【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及设备校准领域。更具体地，本专利技术涉及一种配料设备配料精度的校准方法及系统。
技术介绍
1、在粉末冶金的生产工艺流程中，配料环节作为起始步骤，扮演着至关重要的角色。这一环节要求将各种金属粉末按照严格的比例混合，以确保最终产品的物理和化学性质符合设计要求。配料的精度直接影响到材料的微观结构，进而决定产品的强度、硬度、韧性等关键性能。一旦配料比例出现偏差，不仅会造成产品质量不稳定，还可能导致整批产品报废，给企业带来高昂的成本损失，包括原材料浪费、生产延误以及可能的客户信任度下降。因此，保持配料设备的高精度和稳定性，通过校准配料设备避免配料误差，是确保生产流程高效、产品质量可靠的核心所在。
2、arima模型被广泛应用于时间序列预测的场景中，但是，arima模型是基于历史数据进行预测的，对数据量要求高，并且对数据异常值敏感，若是输入的数据存在异常，会大大影响arima模型输出的准确性，导致预测校准效果差的情况。
技术实现思路
1、为解决预测校准效果差的问题，本专利技术提出一种配料设备配料精度的校准方法及系统。
2、第一方面，本专利技术公开一种配料设备配料精度的校准方法，包括：将任一设备作为目标设备，将与目标设备型号相同的设备作为参考设备，获取目标设备和参考设备在各采样周期校准的时间序号和校准次数，根据时间序号和校准次数计算设备的需校准度，设备包括目标设备和参考设备；计算参考设备和目标设备在相同采样周期的需校准度差值绝对值，将所有差值绝对值相加求均值作
3、，表示目标设备在第个采样周期的加权需校准度，表示参考设备的总数量，表示第个参考设备的权重，表示第个参考设备在第个采样周期的补偿后需校准度，表示目标设备在第个采样周期的需校准度。
4、通过获取目标设备和同型号参考设备在各采样周期的校准时间序号和次数，计算得出需校准度，为设备校准提供了基础数据。接着，通过比较参考设备和目标设备在相同采样周期的需校准度差值，计算差异度，并据此确定相位补偿参数，有效消除了设备间的差异性，增强了校准的一致性和可靠性。通过引入权重和补偿机制，确保了不同设备在校准过程中的平衡性和协调性。
5、优选的，所述需校准度满足关系式：对于任一采样周期，计算设备的采样周期序号与校准的时间序号的差值平方，对差值平方进行负相关映射获得映射值；遍历获得每次校准的映射值，将所有映射值的和作为采样周期的需校准度。
6、通过计算设备的采样周期序号与校准时间序号的差值平方，利用负相关映射转换这些差值平方为映射值，有效地量化了采样周期与校准时间之间的相对关系，不仅能提高校准质量，还减少了偶然误差和系统偏差的影响，为设备校准提供了更加精确的参考依据。
7、优选的，所述需校准度还包括：将设备的第一个采样周期作为初始周期，将任一采样周期作为研究周期，将从初始周期到研究周期之间的校准次数相加并归一化的结果作为研究周期的需校准度。
8、优选的，所述补偿后需校准度满足关系式：
9、，表示第个参考设备在第个采样周期的补偿后需校准度，表示第个参考设备的校准次数，表示采样周期，表示第个参考设备第次校准的时间序号，表示第个参考设备的相位补偿参数，表示指数函数。
10、通过引入相位补偿参数，降低参考设备由于自身机器状态出现与目标设备之间存在相位差的情况，提高了参考设备的数据可参考性。
11、优选的，所述根据差异度确定相位补偿参数包括：将设备相邻两次校准的时间序号做差作为校准间隔，将设备所有校准间隔的均值作为平均校准间隔；将目标设备的平均校准间隔和参考设备的平均校准间隔之间的最大值作为相位补偿参数的取值区间的上限，取值区间的下限为0，遍历计算取值区间每个相位补偿参数对应的需校准度，计算参考设备在每个相位补偿参数下与目标设备的差异度，将最小差异度对应的相位补偿参数作为最优的相位补偿参数。
12、通过设置相位补偿参数的取值区间，确保了相位补偿参数设置的合理性，提高了设备校准的精确度，确保了设备在不同采样周期中校准数据的代表性和准确性。
13、优选的，所述取值区间还包括：将设备相邻两次校准的时间序号做差作为校准间隔，利用pca计算设备每个校准间隔的重要性；将目标设备最重要的校准间隔与参考设备最重要的校准间隔中的最大值作为相位补偿参数的取值区间的上限，取值区间的下限为0。
14、优选的，所述权重包括：将目标设备和参考设备的校准次数的差值进行归一化作为第一差值；将设备相邻两次校准的时间序号做差作为校准间隔，将设备所有校准间隔的均值作为平均校准间隔；将目标设备和参考设备的平均校准间隔的差值进行归一化作为第二差值；计算第一差值、第二差值和差异度的乘积，将1与乘积的差值作为权重。
15、第一差值反映了两设备在校准频率上的相对偏差，第二差值量化了两设备在校准规律性方面的差异。将1与乘积的差值作为权重，用于调整和优化校准过程，不仅提高了校准过程的精确性和适应性，还增强了对设备校准特性差异的敏感度，确保了校准结果的准确性和可靠性。
16、第二方面，本专利技术公开一种配料设备配料精度的校准系统，包括：处理器；以及存储器，所述存储器存储有计算机指令，当所述计算机指令由处理器运行时，使得系统执行上述的一种配料设备配料精度的校准方法。
17、本专利技术的有益效果：
18、1、本专利技术通过计算第一差值和第二差值，根据第一差值、第二差值和差异度得到用于加权需校准度的权重，这种权重的计算考虑了校准频率和时间间隔的相对变化，从而更准确地反映设备间的同步性和一致性。
19、2、本专利技术考虑了校准间隔的影响，丰富了相位补偿参数取值区间的确定方式，从而自适应获得每个参考设备对应最优的相位补偿参数。而补偿后需校准度的计算公式，则通过对参考设备校准次数和时间序号的指数衰减函数进行求和，实现了对校准度的精确补偿。
20、3、本专利技术提高了配料设备的校准效率，减少了因校准不当而导致的资源浪费，还保证了配料结果的准确性和一致性，能够显著提升生产效率，降低维护成本，同时确保产品质量。
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1.一种配料设备配料精度的校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种配料设备配料精度的校准方法，其特征在于，所述需校准度满足关系式：
3.根据权利要求1所述的一种配料设备配料精度的校准方法，其特征在于，所述需校准度还包括：
4.根据权利要求1所述的一种配料设备配料精度的校准方法，其特征在于，所述补偿后需校准度满足关系式：
5.根据权利要求1所述的一种配料设备配料精度的校准方法，其特征在于，所述根据差异度确定相位补偿参数包括：
6.根据权利要求5所述的一种配料设备配料精度的校准方法，其特征在于，所述取值区间还包括：
7.根据权利要求1所述的一种配料设备配料精度的校准方法，其特征在于，所述权重包括：
8.一种配料设备配料精度的校准系统，其特征在于，包括：
【技术特征摘要】
1.一种配料设备配料精度的校准方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种配料设备配料精度的校准方法，其特征在于，所述需校准度满足关系式：
3.根据权利要求1所述的一种配料设备配料精度的校准方法，其特征在于，所述需校准度还包括：
4.根据权利要求1所述的一种配料设备配料精度的校准方法，其特征在于，所述补偿后需校准度满足关系式：
【专利技术属性】
技术研发人员：魏放，王玄玄，郭文强，李贤鹤，高伟，
申请(专利权)人：江苏威拉里新材料科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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