信号，包括：对上料区的被测件进行上料，并向测试机发送上料完成信号；接收测试机发送的测试信号，根据测试信号对被测集成电路进行测试，并得到测试结果；将测试结果发送至测试机，以使测试机根据测试结果生成第一分选信号或第二分选信号。
17、由此可以完成对被测件的自动测试或自动点检。
18、第三方面，本专利技术还提供了一种集成电路测试系统的点检方法，点检方法包括：分选机响应于点检交互指令或预设时间的到达，将点检料管置于上料区或生成指示上料操作的交互指令，以实现点检料管的上料；测试机获取历史测试数据，根据历本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，应用于测试机，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，所述获取历史测试数据，根据所述历史测试数据确定当前被测件所属料管的料管类型，包括：
3.根据权利要求1所述集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，对所述点检料管内的任一被测件i进行测试包括：
4.根据权利要求3所述集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，在所述接收所述分选机发送的所述被测件i的测试结果，并保存所述被测件i的测试结果之后，还包括：
5.根据权利要求3所述集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，在所述对所述点检料管内的任一被测件i进行测试之后，还包括：
6.根据权利要求1所述集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，还包括：
7.一种集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，应用于分选机，所述点检方法包括：
8.根据权利要求7所述集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，所述依次对上料口的被测集成电路进行上料、测试，生成测试结果并发送至测试机，以使测试机
9.一种集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，所述点检方法包括：
10.一种集成电路测试系统的点检装置，其特征在于，应用于测试机，包括：
11.一种集成电路测试系统的点检装置，其特征在于，应用于分选机，包括：
12.一种集成电路测试系统，其特征在于，所述测试系统包括测试机和分选机；
13.一种计算机设备，其特征在于，包括：
14.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行权利要求1至9中任一项所述的集成电路测试系统的点检方法。
15.一种计算机程序产品，其特征在于，包括计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行权利要求1至9中任一项所述的集成电路测试系统的点检方法。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，应用于测试机，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，所述获取历史测试数据，根据所述历史测试数据确定当前被测件所属料管的料管类型，包括：
3.根据权利要求1所述集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，对所述点检料管内的任一被测件i进行测试包括：
4.根据权利要求3所述集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，在所述接收所述分选机发送的所述被测件i的测试结果，并保存所述被测件i的测试结果之后，还包括：
5.根据权利要求3所述集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，在所述对所述点检料管内的任一被测件i进行测试之后，还包括：
6.根据权利要求1所述集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，还包括：
7.一种集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，应用于分选机，所述点检方法包括：
8.根据权利要求7所述集成电路测试系统的...
【专利技术属性】
技术研发人员：张健，金浩，边垚垚，
申请(专利权)人：杭州领策科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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