一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装及系统技术方案

技术编号:43368629 阅读:4 留言:0更新日期:2024-11-19 17:50
本技术涉及覆晶薄膜卷带技术领域,公开了一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装及系统,其中一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,包括将覆晶薄膜卷带上的铜质凸起和电阻测试仪上的外接电源线电气连接在一起的导电组件,导电组件的一端上设置有可与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起电气连接的弧形托盘,弧形托盘上的凹槽的槽面可与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起的外表面贴合,还公开了一种覆晶薄膜卷带用改进型电测系统,包括覆晶薄膜卷带和电阻测试仪,还包括覆晶薄膜卷带用改进型电测工装。相比于通过针脚与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起电气连接的探针卡,本技术更不易被损坏。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及覆晶薄膜卷带,具体涉及一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装及系统


技术介绍

1、在对生产的覆晶薄膜卷带进行短断路测试的过程中,使用的测试治具通常为探针卡(probe card),探针卡(probe card)上设置有若干根针脚(pin针),将其与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起接触,此时两者电气连接在一起,由于探针卡(probe card)还与电阻测试仪的外接电源线电气连接在一起,因此探针卡(probe card)可将覆晶薄膜卷带上的铜质凸起与电阻测试仪的外接电源线电气连接在一起,进而通过电阻测试仪对覆晶薄膜卷带进行短断路测试,但探针卡(probe card)上的针脚(pin针)通常十分细小,在将探针卡(probecard)上的针脚(pin针)与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起接触的过程中,若稍有不慎,则会造成针脚(pin针)的损坏,从而导致探针卡(probecard)无法继续使用。


技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装及系统,其设计了弧形托盘与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起电气连接,相比于通过针脚与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起电气连接的探针卡,本技术更不易被损坏。

2、为解决上述技术问题,本技术采用了以下方案:

3、第一方面,一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,包括将覆晶薄膜卷带上的铜质凸起和电阻测试仪上的外接电源线电气连接在一起的导电组件,所述导电组件的一端上设置有可与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起电气连接的弧形托盘,所述弧形托盘上的凹槽的槽面可与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起的外表面贴合。

4、进一步的,还包括插板,所述插板的顶面上开设有若干个进给螺纹孔,所述导电组件上的远离弧形托盘的一端上设置有可与电阻测试仪上的外接电源线电气连接的铜质螺杆,所述铜质螺杆可螺纹配合在进给螺纹孔内。

5、进一步的,还包括底座,所述底座的顶面上开设有若干个可供插板插入的插槽,所述插槽的底面上设置有第一磁铁块,所述插板的底面上设置有可吸附在第一磁铁块上的第二磁铁块。

6、进一步的,所述插槽的底面上开设有贯穿孔,在插板插入插槽内后,螺纹配合在进给螺纹孔内的铜质螺杆可通过贯穿孔与电阻测试仪上的外接电源线电气连接。

7、进一步的,还包括可将覆晶薄膜卷带固定在底座上的卡扣,所述卡扣的一端可拆卸安装在覆晶薄膜卷带上,所述卡扣的另一端可拆卸安装在底座上。

8、第二方面,一种覆晶薄膜卷带用改进型电测系统,包括覆晶薄膜卷带和电阻测试仪,所述覆晶薄膜卷带上设置有铜质凸起,所述电阻测试仪上设置有外接电源线,还包括第一方面中任意一项所述的覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,所述覆晶薄膜卷带用改进型电测工装中的弧形托盘与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起电气连接,所述覆晶薄膜卷带用改进型电测工装中的弧形托盘上的凹槽的槽面与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起的外表面贴合。

9、进一步的,所述覆晶薄膜卷带用改进型电测工装中的铜质螺杆与电阻测试仪上的外接电源线电气连接。

10、本技术具有的有益效果:

11、1、本技术中,导电组件的一端上设置有可与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起电气连接的弧形托盘,该弧形托盘上的凹槽的槽面可与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起的外表面贴合,本技术中通过将覆晶薄膜卷带上的铜质凸起装配在导电组件上的弧形托盘内,实现将覆晶薄膜卷带与本技术提供的覆晶薄膜卷带用改进型电测工装电气连接在一起,相比于通过针脚与覆晶薄膜卷带上的铜质凸起电气连接在一起的探针卡,由于弧形托盘相比于针脚更加坚固,因此本技术提供的覆晶薄膜卷带用改进型电测工装相比于探针卡更不易被损坏。

12、2、本技术中,还包括顶面上开设有若干个进给螺纹孔的插板,导电组件上的远离弧形托盘的一端上设置有可螺纹配合在进给螺纹孔内的铜质螺杆,可在全部的进给螺纹孔中选择一个或若干个装配导电组件,使本技术提供的覆晶薄膜卷带用改进型电测工装能够根据实际需求调整导电组件的数量。

13、3、本技术中,还包括顶面上开设有若干个插槽的底座,将插板插入插槽内,插板的底面上的第一磁铁块会与插槽的底面上的第二磁铁块吸附在一起,使插板能够稳固的安装在插槽内。

14、4、本技术中,插槽的底面上开设有贯穿孔,电阻测试仪上的外接电源线可通过贯穿孔与进给螺纹孔内的铜质螺杆电气连接。

15、5、本技术中,还设置有卡扣,卡扣的一端可拆卸安装在覆晶薄膜卷带上,卡扣的另一端可拆卸安装在底座上,从而将覆晶薄膜卷带固定在本技术提供的覆晶薄膜卷带用改进型电测工装上。

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【技术保护点】

1.一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,包括将覆晶薄膜卷带(10)上的铜质凸起(12)和电阻测试仪(11)上的外接电源线电气连接在一起的导电组件(6),其特征在于,所述导电组件(6)的一端上设置有可与覆晶薄膜卷带(10)上的铜质凸起(12)电气连接的弧形托盘(601),所述弧形托盘(601)上的凹槽的槽面可与覆晶薄膜卷带(10)上的铜质凸起(12)的外表面贴合。

2.根据权利要求1所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,其特征在于,还包括插板(4),所述插板(4)的顶面上开设有若干个进给螺纹孔(5),所述导电组件(6)上的远离弧形托盘(601)的一端上设置有可与电阻测试仪(11)上的外接电源线电气连接的铜质螺杆(602),所述铜质螺杆(602)可螺纹配合在进给螺纹孔(5)内。

3.根据权利要求2所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,其特征在于,还包括底座(1),所述底座(1)的顶面上开设有若干个可供插板(4)插入的插槽(2),所述插槽(2)的底面上设置有第一磁铁块(7),所述插板(4)的底面上设置有可吸附在第一磁铁块(7)上的第二磁铁块(8)。

>4.根据权利要求3所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,其特征在于,所述插槽(2)的底面上开设有贯穿孔(9),在插板(4)插入插槽(2)内后,螺纹配合在进给螺纹孔(5)内的铜质螺杆(602)可通过贯穿孔(9)与电阻测试仪(11)上的外接电源线电气连接。

5.根据权利要求3所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,其特征在于,还包括可将覆晶薄膜卷带(10)固定在底座(1)上的卡扣(3),所述卡扣(3)的一端可拆卸安装在覆晶薄膜卷带(10)上,所述卡扣(3)的另一端可拆卸安装在底座(1)上。

6.一种覆晶薄膜卷带用改进型电测系统,包括覆晶薄膜卷带(10)和电阻测试仪(11),所述覆晶薄膜卷带(10)上设置有铜质凸起(12),所述电阻测试仪(11)上设置有外接电源线,其特征在于,还包括权利要求1-5中任意一项所述的覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,所述覆晶薄膜卷带用改进型电测工装中的弧形托盘(601)与覆晶薄膜卷带(10)上的铜质凸起(12)电气连接,所述覆晶薄膜卷带用改进型电测工装中的弧形托盘(601)上的凹槽的槽面与覆晶薄膜卷带(10)上的铜质凸起(12)的外表面贴合。

7.根据权利要求6所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测系统,其特征在于,所述覆晶薄膜卷带用改进型电测工装中的铜质螺杆(602)与电阻测试仪(11)上的外接电源线电气连接。

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【技术特征摘要】

1.一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,包括将覆晶薄膜卷带(10)上的铜质凸起(12)和电阻测试仪(11)上的外接电源线电气连接在一起的导电组件(6),其特征在于,所述导电组件(6)的一端上设置有可与覆晶薄膜卷带(10)上的铜质凸起(12)电气连接的弧形托盘(601),所述弧形托盘(601)上的凹槽的槽面可与覆晶薄膜卷带(10)上的铜质凸起(12)的外表面贴合。

2.根据权利要求1所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,其特征在于,还包括插板(4),所述插板(4)的顶面上开设有若干个进给螺纹孔(5),所述导电组件(6)上的远离弧形托盘(601)的一端上设置有可与电阻测试仪(11)上的外接电源线电气连接的铜质螺杆(602),所述铜质螺杆(602)可螺纹配合在进给螺纹孔(5)内。

3.根据权利要求2所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,其特征在于,还包括底座(1),所述底座(1)的顶面上开设有若干个可供插板(4)插入的插槽(2),所述插槽(2)的底面上设置有第一磁铁块(7),所述插板(4)的底面上设置有可吸附在第一磁铁块(7)上的第二磁铁块(8)。

4.根据权利要求3所述的一种覆晶薄膜卷带用改进型电测工装,其特征在于,所述插槽(2)的底面上开...

【专利技术属性】
技术研发人员:兰强强
申请(专利权)人:合肥颀材科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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