System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 软磁磁芯磁性能检测工艺、磁测量夹具及磁性能检测系统技术方案_技高网

软磁磁芯磁性能检测工艺、磁测量夹具及磁性能检测系统技术方案

技术编号:43463792 阅读:5 留言:0更新日期:2024-11-27 13:01
本发明专利技术提供一种软磁磁芯磁性能检测工艺,其包括以下步骤:步骤S1、设置多个导电触点;各所述导电触点之间连接分组的初级线圈引线及次级线圈引线,每组所述初级线圈引线及次级线圈引线中引线数量均为两条;将分组的所述初级线圈引线及次级线圈引线分别连接至测试装置中;步骤S2、使磁连接件穿入软磁磁芯的闭合磁路中,令磁连接件与各所述导电触点电性触接;所述磁连接件、各所述导电触点及引出的所述初级线圈引线与次级线圈引线,形成围绕所述软磁磁芯的线圈回路;步骤S3、启动测试装置,以使所述软磁磁芯与所述线圈回路之间产生电磁感应,然后对所述软磁磁芯进行磁性能检测;本发明专利技术通过该软磁磁芯磁性能检测工艺应用,能通过设置以导电触点及磁连接件的拆装配合关系,能令置入的软磁磁芯简单形成线圈回路,在通过设置以引出的初级线圈引线、次级线圈引线与测试装置的固定连接关系,即可简单高效地完成软磁磁芯的磁性能检测;该检测工艺可避免对软磁磁芯的磁性能检测过程中重复地对初级线圈和次级线圈进行线圈的拆装绕设,精简了对软磁磁芯的磁性能检测流程。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及软磁磁芯检测,具体地,涉及一种软磁磁芯磁性能检测工艺、磁测量夹具及磁性能检测系统


技术介绍

1、软磁材料具有优异的磁性能并广泛应用于信息技术、航空航天、新能源汽车等领域。软磁材料的磁性能测试是依据电磁感应原理,对于环形、矩形、cd形等具有闭合磁路结构的试样,将磁化线圈(初级线圈)n1和测量线圈(次级线圈)n2绕制在试样上组成一个空载变压器连接测试装置进行静态/动态磁参数测试,主要包括:起始磁导率、矫顽力、饱和磁感应强度、剩余磁化强度,磁滞回线和磁化曲线等。在试样测试前需要绕制两组线圈,试样较少时通过人工绕制、试样较多时可通过机器绕制但需要人工进一步确认线圈匝数的准确性,对于大批量的样品检验效率很低;试样的两组线圈会有两组引线要接到测试设备上,长时间的作业会出现初/次引线交叉接线而造成测试错误和仪器损坏的风险。试样测试后需要拆除线圈,再次增加了测试时间降低了检验效率。软磁材料具有应力敏感性,在绕线和拆线时会使试样受到外力的作用,从而会影响测试结果的准确性。


技术实现思路

1、本专利技术为克服现有技术的不足,而提供一种软磁磁芯磁性能检测工艺、磁测量夹具及磁性能检测系统进行应用。

2、软磁磁芯磁性能检测工艺,其包括以下步骤:步骤s1、设置多个导电触点;各所述导电触点之间连接分组的初级线圈引线及次级线圈引线,每组所述初级线圈引线及次级线圈引线中引线数量均为两条;将分组的所述初级线圈引线及次级线圈引线分别连接至测试装置中;步骤s2、使磁连接件穿入软磁磁芯的闭合磁路中,令磁连接件与各所述导电触点电性触接;所述磁连接件、各所述导电触点及引出的所述初级线圈引线与次级线圈引线,形成围绕所述软磁磁芯的线圈回路;步骤s3、启动测试装置,以使所述软磁磁芯与所述线圈回路之间产生电磁感应,然后对所述软磁磁芯进行磁性能检测。

3、进一步地,于步骤s2中,设置磁测量夹具的应用,所述磁测量夹具包括两侧设置的第一夹件及第二夹件,各所述导电触点设置于所述第一夹件与第二夹件的两侧夹持端面之间;所述磁连接件包括带导电层的穿接杆,所述软磁磁芯呈环形状以形成闭合磁路;令所述穿接杆穿入所述软磁磁芯的环内侧,并以两侧所述第一夹件与第二夹件对所述穿接杆的导电层进行夹持,所述导电层与各所述导电触点电性触接;所述导电层、各所述导电触点及引出的所述初级线圈引线与次级线圈引线之间形成对所述软磁磁芯围绕的线圈回路。

4、进一步地,于步骤s2中,设置用于软磁磁芯置入的测试工位,使多个软磁磁芯穿接于所述磁连接件上,各软磁磁芯朝往测试工位而顺序排布;还包括:步骤s4,当前一软磁磁芯作磁性能检测完毕后,令检测完毕后的所述软磁磁芯于磁连接件移出;而后再将后一软磁磁芯置入至所述测试工位中,作磁性能检测准备;步骤s5,重复步骤s2至s4,以进行多个软磁磁芯的磁性能检测。

5、于步骤s1中,各所述导电触点之间由若干连接线连接并引出初级线圈引线和次级线圈引线;所述连接线、导电触点及磁连接件之间形成用于围绕所述软磁磁芯的线圈匝数比设置的导电回路。

6、进一步地,通过调整各带连接线或引出初级线圈引线和次级线圈引线的各所述导电触点的连接关系和/或数量关系,以调整所述导电回路中的线圈匝数比。

7、进一步地,所述具有闭合磁路的软磁磁芯包括圆环形软磁磁芯或跑道环形软磁磁芯或椭圆环形软磁磁芯。

8、磁测量夹具,于上述所述软磁磁芯磁性能检测工艺中应用,其结构包括:两侧分设的第一夹件及第二夹件,所述第一夹件内侧设置至少两个a导电触点,所述第二夹件内侧设置至少两个b导电触点,所述第一夹件与第二夹件之间形成用于软磁磁芯置入的测试工位,各所述a导电触点与b导电触点于所述测试工位两侧分设设置;其中,各所述a导电触点与b导电触点之间,连接引出分组的初级线圈引线及次级线圈引线。

9、进一步地,各所述a导电触点与b导电触点于所述测试工位两侧位置一一对应设置;和/或,各所述a导电触点与b导电触点于所述测试工位两侧数量平均分设设置;和/或,各所述a导电触点与b导电触点于所述测试工位两侧沿直线方向而等距布置;各所述a导电触点相对于所述第一夹件可装接拆卸设置;和/或,各所述b导电触点相对于所述第二夹件可装接拆卸设置。

10、所述第一夹件与第二夹件之间,连接驱动其相互靠接、分离的夹持驱动装置。

11、磁性能检测系统,其包括:上述所述的磁测量夹具、磁连接件、用于对软磁材料进行磁性能参数检测的测试装置;所述测试装置设置励磁接口和采样接口,使所述初级线圈引线与所述励磁接口连接,所述次级线圈引线与所述采样接口连接,再应用如上述所述的软磁磁芯磁性能检测工艺对软磁磁芯进行磁性能检测。

12、进一步地,所述磁测量夹具应用如上述所述的磁测量夹具;所述磁连接件包括穿接杆,所述穿接杆上外周设置导电层;导电层包括第一导电件及第二导电件,所述第一导电件沿所述穿接杆外侧位置布置,所述第二导电件于所述第一导电件外侧位置布置;所述第二导电件、第一导电件及穿接杆之间形成梯级状;各所述a导电触点与b导电触点呈梯级状地适配所述第二导电件、第一导电件位置而设置。

13、进一步地,所述穿接杆呈长条板状,其具有两侧的压合端面,所述第一导电件包括呈长条片状的第一导电薄片,所述第二导电件包括呈长条片状的第二导电薄片,所述第一导电薄片、第二导电薄片及穿接杆依次布置,所述第一导电薄片于第二导电薄片之间和/或所述第二导电薄片与穿接杆之间设置绝缘层。

14、本专利技术的有益效果在于:

15、本专利技术通过该软磁磁芯磁性能检测工艺应用,能通过设置以导电触点及磁连接件的拆装配合关系,能令置入的软磁磁芯简单形成线圈回路,在通过设置以引出的初级线圈引线、次级线圈引线与测试装置的固定连接关系,即可简单高效地完成软磁磁芯的磁性能检测;该检测工艺可避免对软磁磁芯的磁性能检测过程中重复地对初级线圈和次级线圈进行线圈的拆装绕设,精简了对软磁磁芯的磁性能检测流程。

16、通过调整设置导电触点的数量、各导电触点与连接线之间的连接关系,可简单地实现对软磁磁芯上绕设线圈匝数比的调整,满足对软磁磁芯在不同线圈匝数比下的磁性能情况进行检测的应用需求。

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【技术保护点】

1.软磁磁芯磁性能检测工艺,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的软磁磁芯磁性能检测工艺,其特征在于,于步骤S2中,设置磁测量夹具的应用,所述磁测量夹具包括两侧设置的第一夹件及第二夹件,各所述导电触点设置于所述第一夹件与第二夹件的两侧夹持端面之间;

3.如权利要求1所述的软磁磁芯磁性能检测工艺,其特征在于,于步骤S2中,设置用于软磁磁芯置入的测试工位,使多个软磁磁芯穿接于所述磁连接件上,各软磁磁芯朝往测试工位而顺序排布;还包括:

4.如权利要求1所述的软磁磁芯磁性能检测工艺,其特征在于,各所述导电触点之间由若干连接线连接并引出初级线圈引线和次级线圈引线;所述连接线、导电触点及磁连接件之间形成用于围绕所述软磁磁芯的线圈匝数比设置的导电回路。

5.如权利要求4所述的软磁磁芯磁性能检测工艺,其特征在于,通过调整各带连接线或引出初级线圈引线和次级线圈引线的各所述导电触点的连接关系和/或数量关系,以调整所述导电回路中的线圈匝数比。

6.磁测量夹具,其特征在于,于权利要求1至5任一所述软磁磁芯磁性能检测工艺中应用,其结构包括:两侧分设的第一夹件及第二夹件,所述第一夹件内侧设置至少两个A导电触点,所述第二夹件内侧设置至少两个B导电触点,所述第一夹件与第二夹件之间形成用于软磁磁芯置入的测试工位,各所述A导电触点与B导电触点于所述测试工位两侧分设设置;其中,各所述A导电触点与B导电触点之间,连接引出分组的初级线圈引线及次级线圈引线。

7.如权利要求6所述的磁测量夹具,其特征在于,各所述A导电触点与B导电触点于所述测试工位两侧位置一一对应设置;和/或,各所述A导电触点与B导电触点于所述测试工位两侧数量平均分设设置;和/或,各所述A导电触点与B导电触点于所述测试工位两侧沿直线方向而等距布置;

8.磁性能检测系统,其特征在于,其包括:如权利要求6或7所述的磁测量夹具、磁连接件、用于对软磁材料进行磁性能参数检测的测试装置;所述测试装置设置励磁接口和采样接口,使所述初级线圈引线与所述励磁接口连接,所述次级线圈引线与所述采样接口连接,再应用如权利要求1至5任一所述的软磁磁芯磁性能检测工艺对软磁磁芯进行磁性能检测。

9.如权利要求8所述的磁性能检测系统,其特征在于,所述磁连接件包括穿接杆,所述穿接杆上外周设置导电层;导电层包括第一导电件及第二导电件,所述第一导电件沿所述穿接杆外侧位置布置,所述第二导电件于所述第一导电件外侧位置布置;所述第二导电件、第一导电件及穿接杆之间形成梯级状;各所述A导电触点与B导电触点呈梯级状地适配所述第二导电件、第一导电件位置而设置。

10.如权利要求9所述的磁性能检测系统,其特征在于,所述穿接杆呈长条板状,其具有两侧的压合端面,所述第一导电件包括呈长条片状的第一导电薄片,所述第二导电件包括呈长条片状的第二导电薄片,所述第一导电薄片、第二导电薄片及穿接杆依次布置,所述第一导电薄片于第二导电薄片之间和/或所述第二导电薄片与穿接杆之间设置绝缘层。

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【技术特征摘要】

1.软磁磁芯磁性能检测工艺,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的软磁磁芯磁性能检测工艺,其特征在于,于步骤s2中,设置磁测量夹具的应用,所述磁测量夹具包括两侧设置的第一夹件及第二夹件,各所述导电触点设置于所述第一夹件与第二夹件的两侧夹持端面之间;

3.如权利要求1所述的软磁磁芯磁性能检测工艺,其特征在于,于步骤s2中,设置用于软磁磁芯置入的测试工位,使多个软磁磁芯穿接于所述磁连接件上,各软磁磁芯朝往测试工位而顺序排布;还包括:

4.如权利要求1所述的软磁磁芯磁性能检测工艺,其特征在于,各所述导电触点之间由若干连接线连接并引出初级线圈引线和次级线圈引线;所述连接线、导电触点及磁连接件之间形成用于围绕所述软磁磁芯的线圈匝数比设置的导电回路。

5.如权利要求4所述的软磁磁芯磁性能检测工艺,其特征在于,通过调整各带连接线或引出初级线圈引线和次级线圈引线的各所述导电触点的连接关系和/或数量关系,以调整所述导电回路中的线圈匝数比。

6.磁测量夹具,其特征在于,于权利要求1至5任一所述软磁磁芯磁性能检测工艺中应用,其结构包括:两侧分设的第一夹件及第二夹件,所述第一夹件内侧设置至少两个a导电触点,所述第二夹件内侧设置至少两个b导电触点,所述第一夹件与第二夹件之间形成用于软磁磁芯置入的测试工位,各所述a导电触点与b导电触点于所述测试工位两侧分设设置;其中,各所述a导电触点与b导电触点之间,连接引出分组的初级线圈引线及次级线圈...

【专利技术属性】
技术研发人员:袁振亮王策钟华
申请(专利权)人:佛山中研磁电科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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