一种长基板COC老化测试治具制造技术

本技术公开了一种长基板COC老化测试治具，属于激光半导体技术领域，包括盖板和底座，盖板底部开槽设有安装槽，安装槽内均固定安装有透镜，透镜用于会聚光束；底座上端面开槽并于槽内装配基板，基板上均设置有激光器，激光器用于发射激光。本技术的长基板COC老化测试治具，通过透镜将激光器发射的发散光会聚成准直平行光，实现聚光功能，从而更精准的、更多的投射在光电探测器PD上；并且在满足单通道的激光器测试后，还可以通过多个所述透镜的配合使用实现多通道测试；从而会聚发散光来避免了激光器激光发射过程中固有的发散角问题，提升了光电探测器PD的光接受率，进而满足测试需求，保证测试效果。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于激光半导体，具体涉及一种长基板coc老化测试治具。

技术介绍

1、半导体激光器是光收发模块的核心器件，其稳定性直接影响模块的产品质量，长基板coc(coc是ch ip on carr ier的缩写，意为芯片贴装在载体上。coc技术是一种将芯片直接贴装在一个载体上的封装技术，载体也称为封装基板或封装载板，它可以是某种陶瓷材料或特种塑料，它是裸芯片与外界电路之间的桥梁，也是光电ic的重要组成部分。)对coc进行老化测试，就是对coc的一个或多个关键运行参数的变化进行筛选，剔除早期失效，提高产品可靠性，可以有效的对老化失效的coc产品进行筛选。

2、现有老化测试治具在进行coc测试时，通常直接采用外接光电探测器pd的方式对激光器的光功率进行测量，但是对于一些特殊的长基板coc，由于基板较长导致光电探测器pd位置距离基板边缘较远(大于8毫米)，且激光发射过程中固有的发散角问题，导致光电探测器pd只能接收到部分激光器的发射光，光接受效率较低，从而无法满足测试需求，影响测试效果。对此提出一种改进型长基板coc老化测试治具。

技术实现思路

1、针对现有技术的以上缺陷或改进需求中的一种或者多种，本技术提供了一种长基板coc老化测试治具，具备会聚发散光，提升光接受率等优点。

2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种长基板coc老化测试治具，包括盖板和底座，所述盖板底部开槽设有安装槽，所述安装槽内均固定安装有透镜，所述透镜用于会聚光束；

3、所述底座上端面开槽并于槽内装配基板，所述基板上均设置有激光器，所述激光器用于发射激光；

4、该测试治具外接有待接收激光的光电探测器pd。

5、作为本技术的进一步改进，所述安装槽数量为若干且呈线性阵列分布与所述基板对称设置。

6、作为本技术的进一步改进，所述盖板和所述盖板闭合后，所述激光器、所述透镜、所述光电探测器pd处于同一水平直线方向上。

7、作为本技术的进一步改进，所述激光器发射的激光通过所述透镜由发散光会聚呈准直光并投射至所述光电探测器pd上。

8、作为本技术的进一步改进，该测试治具通过单个所述透镜进行单通道测试的同时，还可以通过多个所述透镜的配合使用实现多通道测试。

9、作为本技术的进一步改进，所述盖板和底座之间通过螺丝进行锁紧闭合并在闭合过程中对所述基板进行固定和限位，所述盖板和所述底座上对称设有定位销和定位孔，所述盖板下端面中部开槽设有定位槽，所述底座上端面中部一体设有定位块，所述定位槽和所述定位块相适配。

10、总体而言，通过本技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有的有益效果包括：

11、本技术的长基板coc老化测试治具，通过透镜将激光器发射的发散光会聚成准直平行光，实现聚光功能，从而更精准的、更多的投射在光电探测器pd上；并且在满足单通道的激光器测试后，还可以通过多个所述透镜的配合使用实现多通道测试；从而会聚发散光来避免了激光器激光发射过程中固有的发散角问题，提升了光电探测器pd的光接受率，进而满足测试需求，保证测试效果。

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【技术保护点】

1.一种长基板COC老化测试治具，包括盖板(1)和底座(2)，其特征在于：

2.根据权利要求1所述的一种长基板COC老化测试治具，其特征在于：所述安装槽(3)数量为若干且呈线性阵列分布与所述基板(5)对称设置。

3.根据权利要求1所述的一种长基板COC老化测试治具，其特征在于：所述盖板(1)和所述盖板(1)闭合后，所述激光器(6)、所述透镜(4)、所述光电探测器PD(7)处于同一水平直线方向上。

4.根据权利要求1所述的一种长基板COC老化测试治具，其特征在于：所述激光器(6)发射的激光通过所述透镜(4)由发散光会聚呈准直光并投射至所述光电探测器PD(7)上。

5.根据权利要求1所述的一种长基板COC老化测试治具，其特征在于：该测试治具通过单个所述透镜(4)进行单通道测试的同时，还可以通过多个所述透镜(4)的配合使用实现多通道测试。

6.根据权利要求1所述的一种长基板COC老化测试治具，其特征在于：所述盖板(1)和底座(2)之间通过螺丝进行锁紧闭合并在闭合过程中对所述基板(5)进行固定和限位，所述盖板(1)和所述底座(2)上对称设有定位销(8)和定位孔(9)，所述盖板(1)下端面中部开槽设有定位槽(10)，所述底座(2)上端面中部一体设有定位块(11)，所述定位槽(10)和所述定位块(11)相适配。

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【技术特征摘要】

1.一种长基板coc老化测试治具，包括盖板(1)和底座(2)，其特征在于：

2.根据权利要求1所述的一种长基板coc老化测试治具，其特征在于：所述安装槽(3)数量为若干且呈线性阵列分布与所述基板(5)对称设置。

3.根据权利要求1所述的一种长基板coc老化测试治具，其特征在于：所述盖板(1)和所述盖板(1)闭合后，所述激光器(6)、所述透镜(4)、所述光电探测器pd(7)处于同一水平直线方向上。

4.根据权利要求1所述的一种长基板coc老化测试治具，其特征在于：所述激光器(6)发射的激光通过所述透镜(4)由发散光会聚呈准直光并投射至所述光电探测器...

【专利技术属性】
技术研发人员：邹支农，
申请(专利权)人：苏州天孚光通信股份有限公司，
类型：新型
国别省市：