近眼显示器的缺陷检测方法技术

技术编号：43445440 阅读：5 留言：0更新日期：2024-11-27 12:49

一种近眼显示器的缺陷检测方法，包含以下步骤：将像素矩阵分成包含MxM个像素的多个子像素单元(S1)；依序控制该些子像素单元的MxM个像素中位于相同位置的像素同时发光以在图像生成器中产生MxM个子测试图像(S2)；利用成像设备依序捕获图像生成器中的该些子测试图像(S3)；叠加该些子测试图像以产生对应虚拟图像的测试图像，其中测试图像中的每一个像素具有像素亮度(S4)；比对测试图像中的至少一像素的像素亮度以及测试图像中的区域像素的区域像素亮度(S5)；当至少一像素的像素亮度小于区域像素亮度的亮度阈值时，设定至少一像素为缺陷像素；以及当对应虚拟图像的测试图像的一可视范围包含缺陷像素时，分类虚拟图像为缺陷图像(S6)。

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【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍

技术实现思路

【技术保护点】

PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

pct国内申请，权...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜兴通，
申请(专利权)人：上海显耀显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：

全部详细技术资料下载我是这个专利的主人