一种DAC和比较器实现ADC的电路制造技术

技术编号:43423109 阅读:11 留言:0更新日期:2024-11-22 17:56
本技术公开了一种DAC和比较器实现ADC的电路,包括GVM08F003单片机,所述GVM08F003单片机内部设置有具备能输出模拟量的DAC模块和具备比较模拟量功能的比较器模块,所述DAC模块的输出端与所述比较器的一个输入端通信连接,所述比较器另一端通信连接输入模拟量,所述DAC模块外接独立参考电压VREF,且所述VREF大于输入电压,所述DAC模块的输出值在输出过程中通过二分法调整输出次数。本技术实现了在芯片没有内部VCC测量单元和不使用ADC资源情况下,芯片用“DAC+基准电压+CMP”完成对VCC电压的测量功能。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路,具体为一种dac和比较器实现adc的电路。


技术介绍

1、无论是何种嵌入式系统,芯片电源电压检测对于整个系统的正常运作是不可或缺的,通过检测电压的变化来判断系统是否正常运行。若供电源异常,或是芯片因其他原因而出现异常情况,都可根据vcc大小的变化来排查故障、对问题进行准确的定位。

2、以往的测试芯片vcc/vdd的电压,是利用分压电阻,将电源电压按比例分压到adc,再通过电阻大小进行反推计算,最终得到vcc电压大小。因为电阻本身存在误差,故测量出来的电压值会存在一定偏差,且会造成额外的功率耗损。


技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种dac和比较器实现adc的电路,包括gvm08f003单片机,所述gvm08f003单片机内部设置有具备能输出模拟量的dac模块和具备比较模拟量功能的比较器模块,所述dac模块的输出端与所述比较器的一个输入端通信连接,所述比较器另一端通信连接输入模拟量。

2、作为进一步优选,所述dac模块外接独立参考电压vref,且所述vref大于输入电压。

3、作为进一步优选,所述dac模块的输出值在输出过程中通过二分法调整输出次数。

4、通过上述技术方案,本技术的有益效果是:

5、本技术在芯片没有内部vcc测量单元和不使用adc资源情况下,芯片用“dac+基准电压+cmp”完成对vcc电压的测量功能。

【技术保护点】

1.一种DAC和比较器实现ADC的电路,其特征在于:包括GVM08F003单片机,所述GVM08F003单片机内部设置有具备能输出模拟量的DAC模块和具备比较模拟量功能的比较器模块,所述DAC模块的输出端与所述比较器的一个输入端通信连接,所述比较器另一端通信连接输入模拟量。

2.根据权利要求1所述的一种DAC和比较器实现ADC的电路,其特征在于:所述DAC模块外接独立参考电压VREF,且所述VREF大于输入电压。

3.根据权利要求1所述的一种DAC和比较器实现ADC的电路,其特征在于:所述DAC模块的输出值在输出过程中通过二分法调整输出次数。

【技术特征摘要】

1.一种dac和比较器实现adc的电路,其特征在于:包括gvm08f003单片机,所述gvm08f003单片机内部设置有具备能输出模拟量的dac模块和具备比较模拟量功能的比较器模块,所述dac模块的输出端与所述比较器的一个输入端通信连接,所述比较器另一端通信连接输入模拟量。

【专利技术属性】
技术研发人员:赵伟石亚光韩正琪
申请(专利权)人:健天福州微电子有限公司
类型:新型
国别省市:

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