【技术实现步骤摘要】
本公开涉及测量标定，尤其涉及一种可见近红外探测器阵列的测试标定方法。
技术介绍
1、单光子雪崩光电二极管是具有内部光电流增益的半导体光电子器件，具有对单光子能级水平的极弱光信号进行探测的能力。其雪崩效应是引起pn结击穿的一种机制，它利用光生载流子在二极管耗尽层内的碰撞电离效应而获得的光电流的雪崩倍增。加反向偏压的pn结，在偏置电压足够高时，空间电荷区的内电场足够强时，碰撞电离产生的电子空穴对可以不断被电场加热并产生新的空穴电子对，随即，这些新的空穴-电子对会进一步碰撞电离产生更多的空穴-电子对，持续的碰撞电离使得载流子大量增加，最终在电场的作用下形成雪崩电流，此时单光子雪崩光电二极管工作在盖革模式(也称单光子模式)。该模式下单光子雪崩光电二极管的内部增益可以达到106以上。
2、然而，现有的spad器件不同的参数需要借助不同的测量仪器和万用源表、外围电路共同完成，虽然万用源表精度高但价格也很高，高的精度远远超出了spad器件测试系统的需要。因此具有高精度、低成本、易操作集成式对探测器的测试标定方法是非常有意义的。
技术实现思路
1、提供该公开内容部分以便以简要的形式介绍构思，这些构思将在后面的具体实施方式部分被详细描述。该公开内容部分并不旨在标识要求保护的技术方案的关键特征或必要特征，也不旨在用于限制所要求的保护的技术方案的范围。
2、本公开实施例提供了一种可见近红外探测器阵列的测试标定方法，可以提高可见近红外探测器阵列的测试标定方法的使用体验，提高其功能性
3、第一方面，本申请实施例提供一种可见近红外探测器阵列的测试标定方法，应用于测试标定系统中的终端设备，终端设备与测试标定系统的控制模块连接，测试标定系统包括：终端设备；阵列固定模块，用于固定待测探测器阵列；单光子源模块，用于生成近红外光子或者可见光光子；光学聚焦模块，用于将光子产生器输出的光子聚焦至待测试探测器阵列的光敏面；高压偏置电路，用于对待测探测器阵列提供高压偏置；阵列扫描模块，用于对待测探测器阵列中的探测器进行扫描，输出电信号；控制模块，用于基于所述电信号生成待测探测器阵列的性能参数；以及该方法包括：在人机交互界面，显示参数选择控件，其中，参数选择控件用于选择测试参数；将所述参数选择控件选择的测试参数，发送至所述测试标定系统的控制模块，其中，所述测试标定系统的控制模块根据接收到的测试参数生成测试信号，测试待测探测器阵列；在人机交互界面，显示性能参数显示子界面，其中，性能参数显示子界面包括控制模块处理获取的性能参数。
4、在第一方面的一种可选的实施方式中，所述性能参数包括暗计数率；以及所述在人机交互界面，显示性能参数显示子界面，包括：接收以及显示暗计数率，其中，暗计数率通过以下方式生成：将所述系统的光学聚焦模块、高压偏置电路、阵列扫描模块、控制模块均设置在暗室中；当待测探测器阵列处于暗室中并不加光时，信号提取与鉴别模块将得到的脉冲信号传输给控制模块；控制模块统计计数脉冲的脉冲个数获得暗计数，以及基于暗计数生成暗计数率。
5、在第一方面的一种可选的实施方式中，所述性能参数包括暗计数率；以及所述在人机交互界面，显示性能参数显示子界面，包括：接收以及显示光计数率，其中，光计数率通过以下方式生成：待测探测器阵列在探测门内接收到一个或多个光子，信号提取与鉴别利用边沿锁存方式将得到的脉冲信号传输给控制模块；控制模块统计计数脉冲的脉冲个数获得光计数，以及基于光计数生成光计数率。
6、在第一方面的一种可选的实施方式中，所述性能参数包括后脉冲概率；以及所述在人机交互界面，显示性能参数显示子界面，包括：
7、接收以及显示后脉冲概率，其中，所述后脉冲概率通过以下方式生成：待测探测器阵列在探测门内接收到一个或多个光子，信号提取与鉴别利用双门控法将得到的脉冲信号传输给控制模块；所述控制模块统计计数脉冲的脉冲个数获得后脉冲数，以及基于后脉冲数生成后脉冲概率。
8、在第一方面的一种可选的实施方式中，所述将所述参数选择控件选择的测试参数，发送至所述测试标定系统的控制模块，包括：显示候选测试方案，其中，候选测试方案与测试参数集合关联；根据用户选择从候选测试方案中确定目标测试方案，以及显示与目标测试方案关联的目标测试参数集合；将目标测试参数集合发送至所述测试标定系统的控制模块。
9、在第一方面的一种可选的实施方式中，所述测试方案包括采用m套测试参数测试；其中，所述将所述参数选择控件选择的测试参数，发送至所述测试标定系统的控制模块，包括：将n测试参数传输至所述控制模块，其中，控制模块根据测试参数调整输出的控制信号，生成测试结果，以及将测试结果发送至终端设备进行显示；响应于接收到测试结果，将第n+1套测试参数传输至所述测试模块，其中，n大于等于1小于等于m-1。
10、在第一方面的一种可选的实施方式中，所述测试参数包括以下一项或者多项：用于控制模块产生的门控信号的脉冲宽度的参数，用于控制模块产生的门控信号的重复频率的参数。
11、第二方面，本申请实施例提供一种可见近红外探测器阵列的测试标定装置，应用于测试标定系统中的终端设备，终端设备与测试标定系统的控制模块连接，测试标定系统包括：终端设备；阵列固定模块，用于固定待测探测器阵列；单光子源模块，用于生成近红外光子或者可见光光子；光学聚焦模块，用于将光子产生器输出的光子聚焦至待测试探测器阵列的光敏面；高压偏置电路，用于对待测探测器阵列提供高压偏置；阵列扫描模块，用于对待测探测器阵列中的探测器进行扫描，输出电信号；控制模块，用于基于所述电信号生成待测探测器阵列的性能参数；以及该测试标定装置包括：第一显示单元，用于在人机交互界面，显示参数选择控件，其中，参数选择控件用于选择测试参数；发送单元，用于将所述参数选择控件选择的测试参数，发送至所述测试标定系统的控制模块，其中，所述测试标定系统的控制模块根据接收到的测试参数生成测试信号，测试待测探测器阵列；第二显示单元，用于在人机交互界面，显示性能参数显示子界面，其中，性能参数显示子界面包括控制模块处理获取的性能参数。
12、第三方面，本公开实施例提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储装置，用于存储一个或多个程序，当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如第一方面所述的测试标定方法。
13、第四方面，本公开实施例提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如第一方面所述的测试标定方法的步骤。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种可见近红外探测器阵列的测试标定方法，其特征在于，应用于测试标定系统中的终端设备，终端设备与测试标定系统的控制模块连接，测试标定系统包括：终端设备；阵列固定模块，用于固定待测探测器阵列；单光子源模块，用于生成近红外光子或者可见光光子；光学聚焦模块，用于将光子产生器输出的光子聚焦至待测试探测器阵列的光敏面；高压偏置电路，用于对待测探测器阵列提供高压偏置；阵列扫描模块，用于对待测探测器阵列中的探测器进行扫描，输出电信号；控制模块，用于基于所述电信号生成待测探测器阵列的性能参数；以及
2.根据权利要求1所述的可见近红外探测器阵列测试标定方法，其特征在于，所述性能参数包括暗计数率；以及
3.根据权利要求1所述的可见近红外探测器阵列测试标定方法，其特征在于，所述性能参数包括暗计数率；以及
4.根据权利要求1所述的可见近红外探测器阵列测试标定方法，其特征在于，所述性能参数包括后脉冲概率；以及
5.根据权利要求1所述的可见近红外探测器阵列测试标定方法，其特征在于，所述将所述参数选择控件选择的测试参数，发送至所述测试标定系统的控制模块，包括：
6.根据权利要求1所述的可见近红外探测器阵列测试标定方法，其特征在于，所述测试方案包括采用M套测试参数测试；其中，
7.根据权利要求1所述的可见近红外探测器阵列测试标定方法，其特征在于，所述测试参数包括以下一项或者多项：用于控制模块产生的门控信号的脉冲宽度的参数，用于控制模块产生的门控信号的重复频率的参数。
8.一种可见近红外探测器阵列的测试标定装置，其特征在于，应用于测试标定系统中的终端设备，终端设备与测试标定系统的控制模块连接，测试标定系统包括：终端设备；阵列固定模块，用于固定待测探测器阵列；单光子源模块，用于生成近红外光子或者可见光光子；光学聚焦模块，用于将光子产生器输出的光子聚焦至待测试探测器阵列的光敏面；高压偏置电路，用于对待测探测器阵列提供高压偏置；阵列扫描模块，用于对待测探测器阵列中的探测器进行扫描，输出电信号；控制模块，用于基于所述电信号生成待测探测器阵列的性能参数；以及
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种可见近红外探测器阵列的测试标定方法，其特征在于，应用于测试标定系统中的终端设备，终端设备与测试标定系统的控制模块连接，测试标定系统包括：终端设备；阵列固定模块，用于固定待测探测器阵列；单光子源模块，用于生成近红外光子或者可见光光子；光学聚焦模块，用于将光子产生器输出的光子聚焦至待测试探测器阵列的光敏面；高压偏置电路，用于对待测探测器阵列提供高压偏置；阵列扫描模块，用于对待测探测器阵列中的探测器进行扫描，输出电信号；控制模块，用于基于所述电信号生成待测探测器阵列的性能参数；以及
2.根据权利要求1所述的可见近红外探测器阵列测试标定方法，其特征在于，所述性能参数包括暗计数率；以及
3.根据权利要求1所述的可见近红外探测器阵列测试标定方法，其特征在于，所述性能参数包括暗计数率；以及
4.根据权利要求1所述的可见近红外探测器阵列测试标定方法，其特征在于，所述性能参数包括后脉冲概率；以及
5.根据权利要求1所述的可见近红外探测器阵列测试标定方法，其特征在于，所述将所述参数选择控件选择的测试参数，发送至所述测试标定系统的控制模块，包括：
【专利技术属性】
技术研发人员：郑福，刘冰，傅雨婷，
申请(专利权)人：中国科学院国家空间科学中心，
类型：发明
国别省市：
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