【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种键盘装置及按键信息的检测方法，尤其涉及一种可精度良好地对按键信息进行检测的键盘装置及按键信息的检测方法。
技术介绍
1、已知有一种利用非接触式的传感器对按键的深度或速度等(以下称为“按键信息”)进行检测的技术。例如在专利文献1中，记载了一种技术，其中在基板56形成产生磁场的线圈57(传感器)，另一方面将与线圈57面对面的金属板55(被检测部)固定于键41。根据所述技术，通过按键时的金属板55相对于线圈57的相对位移而使线圈57中流动的电流(磁场)发生变化，因此可基于所述电流的变化来对按键信息进行检测。
2、现有技术文献
3、专利文献
4、专利文献1：日本专利特开平03-048295号公报(例如，第9页左上栏第7行～第18行，第29图)
技术实现思路
1、专利技术所要解决的问题
2、为了利用此种非接触式的传感器精度良好地对按键信息进行检测，需要使传感器与被检测部之间的间隙(clearance)在各键中成为如设计值那样的尺寸。但是，如所述现有技术那样若为将被检测部设置于键的结构，则各键自身的尺寸误差、或各键的安装误差等叠加，各键的传感器与被检测部之间的间隙容易偏离设计值。因此，存在无法精度良好地对按键信息进行检测的问题。
3、本专利技术是为了解决所述问题而成，其目的在于提供一种可精度良好地对按键信息进行检测的键盘装置及按键信息的检测方法。
4、解决问题的技术手段
5、为了达成所述目的，
6、本专利技术的按键信息的检测方法为键盘装置的按键信息的检测方法，所述键盘装置包括：第一支撑构件；多个键，能够摆动地支撑于所述第一支撑构件；位移构件，与所述键的摆动、或伴随所述键的摆动的锤的旋转联动地进行位移；传感器，与所述位移构件的被检测部面对面并对所述位移构件的位移进行检测；基板，供所述传感器设置；以及第二支撑构件，安装于所述基板并对所述位移构件以能够位移的方式进行支撑，所述按键信息的检测方法通过利用所述位移构件的位移使所述被检测部相对于所述传感器进行相对位移，而对所述键的按键信息进行检测。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种键盘装置，其特征在于包括：第一支撑构件；多个键，能够摆动地支撑于所述第一支撑构件；位移构件，与所述键的摆动、或伴随所述键的摆动的锤的旋转联动地进行位移；传感器，与所述位移构件的被检测部面对面并对所述位移构件的位移进行检测；基板，供所述传感器设置；以及第二支撑构件，安装于所述基板并对所述位移构件以能够位移的方式进行支撑。
2.根据权利要求1所述的键盘装置，其特征在于，所述位移构件与所述键或所述锤中的任一者包括向音阶方向突出的引导销，任一另一者包括供所述引导销能够滑动地插入的槽，
3.根据权利要求2所述的键盘装置，其特征在于，所述位移构件包括所述槽。
4.根据权利要求2所述的键盘装置，其特征在于，构成为通过变更所述槽的形状而能够调整所述传感器的输出。
5.根据权利要求1所述的键盘装置，其特征在于，多个所述位移构件支撑于沿音阶方向延伸的所述第二支撑构件。
6.根据权利要求1所述的键盘装置，其特征在于，所述位移构件能够旋转地支撑于所述第二支撑构件。
7.根据权利要求6所述的键盘装置，其特征在于，所述第二支撑构
8.根据权利要求7所述的键盘装置，其特征在于，所述引导部形成为以所述位移构件的旋转轴为中心的圆弧状。
9.一种按键信息的检测方法，为键盘装置的按键信息的检测方法，所述键盘装置包括：第一支撑构件；多个键，能够摆动地支撑于所述第一支撑构件；位移构件，与所述键的摆动、或伴随所述键的摆动的锤的旋转联动地进行位移；传感器，与所述位移构件的被检测部面对面并对所述位移构件的位移进行检测；基板，供所述传感器设置；以及第二支撑构件，安装于所述基板并对所述位移构件以能够位移的方式进行支撑，所述按键信息的检测方法的特征在于：
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种键盘装置，其特征在于包括：第一支撑构件；多个键，能够摆动地支撑于所述第一支撑构件；位移构件，与所述键的摆动、或伴随所述键的摆动的锤的旋转联动地进行位移；传感器，与所述位移构件的被检测部面对面并对所述位移构件的位移进行检测；基板，供所述传感器设置；以及第二支撑构件，安装于所述基板并对所述位移构件以能够位移的方式进行支撑。
2.根据权利要求1所述的键盘装置，其特征在于，所述位移构件与所述键或所述锤中的任一者包括向音阶方向突出的引导销，任一另一者包括供所述引导销能够滑动地插入的槽，
3.根据权利要求2所述的键盘装置，其特征在于，所述位移构件包括所述槽。
4.根据权利要求2所述的键盘装置，其特征在于，构成为通过变更所述槽的形状而能够调整所述传感器的输出。
5.根据权利要求1所述的键盘装置，其特征在于，多个所述位移构件支撑于沿音阶方向延伸的所述第二支撑构件。
6.根据权利...
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