【技术实现步骤摘要】
本技术涉及激光粒度测量，提供一种双光源独立对中的激光粒度仪，尤其是激光发射和信号接收分体式结构的激光粒度仪。
技术介绍
1、激光粒度仪是通过测量光的散射信号分布计算颗粒粒度分布的仪器，一般测量的是前向小角度的不同散射角的颗粒散射光强度。受光电探测器空间尺寸的限制，一般只在探测器中心开个小孔，且在孔后安装一个光电二极管，通过上、下和左、右方向调节光电探测器，同时观察或测量光电二极管接收的光强，当光强达到最大时，认为对中完成。采用这种方法手动对中的客观性差，不容易找到光强最大时的中心会聚点；若采用自动对中，只有一路信号判断两维移动方向实现困难。尤其采用是激光发射和信号接收分体式的结构时，对中和采集光电角分布信号更加困难。
技术实现思路
1、本技术提供一种双光源独立对中的激光粒度仪，解决对中和调整困难的问题，便于自动调整和光电信号采集。
2、本技术采取以下的技术方案。
3、本技术提供的双光源独立对中的激光粒度仪，包括：对中激光器1、检测激光器2、扩束准直镜组3、接收透镜4、光电二极管5、光电探测器阵列6、四象限探测器7、电路板8、对中透镜9。
4、本技术提供的双光源独立对中的激光粒度仪，检测激光器2、扩束准直镜组3、接收透镜4的光轴、光电探测器阵列6、光电二极管5的中心同轴，光电探测器阵列6位于接收透镜4的焦平面位置，光电二极管5位于光电探测器阵列6后方，构成第一个独立光路。由检测激光器2发射的激光经扩束准直镜组3扩束后形成入射平行光，经接收透镜4后会
5、进一步地，对中激光器1、对中透镜9的光轴和四象限探测器7的中心同轴，四象限探测器7位于对中透镜9的焦平面位置，构成第二个独立光路，由对中激光器1发射的平行激光经对中透镜9后会聚在四象限探测器7上，该独立光路用于整个光路系统对中。
6、进一步地，四象限探测器7和光电探测器阵列6安装在同一块电路板8上，它们的中心距与对中激光器1、检测激光器2的中心距相等，光电探测器阵列6的中心和电路板8的对应位置各开一个小孔，在电路板8小孔后安装光电二极管5。
7、进一步地，在激光粒度仪首次装配时，先将第一个独立光路对中，即将检测激光器2、扩束准直镜组3、接收透镜4、光电探测器阵列6和光电二极管5的中心调整为同轴；然后微调对中激光器1，使光斑会聚于四象限探测器7的中心，完成第二个独立光路的对中，并将对中激光器1固定，即完成整个光路系统对中。
8、进一步地，激光粒度仪在使用时，第一个独立光路上的器件位置产生变化造成不对中，需要进行调整。此时只需要手动或自动调整第二个独立光路对中，即可完成整个光路系统的对中，然后可测量颗粒粒度分布。
9、本技术的优点和积极效果：
10、本技术提供的双光源独立对中的激光粒度仪，第一个独立光路只用于采集颗粒的散射光信号；第二个独立光路只用于对中。在首次装配时分别调整两个独立光路对中并固定对中激光器1和检测激光器2，在使用时只需要对第二个独立光路对中即可完成整个光路系统的对中。
11、由于第二个独立光路采用了四象限探测器7在二维方向上测量光信号，因此可以分别判断光斑会聚点在二维方向的变化，从而可以在二维方向上分别调整，也便于进行自动对中。
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1.一种双光源独立对中的激光粒度仪，包括：对中激光器(1)、检测激光器(2)、扩束准直镜组(3)、接收透镜(4)、光电二极管(5)、光电探测器阵列(6)、四象限探测器(7)、电路板(8)、对中透镜(9)，其中，包括两个独立光路，由检测激光器(2)发射的激光经扩束准直镜组(3)后成为入射平行光，照射在颗粒样品(10)上，颗粒样品(10)的散射光经接收透镜(4)后由光电探测器阵列(6)接收，且入射平行光经接收透镜(4)后会聚会聚在光电二极管(5)上，构成第一个独立光路，用于测量颗粒散射信号；由对中激光器(1)发射的激光经对中透镜(9)照射在四象限探测器(7)上，构成第二个独立光路，用于整个光路系统对中，光电探测器阵列(6)和四象限探测器(7)安装在同一块电路板(8)上，可整体移动，电路板(8)位于接收透镜(4)和对中透镜(9)的焦平面位置。
【技术特征摘要】
1.一种双光源独立对中的激光粒度仪，包括：对中激光器(1)、检测激光器(2)、扩束准直镜组(3)、接收透镜(4)、光电二极管(5)、光电探测器阵列(6)、四象限探测器(7)、电路板(8)、对中透镜(9)，其中，包括两个独立光路，由检测激光器(2)发射的激光经扩束准直镜组(3)后成为入射平行光，照射在颗粒样品(10)上，颗粒样品(10)的散射光经接收透镜(4)后由光电探测器...
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