一种半电波暗室中场均匀性测试装置制造方法及图纸

本技术公开了一种半电波暗室中场均匀性测试装置，涉及半电波暗室测试技术领域，包括测试仪主体、升降机构、移动机构和位置机构，所述测试仪主体下端安装有承仪台，所述承仪台一端安装有升降机构，所述升降机构一端安装有移动机构。本技术通过设置的测试仪主体、移动机构和位置机构，可以通过装置中安装有的减震轮进行移动位移台，从而带动了位移台上安装的装置进行一个前后的位移至测试点位同一直线上，而移动台通过滑块在滑槽上进行的移动，可以使得测试仪主体左右移动至测试点位后再进行工作，实现在半电波暗室中的精准位移，此可设置多个测试点后重新操作位移对半电波暗室中场均匀性进行测试，提升装置的精准性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半电波暗室测试，具体为一种半电波暗室中场均匀性测试装置。

技术介绍

1、电磁屏蔽半电波暗室常用来替代室外开阔场地测试各种电气，电子设备的电磁干扰特性和电磁敏感度特性，是进行电磁兼容认证检测的重要场地之一，而测试半电波暗室中场均匀性是测试电磁设备的重要一环，因此需要一种半电波暗室中场均匀性测试装置。

2、现有的半电波暗室中场均匀性测试装置技术在进行操作时，无法有效在半电波暗室内进行定点精准测试操作，同时无法有效对测试高度进行调控，并且无法针对各种环境安装操作测试的问题，为此急需一种半电波暗室中场均匀性测试装置。

技术实现思路

1、基于此，本技术的目的是提供一种半电波暗室中场均匀性测试装置，以解决现有的半电波暗室中场均匀性测试装置在使用的时候，无法有效在半电波暗室内进行定点精准测试操作，同时无法有效对测试高度进行调控，并且无法针对各种环境安装操作测试的问题。

2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半电波暗室中场均匀性测试装置，包括测试仪主体、升降机构、移动机构和位置机构，所述测试仪主体下端安装有承仪台，所述承仪台一端安装有升降机构，所述升降机构包括顶位轴、加长轴、联动齿轮、主动齿轮和摇把，所述承仪台一端安装有顶位轴，所述顶位轴上端安装有加长轴，所述顶位轴一端安装有联动齿轮，所述联动齿轮一端安装有主动齿轮，所述主动齿轮内端安装有摇把。

3、所述顶位轴一端安装有移动机构，所述移动机构包括移动台、滑块和滑槽，所述顶位轴下端安装有移动台，所述移动台下端安装有滑块，所述滑块一端安装有滑槽。

4、所述滑块一端安装有位置机构。

5、优选地，所述承仪台通过顶位轴与主动齿轮构成升降结构，且加长轴与顶位轴螺纹连接。

6、优选地，所述移动台通过滑槽与位移台构成滑动结构，且滑块以移动台的中轴线对称设置。

7、优选地，所述位置机构包括位移台、凹合口、凸合口、螺纹杆和减震轮，所述滑槽开设于位移台内端，所述位移台一端开设有凹合口，所述位移台一端安装有凸合口，所述凹合口一端安装有螺纹杆，所述位移台下端安装有减震轮。

8、优选地，所述凹合口与凸合口活动连接，所述凹合口的内壁直径大于凸合口内壁直径。

9、与现有技术相比，本技术的有益效果是：

10、1、本技术通过设置的测试仪主体、移动机构和位置机构，可以通过装置中安装有的减震轮进行移动位移台，从而带动了位移台上安装的装置进行一个前后的位移至测试点位同一直线上，而移动台通过滑块在滑槽上进行的移动，可以使得测试仪主体左右移动至测试点位后再进行工作，实现在半电波暗室中的精准位移，此可设置多个测试点后重新操作位移对半电波暗室中场均匀性进行测试，提升装置的精准性；

11、2、本技术通过设置的测试仪主体、承仪台和升降机构，可以通过装置中安装有的摇把进行旋转主动齿轮，带动联动齿轮上安装的顶位轴进行旋转，使得安装在顶位轴上的承仪台能够进行升降运动，并且可以根据测试高度需要进行增加加长轴与顶位轴安装，以达到测试需求的高度，提升装置的操作性；

12、3、本技术通过设置的测试仪主体、移动机构和位置机构，可以通过装置中安装有的位移台根据不同半电波暗室的室内空间进行增加位移台的个数，并且将位移台上的凸合口插进另一个位移台上的凹合口位置，并使用螺纹杆进行固定加长，从而使得滑槽加长适应不同长度去操作移动台位置进行测试，提升整个装置对不同测试空间的适配性。

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【技术保护点】

1.一种半电波暗室中场均匀性测试装置，包括测试仪主体(1)、升降机构(3)、移动机构(4)和位置机构(5)，其特征在于：所述测试仪主体(1)下端安装有承仪台(2)，所述承仪台(2)一端安装有升降机构(3)，所述升降机构(3)包括顶位轴(301)、加长轴(302)、联动齿轮(303)、主动齿轮(304)和摇把(305)，所述承仪台(2)一端安装有顶位轴(301)，所述顶位轴(301)上端安装有加长轴(302)，所述顶位轴(301)一端安装有联动齿轮(303)，所述联动齿轮(303)一端安装有主动齿轮(304)，所述主动齿轮(304)内端安装有摇把(305)；

2.根据权利要求1所述的一种半电波暗室中场均匀性测试装置，其特征在于：所述承仪台(2)通过顶位轴(301)与主动齿轮(304)构成升降结构，且加长轴(302)与顶位轴(301)螺纹连接。

3.根据权利要求1所述的一种半电波暗室中场均匀性测试装置，其特征在于：所述移动台(401)通过滑槽(403)与位移台(501)构成滑动结构，且滑块(402)以移动台(401)的中轴线对称设置。

4.根据权利要求1所述的一种半电波暗室中场均匀性测试装置，其特征在于：所述位置机构(5)包括位移台(501)、凹合口(502)、凸合口(503)、螺纹杆(504)和减震轮(505)，所述滑槽(403)开设于位移台(501)内端，所述位移台(501)一端开设有凹合口(502)，所述位移台(501)一端安装有凸合口(503)，所述凹合口(502)一端安装有螺纹杆(504)，所述位移台(501)下端安装有减震轮(505)。

5.根据权利要求4所述的一种半电波暗室中场均匀性测试装置，其特征在于：所述凹合口(502)与凸合口(503)活动连接，所述凹合口(502)的内壁直径大于凸合口(503)内壁直径。

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【技术特征摘要】

1.一种半电波暗室中场均匀性测试装置，包括测试仪主体(1)、升降机构(3)、移动机构(4)和位置机构(5)，其特征在于：所述测试仪主体(1)下端安装有承仪台(2)，所述承仪台(2)一端安装有升降机构(3)，所述升降机构(3)包括顶位轴(301)、加长轴(302)、联动齿轮(303)、主动齿轮(304)和摇把(305)，所述承仪台(2)一端安装有顶位轴(301)，所述顶位轴(301)上端安装有加长轴(302)，所述顶位轴(301)一端安装有联动齿轮(303)，所述联动齿轮(303)一端安装有主动齿轮(304)，所述主动齿轮(304)内端安装有摇把(305)；

2.根据权利要求1所述的一种半电波暗室中场均匀性测试装置，其特征在于：所述承仪台(2)通过顶位轴(301)与主动齿轮(304)构成升降结构，且加长轴(302)与顶位轴(301)螺纹连接。

3.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李婷，
申请(专利权)人：湖北琦睿杰科技有限公司，
类型：新型
国别省市：