【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测试，尤其涉及一种测试装置。
技术介绍
1、芯片，也称为集成电路（integrated circuit, ic）或微芯片（microchip），现有芯片布满了密集的测试点和pin脚（引脚），这些测试点和引脚是芯片与外界进行信号传输和交互的关键接口，对这些测试点和pin脚进行全面而精确的测试至关重要。
2、现有技术通常使芯片上的测试点调整至与探针模组的探针一一对应后，然后人工手动给芯片施加适量的压力，使得测试点与探针抵接，测试完成后，使得芯片上的pin脚对准pin柔性板，人工手动给芯片施加适量的压力，使pin脚抵接pin柔性板，其十分简单，然而，其检测时间长，且常常出现人工施加压力过大导致芯片的测试点及pin脚受损的问题，因此，需要对现有技术进行改进。
3、以上信息作为背景信息给出只是为了辅助理解本公开，并没有确定或者承认任意上述内容是否可用作相对于本公开的现有技术。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种测试装置，以解决现有技术测试芯片无法同时对测试点及pin脚进行测试导致的检测时间长及人工给芯片施压容易导致芯片受损的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供以下的技术方案：
3、一种测试装置，其包括：
4、固定座，用于承托若干探针；
5、承托座，用于承托芯片，所述承托座设有避让孔，所述探针通过所述避让孔，并和所述芯片上的测试点一一对应；
6、第一弹性件，连接所述固定座和所述承托座；p>
7、承载板，用于承托pin柔性板；
8、调节机构，连接所述承载板，用于调节所述承载板的位置，以使所述pin柔性板正对所述芯片上的pin脚；
9、第一连接块，连接有第一压头和第二压头，所述第一压头正对所述测试点，所述第二压头正对所述pin脚；
10、测试时，所述调节机构启动且所述第一连接块受驱，所述第一压头和第二压头下压所述芯片，所述测试点抵接所述探针，所述pin脚抵接所述pin柔性板。
11、较佳地，所述测试装置还包括第二连接块、第二弹性件和升降气缸，所述升降气缸的伸缩端连接所述第二连接块，所述第二弹性件的两端分别连接所述第一连接块和所述第二连接块。
12、较佳地，所述调节机构包括x轴模组、y轴模组和z轴模组，所述y轴模组包括第一电机和第一滑块，所述x轴模组包括第二电机和第二滑块，所述第一电机的伸缩端和所述第二电机均连接所述第一滑块，所述第二电机的伸缩端和所述承载板均连接所述第二滑块，所述z轴模组用于驱动所述承载板沿竖直方向运动。
13、较佳地，所述第二滑块设有滑槽，所述承载板的凸块限位于所述滑槽内，所述z轴模组包括顶升气缸，所述顶升气缸的伸缩端连接有第三压头，所述第三压头受驱带动所述凸块沿所述滑槽滑动，以使位于所述pin脚下方的pin柔性板抵接所述pin脚。
14、较佳地，所述测试装置还包括工作台、第三电机和第三滑块，所述第三电机的伸缩端连接所述顶升气缸，所述工作台连接有导轨和所述固定座，并设有开口，所述第三滑块连接所述导轨和所述顶升气缸。
15、较佳地，所述测试装置还包括机架，所述调节机构还包括u型电机，所述u型电机连接所述第一电机和所述机架，所述机架连接有第四电机的固定端、滑轨和所述工作台，所述第一连接板连接所述滑轨和所述第四电机的伸缩端。
16、较佳地，所述测试装置还包括ccd相机和plc控制器，所述ccd相机电连接所述plc控制器，用于对所述芯片进行拍照以获得图像并将所述图像传输给所述plc控制器，所述plc控制器通过图像采集卡识别所述图像并控制所述第一电机、第二电机、第三电机、u型电机和顶升气缸的移动。
17、较佳地，所述工作台连接有限位块，所述限位块上连接有缓冲器，所述缓冲器用于缓冲所述顶升气缸对所述限位块的冲击。
18、较佳地，所述固定板上连接有导向柱，所述承托板对应所述导向柱的位置上连接有导向孔，所述第一压头下压所述承载板和所述芯片时，所述导向柱贯穿所述导向孔。
19、较佳地，所述测试装置还包括光栅，所述机架设有物料进出口，所述光栅设于所述物料进出口处，并连接所述机架。
20、与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：
21、本专利技术提供的测试装置包括固定座、承托座、第一弹性件、承载板、调节机构和第一连接块，固定座用于承托若干探针，承托座用于承托芯片，承托座设有避让孔，探针通过避让孔，并和芯片上的测试点一一对应，第一弹性件连接固定座和承托座，承载板用于承托pin柔性板，调节机构连接承载板用于调节承载板的位置，以使pin柔性板正对芯片上的pin脚，第一连接块连接有第一压头和第二压头，第一压头正对测试点，第二压头正对pin脚，测试时，调节机构启动且第一连接块受驱，第一压头和第二压头下压芯片，测试点抵接探针，pin脚抵接pin柔性板，pin脚和测试点可以并行测试，显著缩短了测试时间，第一连接块下压时，第一弹性件能够吸收部分冲击力，保护芯片不受损。
22、本专利技术具有其它的特性和优点，这些特性和优点从并入本文中的附图和随后的具体实施方式中将是显而易见的，或者将在并入本文中的附图和随后的具体实施方式中进行详细陈述，这些附图和具体实施方式共同用于解释本专利技术的特定原理。
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1.一种测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：还包括第二连接块、第二弹性件和升降气缸，所述升降气缸的伸缩端连接所述第二连接块，所述第二弹性件的两端分别连接所述第一连接块和所述第二连接块。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述调节机构包括X轴模组、Y轴模组和Z轴模组，所述Y轴模组包括第一电机和第一滑块，所述X轴模组包括第二电机和第二滑块，所述第一电机的伸缩端和所述第二电机均连接所述第一滑块，所述第二电机的伸缩端和所述承载板均连接所述第二滑块，所述Z轴模组用于驱动所述承载板沿竖直方向运动。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于：所述第二滑块设有滑槽，所述承载板的凸块限位于所述滑槽内，所述Z轴模组包括顶升气缸，所述顶升气缸的伸缩端连接有第三压头，所述第三压头受驱带动所述凸块沿所述滑槽滑动，以使位于所述pin脚下方的pin柔性板抵接所述pin脚。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于：还包括工作台、第三电机和第三滑块，所述第三电机的伸缩端连接所述顶升气缸，所述工作台连接有导
6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于：还包括机架，所述调节机构还包括U型电机，所述U型电机连接所述第一电机和所述机架，所述机架连接有第四电机的固定端、滑轨和所述工作台，所述第一连接板连接所述滑轨和所述第四电机的伸缩端。
7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于：还包括CCD相机和PLC控制器，所述CCD相机电连接所述PLC控制器，用于对所述芯片进行拍照以获得图像并将所述图像传输给所述PLC控制器，所述PLC控制器通过图像采集卡识别所述图像并控制所述第一电机、第二电机、第三电机、U型电机和顶升气缸的移动。
8.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于：所述工作台连接有限位块，所述限位块上连接有缓冲器，所述缓冲器用于缓冲所述顶升气缸对所述限位块的冲击。
9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述固定板上连接有导向柱，所述承托板对应所述导向柱的位置上连接有导向孔，所述第一压头下压所述承载板和所述芯片时，所述导向柱贯穿所述导向孔。
10.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于：还包括光栅，所述机架设有物料进出口，所述光栅设于所述物料进出口处，并连接所述机架。
...【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：还包括第二连接块、第二弹性件和升降气缸，所述升降气缸的伸缩端连接所述第二连接块，所述第二弹性件的两端分别连接所述第一连接块和所述第二连接块。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述调节机构包括x轴模组、y轴模组和z轴模组，所述y轴模组包括第一电机和第一滑块，所述x轴模组包括第二电机和第二滑块，所述第一电机的伸缩端和所述第二电机均连接所述第一滑块，所述第二电机的伸缩端和所述承载板均连接所述第二滑块，所述z轴模组用于驱动所述承载板沿竖直方向运动。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于：所述第二滑块设有滑槽，所述承载板的凸块限位于所述滑槽内，所述z轴模组包括顶升气缸，所述顶升气缸的伸缩端连接有第三压头，所述第三压头受驱带动所述凸块沿所述滑槽滑动，以使位于所述pin脚下方的pin柔性板抵接所述pin脚。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于：还包括工作台、第三电机和第三滑块，所述第三电机的伸缩端连接所述顶升气缸，所述工作台连接有导轨和所述固定座，并设有开口，所述第三滑块连接所述导轨和所述顶升...
【专利技术属性】
技术研发人员：肖仁锋，刘月敏，梁发年，
申请(专利权)人：广东金龙东创智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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