【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及芯片领域，尤其涉及一种存储器测试电路、存储器测试方法和相关装置。
技术介绍
1、随着科技的不断发展，人们的生活生产水平不断提高。存储器的出现，使得人们能够存储一些重要的信息，直至需要时再进行读取。为了保证存储器的工作效率，需对存储器进行测试。根据存储器分布规整的特点，现有的方案是利用内存自建自动测试(mbist，memory built-in self test)模组来进行测试。
2、然而，现有的方案中，是向各mbist模组输入固定测试向量，即使用固定算法，这致测试效率较低且测试正确率无法随算法优化而提升，灵活性差，这致测试效率较低，给测试人员带来较大的不便。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种存储器测试电路、存储器测试方法和相关装置，用于存储器测试。
2、本申请实施例第一方面提供了一种存储器测试电路，包括：联合测试工作组jtag接口和多级存储器内建自测试mbist模组；
3、各级所述mbist模组串联，每一级所述mbist模组均连接有各自对应的至少一个存储器；
4、第一级mbist模组的输入端接所述jtag接口，最后一级mbist模组的输出端接所述jtag接口，以在所述第一级mbist模组的输入端接收到所述jtag接口发送的多个测试向量时，根据每一个所述测试向量的mbist组编号信息将所述测试向量分配至每一级所述mbist模组，每一级所述mbist模组基于各自的所述测试向量对所连接的存储器进行测试得到测试结果，
5、可选的，所述mbist模组包括控制模块和状态机模块；
6、各级mbist模组的所述控制模块串联，各级的mbist模组的所述状态机模块各自与同一级mbist模组的所述控制模块连接，所述状态机模块与各自对应的存储器相连。
7、本申请实施例第二方面提供了一种存储器测试方法，应用于如前述的存储器测试电路，所述方法包括：
8、接收用户输入的多个测试向量，所述测试向量包括存储器内建自测试mbist组编号信息和算法操作信息；
9、根据每一个所述测试向量的所述mbist组编号信息将所述多个测试向量对应分配至所述存储器测试电路的每一级mbist模组；
10、依据所述测试向量的所述算法操作信息对与所述测试向量对应的mbist模组所连接的存储器进行读写操作，得到写入数据和读取数据；
11、基于所述写入数据和所述读取数据进行比对操作和统计操作，得到每一级mbist模组的测试结果。
12、可选的，若所述测试向量为包括测试模式信息且所述测试模式信息所指定的模式为march模式的向量，且所述算法操作信息包括步骤数信息、数据背景选择信息、操作数信息、地址顺序信息和读写操作信息，所述依据所述测试向量的所述算法操作信息对与所述测试向量对应的mbist模组所连接的存储器进行读写操作，得到写入数据和读取数据，包括：
13、根据所述测试模式信息将与所述测试向量对应的mbist模组的当前模式确定为march模式；
14、依据所述测试向量的所述步骤数信息、所述数据背景选择信息、所述操作数信息、所述地址顺序信息和所述读写操作信息对与所述测试向量对应的mbist模组所连接的存储器进行指定顺序的读写操作，得到写入数据和读取数据。
15、可选的，若所述测试向量为包括测试模式信息且所述测试模式信息所指定的模式为自定义模式的向量，且所述算法操作信息包括读写操作信息、数据长度信息、输入数据类型信息和指定操作地址信息，所述依据所述测试向量的所述算法操作信息对与所述测试向量对应的mbist模组所连接的存储器进行读写操作，得到写入数据和读取数据，包括：
16、根据所述测试模式信息将与所述测试向量对应的mbist模组的当前模式确定为自定义模式；
17、依据所述测试向量的所述读写操作信息、所述数据长度信息、所述输入数据类型信息和所述指定操作地址信息对与所述测试向量对应的mbist模组所连接的存储器的指定操作地址进行读写操作，得到写入数据和读取数据。
18、可选的，若所述测试向量为不包括测试模式信息的向量，且与所述测试向量对应的mbist模组的当前模式为march模式，所述算法操作信息包括步骤数信息、数据背景选择信息、操作数信息、地址顺序信息和读写操作信息，所述依据所述测试向量的所述算法操作信息对与所述测试向量对应的mbist模组所连接的存储器进行读写操作，得到写入数据和读取数据，包括：
19、依据所述测试向量的所述步骤数信息、所述数据背景选择信息、所述操作数信息、所述地址顺序信息和所述读写操作信息对与所述测试向量对应的mbist模组所连接的存储器进行指定顺序的读写操作，得到写入数据和读取数据。
20、可选的，若所述测试向量为不包括测试模式信息的向量，且与所述测试向量对应的mbist模组的当前模式为自定义模式，所述算法操作信息包括待读写数据信息，所述依据所述测试向量的所述算法操作信息对与所述测试向量对应的mbist模组所连接的存储器进行读写操作，得到写入数据和读取数据，包括：
21、依据所述测试向量的所述待读写数据信息对与所述测试向量对应的mbist模组所连接的存储器的指定操作地址进行读写操作，得到写入数据和读取数据。
22、可选的，若mbist模组的当前模式为march模式，所述基于所述写入数据和所述读取数据进行比对操作和统计操作，得到每一级mbist模组的测试结果，包括：
23、基于所述写入数据和所述读取数据进行比对操作和统计操作，得到每一级mbist模组的测试结果，其中，所述测试结果包括对应的mbist组编号信息、数据背景标记信息、已完成步骤数信息、错误数量信息和错误存储器地址信息。
24、可选的，若mbist模组的当前模式为自定义模式，且指定操作地址为对应存储器的部分地址，所述基于所述写入数据和所述读取数据进行比对操作和统计操作，得到每一级mbist模组的测试结果，包括：
25、基于所述写入数据和所述读取数据进行比对操作和统计操作，得到每一级mbist模组的测试结果，其中，所述测试结果包括对应的mbist组编号信息和所读出的指定操作地址的信息；
26、或，若mbist模组的当前模式为自定义模式，且指定操作地址为对应存储器的全部地址，所述基于所述写入数据和所述读取数据进行比对操作和统计操作，得到每一级mbist模组的测试结果，包括：
27、基于所述写入数据和所述读取数据进行比对操作和统计操作，得到每一级mbist模组的测试结果，其中，所述测试结果包括对应的mbist组编号信息和错误数量信息。
28、本申请实施例第三方面提供了一种计算机可读存储介质，包括指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行前述本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种存储器测试电路，其特征在于，包括：联合测试工作组JTAG接口和多级存储器内建自测试MBIST模组；
2.根据权利要求1所述的存储器测试电路，其特征在于，所述MBIST模组包括控制模块和状态机模块；
3.一种存储器测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1和2所述的存储器测试电路，所述方法包括：
4.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，若所述测试向量为包括测试模式信息且所述测试模式信息所指定的模式为March模式的向量，且所述算法操作信息包括步骤数信息、数据背景选择信息、操作数信息、地址顺序信息和读写操作信息，所述依据所述测试向量的所述算法操作信息对与所述测试向量对应的MBIST模组所连接的存储器进行读写操作，得到写入数据和读取数据，包括：
5.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，若所述测试向量为包括测试模式信息且所述测试模式信息所指定的模式为自定义模式的向量，且所述算法操作信息包括读写操作信息、数据长度信息、输入数据类型信息和指定操作地址信息，所述依据所述测试向量的所述算法操作信息对与所述测试向量对应的
6.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，若所述测试向量为不包括测试模式信息的向量，且与所述测试向量对应的MBIST模组的当前模式为March模式，所述算法操作信息包括步骤数信息、数据背景选择信息、操作数信息、地址顺序信息和读写操作信息，所述依据所述测试向量的所述算法操作信息对与所述测试向量对应的MBIST模组所连接的存储器进行读写操作，得到写入数据和读取数据，包括：
7.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，若所述测试向量为不包括测试模式信息的向量，且与所述测试向量对应的MBIST模组的当前模式为自定义模式，所述算法操作信息包括待读写数据信息，所述依据所述测试向量的所述算法操作信息对与所述测试向量对应的MBIST模组所连接的存储器进行读写操作，得到写入数据和读取数据，包括：
8.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，若MBIST模组的当前模式为March模式，所述基于所述写入数据和所述读取数据进行比对操作和统计操作，得到每一级MBIST模组的测试结果，包括：
9.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，若MBIST模组的当前模式为自定义模式，且指定操作地址为对应存储器的部分地址，所述基于所述写入数据和所述读取数据进行比对操作和统计操作，得到每一级MBIST模组的测试结果，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行如权利要求3至9中任意一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种存储器测试电路，其特征在于，包括：联合测试工作组jtag接口和多级存储器内建自测试mbist模组；
2.根据权利要求1所述的存储器测试电路，其特征在于，所述mbist模组包括控制模块和状态机模块；
3.一种存储器测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1和2所述的存储器测试电路，所述方法包括：
4.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，若所述测试向量为包括测试模式信息且所述测试模式信息所指定的模式为march模式的向量，且所述算法操作信息包括步骤数信息、数据背景选择信息、操作数信息、地址顺序信息和读写操作信息，所述依据所述测试向量的所述算法操作信息对与所述测试向量对应的mbist模组所连接的存储器进行读写操作，得到写入数据和读取数据，包括：
5.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，若所述测试向量为包括测试模式信息且所述测试模式信息所指定的模式为自定义模式的向量，且所述算法操作信息包括读写操作信息、数据长度信息、输入数据类型信息和指定操作地址信息，所述依据所述测试向量的所述算法操作信息对与所述测试向量对应的mbist模组所连接的存储器进行读写操作，得到写入数据和读取数据，包括：
6.根据权利要求3所述的存储器测试方法，其特征在于，若所述测试向量为不包括测试模式信息的向量，且与所述测试向量对应的m...
【专利技术属性】
技术研发人员：程刚，曾荣荣，段海波，李华伟，
申请(专利权)人：深圳芯邦科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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