高密封性的晶体管耐高温测试装置制造方法及图纸

技术编号:43337562 阅读:0 留言:0更新日期:2024-11-15 20:33
高密封性的晶体管耐高温测试装置,包括;外箱体,利用下方底座放置在水平的操作平台上;上盖,可拆卸的设置在所述外箱体上方,所述上盖可防止所述外箱体内部的热量散失;控制面板,固定安装在所述外箱体左侧外表面,所述控制面板与内部元器件通过导线相连接;加热装置,活动安装在所述外箱体内部下表面,所述加热装置整体呈圆形结构,且所述加热装置下方设置有可带动其发生转动的从动齿轮;所述外箱体的上端面设有一用于容置密封圈的凹槽,静止状态下所述密封圈高于所述外箱体的上端面,所述凹槽底部的两侧延伸有用于容置所述密封圈变形部分的扩展槽。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及晶体管测试,尤其涉及高密封性的晶体管耐高温测试装置


技术介绍

1、晶体管是一种固体半导体器件,具有检波、整流、放大、开关和稳压等多种功能,晶体管是规范操作电脑、手机和其他电子电路的基本构建块。

2、晶体管在生产出来之后需要对其各方面的性能进行测试才能对外进行销售使用,其中一项是对其耐高温性能进行检测,由于晶体管是安装在电路中的,所以在工作中会产生一定的热量,所以要求晶体管具有一定的耐高温性能。目前的测温装置中密封效果较差,导致热量会散失,从而影响测温结果。


技术实现思路

1、为解决上述问题,本技术方案提供高密封性的晶体管耐高温测试装置。

2、为实现上述目的,本技术方案如下:

3、高密封性的晶体管耐高温测试装置,包括;

4、外箱体,利用下方底座放置在水平的操作平台上;

5、上盖,可拆卸的设置在所述外箱体上方,所述上盖可防止所述外箱体内部的热量散失;

6、控制面板,固定安装在所述外箱体左侧外表面,所述控制面板与内部元器件通过导线相连接;

7、加热装置,活动安装在所述外箱体内部下表面,所述加热装置整体呈圆形结构,且所述加热装置下方设置有可带动其发生转动的从动齿轮;

8、所述外箱体的上端面设有一用于容置密封圈的凹槽,静止状态下所述密封圈高于所述外箱体的上端面,所述凹槽底部的两侧延伸有用于容置所述密封圈变形部分的扩展槽。

9、在一些实施例中,所述上盖两端设有第一固定部,所述第一固定部具有螺纹孔,所述外箱体的两端设有第二固定部,所述第二固定部亦具有螺纹孔,两个所述螺纹孔配合可穿过螺钉。

10、在一些实施例中,所述上盖一侧设有吹风扇。

11、在一些实施例中,导热板,活动安装在所述外箱体内部,所述导热板由导热性能较好的金属材料制成,且所述导热板右侧贯穿设置有可带动其上下移动的纵向丝杆;

12、固定夹持块,固定设置在所述导热板上表面;

13、活动夹持块,活动安装在固定夹持块侧面,所述活动夹持块与固定夹持块的位置相互对应,且所述活动夹持块侧面与活动挤压块固定连接;

14、放置槽,开设在所述活动夹持块和固定夹持块内侧,所述放置槽用于放置待检测的晶体管。

15、在一些实施例中,所述从动齿轮与侧面设置的固定齿条组成啮合结构,且所述从动齿轮下方转动设置有用于接入加热气体的活动块,并且活动块下方设置有直线滑块。

16、在一些实施例中,所述直线滑块通过横向丝杆与外箱体组成滑动结构,且所述横向丝杆由可正反转的伺服电机驱动转动。

17、在一些实施例中,所述外箱体内部左右两侧表面固定安装有固定挤压块,且所述固定挤压块与所述活动挤压块表面均呈倾斜状结构。

18、在一些实施例中,所述活动挤压块通过复位弹簧与所述导热板组成弹性结构,且所述导热板通过纵向丝杆与所述外箱体组成升降结构。

19、在一些实施例中,所述纵向丝杆下方顶端同轴固定安装有横向斜齿轮,且所述横向斜齿轮与纵向斜齿轮组成啮合结构。

20、本申请有益效果为:

21、由于密封圈高度高于凹槽,那么上盖压下的时候,密封圈就会变形,且底部往两侧的扩展槽变形,以使密封圈处于压紧状态,其恢复作用力始终与上盖的内壁贴紧,从而大大提高上盖与外箱体之间的密封性,防止热量散失;

22、该用于测试晶体管耐高温性能的检测装置,采用新型的结构设计,使得装置可以将需要检测的晶体管集中放在导热板上的夹持装置上,之后利用导热板的向下移动带动夹持装置自动对其进行夹持,并且在加热的过程中加热装置在横向丝杆带动左右移动的同时也会发生转动,使得导热板受热更加均匀,保证检测结果的准确性。

23、导热板、纵向丝杆、活动挤压块和固定挤压块之间的配合使用,通过纵向丝杆的转动带动导热板向下转动,使得活动挤压块与固定挤压块之间产生挤压,从而将活动挤压块向内部挤压,从而推动活动夹持块靠近固定夹持块,实现对晶体管的夹持。

24、横向丝杆、直线滑块、从动齿轮和固定齿条之间的配合使用,在加热装置工作的过程中通过伺服电机带动横向丝杆正反交替转动,从而使得直线滑块带动上方的加热装置左右往复移动,并且同时从动齿轮与固定齿条之间处于啮合状态,所以会利用从动齿轮带动加热装置发生转动,最终使得上方的导热板均匀受热。

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【技术保护点】

1.高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于,包括;

2.根据权利要求1所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:所述上盖两端设有第一固定部,所述第一固定部具有螺纹孔,所述外箱体的两端设有第二固定部,所述第二固定部亦具有螺纹孔,两个所述螺纹孔配合可穿过螺钉。

3.根据权利要求2所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:所述上盖一侧设有吹风扇。

4.根据权利要求1所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:导热板,活动安装在所述外箱体内部,所述导热板由有导热性能的金属材料制成,且所述导热板右侧贯穿设置有可带动其上下移动的纵向丝杆;

5.根据权利要求4所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:所述从动齿轮与侧面设置的固定齿条组成啮合结构,且所述从动齿轮下方转动设置有用于接入加热气体的活动块,并且活动块下方设置有直线滑块。

6.根据权利要求5所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:所述直线滑块通过横向丝杆与外箱体组成滑动结构,且所述横向丝杆由可正反转的伺服电机驱动转动。

7.根据权利要求6所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:所述外箱体内部左右两侧表面固定安装有固定挤压块,且所述固定挤压块与所述活动挤压块表面均呈倾斜状结构。

8.根据权利要求7所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:所述活动挤压块通过复位弹簧与所述导热板组成弹性结构,且所述导热板通过纵向丝杆与所述外箱体组成升降结构。

9.根据权利要求8所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:所述纵向丝杆下方顶端同轴固定安装有横向斜齿轮,且所述横向斜齿轮与纵向斜齿轮组成啮合结构。

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【技术特征摘要】

1.高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于,包括;

2.根据权利要求1所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:所述上盖两端设有第一固定部,所述第一固定部具有螺纹孔,所述外箱体的两端设有第二固定部,所述第二固定部亦具有螺纹孔,两个所述螺纹孔配合可穿过螺钉。

3.根据权利要求2所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:所述上盖一侧设有吹风扇。

4.根据权利要求1所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:导热板,活动安装在所述外箱体内部,所述导热板由有导热性能的金属材料制成,且所述导热板右侧贯穿设置有可带动其上下移动的纵向丝杆;

5.根据权利要求4所述的高密封性的晶体管耐高温测试装置,其特征在于:所述从动齿轮与侧面设置的固定齿条组成啮合结构,且所述从动齿轮下方转动设置有用于接入...

【专利技术属性】
技术研发人员:李建田
申请(专利权)人:惠州市力迈电子有限公司
类型:新型
国别省市:

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