System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 物料粉末取样检测装置及其工作方法制造方法及图纸_技高网

物料粉末取样检测装置及其工作方法制造方法及图纸

技术编号:43372033 阅读:6 留言:0更新日期:2024-11-19 17:52
本发明专利技术属于测试特别是取样装置技术领域,具体涉及一种物料粉末取样检测装置及其工作方法,其包括:内套筒结构、承接套筒和取样机构;所述承接套筒套设在所述内套筒结构外;所述取样机构穿设在所述内套筒结构中,所述承接套筒的侧壁为中空结构,所述承接套筒的内壁上开设有第一缺口,所述第一缺口与侧壁中空部分连通;所述内套筒结构中设置有缝隙,所述缝隙与所述第一缺口对应;所述取样机构适于将样本经过缝隙和第一缺口后采集进入承接套筒中空部分;实现了对于粉末物料的取样,并且通过取样机构中的锥形凸起避免粉末在取样过程中积聚堵塞承接套筒的第一缺口,确保粉末物料的取样。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于测试特别是取样装置,具体涉及一种物料粉末取样检测装置及其工作方法


技术介绍

1、大型设备中粉末物料的取样较为困难,大型设备的尺寸较大,取样装置难以达到较深的位置进行取样,并且较深位置的取样后难以将样品取出;以及相关技术中,在对粉末物料进行取样时,粉末物料可能积聚导致取样装置中承接套筒的进料口被堵住,导致无法完成取样。

2、因此,由于粉末物料在取样过程中容易导致存储样品结构的进料口堵住导致无法取样的技术问题,需要设计一种新的物料粉末取样检测装置及其工作方法。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种物料粉末取样检测装置及其工作方法。

2、为了解决上述技术问题,本专利技术提供了一种物料粉末取样检测装置,包括:

3、内套筒结构、承接套筒和取样机构;

4、所述承接套筒套设在所述内套筒结构外;

5、所述取样机构穿设在所述内套筒结构中,所述承接套筒的侧壁为中空结构,所述承接套筒的内壁上开设有第一缺口,所述第一缺口与侧壁中空部分连通;

6、所述内套筒结构中设置有缝隙,所述缝隙与所述第一缺口对应;

7、所述取样机构适于将样本经过缝隙和第一缺口后采集进入承接套筒中空部分。

8、进一步,所述内套筒机构包括:上套筒和下套筒;

9、所述上套筒设置在所述下套筒上方;

10、所述上套筒的底面与所述下套筒的顶面之间存在缝隙;

11、所述承接套筒套设在所述上套筒和所述下套筒外;

12、所述下套筒的底面低于所述承接套筒的底面。

13、进一步,所述上套筒与所述承接套筒内壁之间螺纹连接;

14、所述上套筒的外壁上开设有环槽,所述环槽靠近所述上套筒的顶面设置;

15、所述环槽中设置有固定柱,所述固定柱的长度方向与所述上套筒的径向方向平行;

16、所述固定柱的一端位于所述环槽中,另一端固定;

17、所述固定柱与所述环槽之间滑动连接。

18、进一步,所述上套筒的底面低于所述承接套筒上开设的第一缺口的顶面;

19、所述下套筒的顶面低于所述承接套筒上开设的第一缺口的顶面。

20、进一步,所述承接套筒的侧壁上开设有第二缺口,所述第二缺口竖直设置;

21、所述第二缺口与所述固定柱对应;

22、所述第二缺口的顶部位于所述承接套筒的顶面上。

23、进一步,所述取样机构包括:驱动轴和螺旋叶片;

24、所述驱动轴穿设在所述上套筒和下套筒中;

25、所述螺旋叶片设置在所述驱动轴上;

26、所述驱动轴的底端从所述下套筒底面的敞口伸出。

27、进一步,所述驱动轴上设置有转盘,所述转盘的底面上设置有凸块;

28、所述转盘跟随所述驱动轴转动。

29、进一步,所述上套筒中设置有升降盘,所述升降盘的侧壁与所述上套筒的内壁接触;

30、所述升降盘与所述上套筒的内壁滑动连接;

31、所述升降盘套设在所述驱动轴上,所述升降盘位于所述转盘下方;

32、所述升降盘的底面上设置有若干锥形凸起。

33、进一步,所述锥形凸起的尖端朝下。

34、进一步,所述升降盘的顶面上设置有若干块体;

35、所述块体沿所述升降盘的周向等距设置;

36、所述块体的顶面为斜面;

37、所述块体位于凸块的下方,所述凸块的底面与所述块体的顶面接触。

38、进一步,所述承接套筒的顶面敞口设置。

39、另一方面,本专利技术还提供一种采用上述物料粉末取样检测装置的工作方法,包括:

40、取样机构将样本经过缝隙和第一缺口后采集进入承接套筒中空部分。

41、本专利技术的有益效果是,本专利技术通过内套筒结构、承接套筒和取样机构;所述承接套筒套设在所述内套筒结构外;所述取样机构穿设在所述内套筒结构中,所述承接套筒的侧壁为中空结构,所述承接套筒的内壁上开设有第一缺口,所述第一缺口与侧壁中空部分连通;所述内套筒结构中设置有缝隙,所述缝隙与所述第一缺口对应;所述取样机构适于将样本经过缝隙和第一缺口后采集进入承接套筒中空部分;实现了对于粉末物料的取样,并且通过取样机构中的锥形凸起避免粉末在取样过程中积聚堵塞承接套筒的第一缺口,确保粉末物料的取样。

42、本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

43、为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种物料粉末取样检测装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

3.如权利要求2所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

4.如权利要求2所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

5.如权利要求3所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

6.如权利要求3所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

7.如权利要求6所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

8.如权利要求7所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

9.如权利要求8所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

10.如权利要求8所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

11.如权利要求1所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

12.一种采用如权利要求1所述物料粉末取样检测装置的工作方法,其特征在于,包括:

【技术特征摘要】

1.一种物料粉末取样检测装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

3.如权利要求2所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

4.如权利要求2所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

5.如权利要求3所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

6.如权利要求3所述的物料粉末取样检测装置,其特征在于:

7.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:王晓亮路雪飞杨广聪
申请(专利权)人:宸光常州新材料科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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