【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片验证，例如涉及一种用于芯片设计方案的验证方法、电子设备。
技术介绍
1、目前，为了确保soc芯片的设计方案的合理性，需要对芯片设计方案进行系统级验证。
2、相关技术中，通常采用基于tcl脚本语言构建的验证平台对芯片设计方案进行验证，验证平台需要将生成的验证数据（如对寄存器读写、内存访问的验证数据）通过通信接口发送指令和数据至基于rtl生成的模拟芯片中，并由模拟芯片中的微控制器单元（mcu）执行相应的c程序代码来响应这些验证。
3、在实现本公开实施例的过程中，发现相关技术至少存在以下问题：
4、对于规模和功能复杂的芯片设计方案，需要验证的场景也及其复杂，在此情况下，验证平台对芯片设计方案的仿真验证效率极其依赖通信接口的传输速率，如果传输速率较慢，就会导致对芯片设计方案进行仿真验证的时间急剧增长。因此，亟需一种能够提高对芯片设计方案的验证效率，减少仿真验证时长的方案。
5、需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本申请的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
1、为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键／重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言。
2、本公开实施例提供了一种用于芯片设计方案的验证方法、电子设备，能够提高对芯片设计方案的验证效率，减少仿真验证所需的时
3、在一些实施例中，用于芯片设计方案的验证方法，应用于电子设备，电子设备内部署有验证平台和模拟文件，模拟文件为基于芯片设计方案仿真出的内部部署有c程序的代码文件，验证方法通过运行验证平台实现，验证方法包括：接收第一配置信息，在模拟芯片的存储区域内划分出同步区域；接收第二配置信息，并根据第二配置信息生成待验证部分所对应的验证数据；通过后门操作向同步区域写入验证数据，以使模拟芯片的c程序在同步区域内识别到开始数字标志后从同步区域读取并执行验证数据，确定目标状态标志，并将目标状态标志写入至同步区域；从同步区域读取目标状态标志，确定对芯片设计方案的待验证部分的验证结果。
4、可选地，通过后门操作向同步区域写入验证数据，包括：检测同步区域内的数字标志；在从同步区域内识别到初始数字标志或者结束数字标志的情况下，将验证数据写入至同步区域；在写入验证数据完成后，将开始数字标志写入至同步区域，以便于模拟芯片的c程序确定验证数据的写入情况。
5、可选地，从同步区域读取目标状态标志，确定对芯片设计方案的待验证部分的验证结果，包括：在目标状态标志为正确状态标志的情况下，确认芯片设计方案的待验证部分通过验证；在目标状态标志为错误状态标志的情况下，确认芯片设计方案的待验证部分未通过验证。
6、可选地，在确认芯片设计方案的待验证部分未通过验证的情况下，验证方法还包括：通过后门操作读取模拟芯片的c程序执行验证数据时生成的实际响应信息；对比实际响应信息与验证数据中的期望响应信息；在实际响应信息与期望响应信息一致的情况下，确定芯片设计方案的待验证部分通过验证。
7、可选地，在通过后门操作向同步区域写入验证数据之前，验证方法还包括：对同步区域内的数据标志和状态标志进行初始化。
8、在一些实施例中，用于芯片设计方案的验证方法，应用于电子设备，电子设备内部署有验证平台和模拟芯片，模拟芯片为基于芯片设计方案仿真出的内部部署有c程序的代码文件，模拟芯片的存储区域内定义有同步区域，验证方法通过运行模拟芯片的c程序实现，验证方法包括：检测同步区域内的数字标志；在检测到开始数字标志的情况下，从同步区域读取验证平台写入的对芯片设计方案的待验证部分的验证数据；执行验证数据确定目标状态标志；将目标状态标志写入到同步区域，以使验证平台从同步区域读取目标状态标志，确定对芯片设计方案的待验证部分的验证结果。
9、可选地，执行验证数据确定目标状态标志，包括：执行验证数据生成实际响应信息；对比实际响应信息与验证数据中的期望响应信息，确定目标状态标志。
10、可选地，对比实际响应信息与验证数据中的期望响应信息，确定目标状态标志，包括：在实际响应信息与期望响应信息一致的情况下，以正确状态标志作为目标状态标志；在实际响应信息与期望响应信息不一致的情况下，以错误状态标志目标状态标志。
11、可选地，在将目标状态标志写入到同步区域之后，验证方法还包括：将结束数据标志写入同步区域。
12、在一些实施例中，电子设备内部署有验证平台和模拟芯片，模拟芯片基于芯片设计方案仿真出的内部部署有c程序的代码文件，电子设备包括处理器和存储有程序指令的存储器，处理器被配置为在运行所述程序指令时，执行如上述的用于芯片设计方案的验证方法。
13、本公开实施例提供的用于芯片设计方案的验证方法、电子设备，可以实现以下技术效果：
14、本公开实施例中，在模拟芯片的存储区域内划分了同步区域，在对芯片设计方案进行验证时，验证平台可以直接通过后门操作将待验证部分的验证数据写入到同步区域内。在验证数据写入同步区域完成后，模拟芯片的c程序可以直接从同步区域内读取并执行验证数据，确定用于表示待验证部分是否被正确执行的目标状态标志，并可以将目标状态标志写入至同步区域。在模拟芯片执行完验证数据之后，验证平台只需从同步区域读取目标状态标志即可判断对芯片设计方案的待验证部分的验证结果。这样，使得验证平台对芯片设计方案的仿真验证不再依赖于通信接口的传输速率，即使针对规模和功能复杂的芯片设计方案，也可以快速准确的完成仿真验证。因此，本公开实施例可以提高对芯片设计方案的验证效率，减少仿真验证所需的时长。
15、以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种用于芯片设计方案的验证方法，应用于电子设备，电子设备内部署有验证平台和模拟芯片，模拟芯片为基于芯片设计方案仿真出的内部部署有C程序的代码文件，其特征在于，验证方法通过运行验证平台实现，验证方法包括：
2.根据权利要求1所述的验证方法，其特征在于，通过后门操作向同步区域写入验证数据，包括：
3.根据权利要求1所述的验证方法，其特征在于，从同步区域读取目标状态标志，确定对芯片设计方案的待验证部分的验证结果，包括：
4.根据权利要求3所述的验证方法，其特征在于，在确认芯片设计方案的待验证部分未通过验证的情况下，验证方法还包括：
5.根据权利要求1至4中任一项所述的验证方法，其特征在于，在通过后门操作向同步区域写入验证数据之前，验证方法还包括：
6.一种用于芯片设计方案的验证方法，应用于电子设备，电子设备内部署有验证平台和模拟芯片，模拟芯片为基于芯片设计方案仿真出的的内部部署有C程序的代码文件，其特征在于，模拟芯片的存储区域内定义有同步区域，验证方法通过运行模拟芯片的C程序实现，验证方法包括：
7.根据权利要
8.根据权利要求5所述的验证方法，其特征在于，对比实际响应信息与验证数据中的期望响应信息，确定目标状态标志，包括：
9.根据权利要求6至8中任一项所述的验证方法，其特征在于，在将目标状态标志写入到同步区域之后，验证方法还包括：
10.一种电子设备，电子设备内部署有验证平台和模拟芯片，模拟芯片为基于芯片设计方案仿真出的内部部署有C程序的代码文件，电子设备包括处理器和存储有程序指令的存储器，其特征在于，所述处理器被配置为在运行所述程序指令时，执行如权利要求1至9中任一项所述的用于芯片设计方案的验证方法。
...【技术特征摘要】
1.一种用于芯片设计方案的验证方法，应用于电子设备，电子设备内部署有验证平台和模拟芯片，模拟芯片为基于芯片设计方案仿真出的内部部署有c程序的代码文件，其特征在于，验证方法通过运行验证平台实现，验证方法包括：
2.根据权利要求1所述的验证方法，其特征在于，通过后门操作向同步区域写入验证数据，包括：
3.根据权利要求1所述的验证方法，其特征在于，从同步区域读取目标状态标志，确定对芯片设计方案的待验证部分的验证结果，包括：
4.根据权利要求3所述的验证方法，其特征在于，在确认芯片设计方案的待验证部分未通过验证的情况下，验证方法还包括：
5.根据权利要求1至4中任一项所述的验证方法，其特征在于，在通过后门操作向同步区域写入验证数据之前，验证方法还包括：
6.一种用于芯片设计方案的验证方法，应用于电子设备，电子设备内部署有验证平台和模拟芯片，...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘志航，王萍，张满新，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。