【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电路板，尤其涉及一种阻抗测试条及电路板。
技术介绍
1、高速信号在传输线上传导时，若传输线的瞬时阻抗不一致，信号便不会完全向前传导，信号的部分能量会从阻抗变化处反射，而信号的其余部分会继续向前传输，最终传输到目的端的信号回出现失真。信号发生反射后，信号波形失真，因为透射波和反射波的叠加，失真信号出现了过冲、欠冲和振铃的现象，导致信号传输质量下降。
2、当传输线上的阻抗不一致时，高速信号会发生反射，出现信号过冲、欠冲和振铃等现象。由传输线理论可知，当负载阻抗和传输线特征阻抗相同时，反射系数便为零，使信号反射消失。完善电路结构，使信号传输路径上的阻抗一致，便称为阻抗匹配。
3、为实现阻抗匹配，首先需要对传输线的阻抗进行测试。然而，现有的阻抗测试条，在进行阻抗测试时，受玻纤效应影响较大，导致测试结果不准确。
技术实现思路
1、本申请提供了一种阻抗测试条及电路板，以改善阻抗测试过程中的玻纤效应。
2、本申请提供了：一种阻抗测试条，包括：基板，以及设置于所述基板上的单端阻抗测试线和/或差分阻抗测试线；
3、当所述阻抗测试条包括所述单端阻抗测试线时，所述单端阻抗测试线包括第一阻抗测试线，所述第一阻抗测试线包括依次交替设置的第一结构段和第二结构段，所述第一结构段和所述第二结构段沿w形分布设置；
4、当所述阻抗测试条包括所述差分阻抗测试线时，所述差分阻抗测试线包括第二阻抗测试线和第三阻抗测试线，所述第二阻抗测试线包括依次交替设置
5、基于以上技术方案，本申请提供的阻抗测试条，包括单端阻抗测试线和差分阻抗测试线。其中，单端阻抗测试线中的第一阻抗测试线和差分阻抗测试线中的第二阻抗测试线、第三阻抗测试线均呈w形分布，可使各阻抗测试线的各部分与电路板介质层中的玻纤走向不平行，从而，可改善玻纤效应带来的影响，提高测试准确性。
6、在一些可能的实施方式中，所述阻抗测试条包括所述单端阻抗测试线和所述差分阻抗测试线，所述单端阻抗测试线和所述差分阻抗测试线设置于所述基板的同一侧。
7、在一些可能的实施方式中，所述阻抗测试条还包括铜条，所述铜条设置于所述基板上，所述铜条位于所述单端阻抗测试线和所述差分阻抗测试线之间。
8、在一些可能的实施方式中，所述第一阻抗测试线与所述铜条之间的最小距离h1为，h1≥254μm。
9、在一些可能的实施方式中，所述第二阻抗测试线位于所述第三阻抗测试线靠近所述铜条的一侧；
10、所述第二阻抗测试线与所述铜条之间的最小距离h2为，h2≥254μm。
11、在一些可能的实施方式中，当所述阻抗测试条包括所述单端阻抗测试线时，所述第一结构段与相邻的所述第二结构段之间配置有夹角α，135°≤α≤175°。
12、在一些可能的实施方式中，所述阻抗测试条配置有径向；
13、当所述阻抗测试条包括所述单端阻抗测试线时，所述第二结构段与所述径向之间配置有夹角β，8°≤β≤15°。
14、在一些可能的实施方式中，当所述阻抗测试条包括所述差分阻抗测试线时，所述第三结构段与相邻的所述第四结构段之间配置有夹角γ，135°≤γ≤175°。
15、在一些可能的实施方式中，所述阻抗测试条配置有径向；
16、当所述阻抗测试条包括所述差分阻抗测试线时，所述第四结构段与所述径向之间配置有夹角θ，8°≤θ≤15°。
17、另外，本申请还提供了一种电路板，包括如上各实施方式中提供的所述阻抗测试条。
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1.一种阻抗测试条，其特征在于，包括：基板，以及设置于所述基板上的单端阻抗测试线和/或差分阻抗测试线；
2.根据权利要求1所述的阻抗测试条，其特征在于，所述阻抗测试条包括所述单端阻抗测试线和所述差分阻抗测试线，所述单端阻抗测试线和所述差分阻抗测试线设置于所述基板的同一侧。
3.根据权利要求2所述的阻抗测试条，其特征在于，所述阻抗测试条还包括铜条，所述铜条设置于所述基板上，所述铜条位于所述单端阻抗测试线和所述差分阻抗测试线之间。
4.根据权利要求3所述的阻抗测试条，其特征在于，所述第一阻抗测试线与所述铜条之间的最小距离h1为，h1≥254μm。
5.根据权利要求3或4所述的阻抗测试条，其特征在于，所述第二阻抗测试线位于所述第三阻抗测试线靠近所述铜条的一侧；
6.根据权利要求1所述的阻抗测试条，其特征在于，当所述阻抗测试条包括所述单端阻抗测试线时，所述第一结构段与相邻的所述第二结构段之间配置有夹角α，135°≤α≤175°。
7.根据权利要求1或6所述的阻抗测试条，其特征在于，所述阻抗测试条配置有径向；
<...【技术特征摘要】
1.一种阻抗测试条，其特征在于，包括：基板，以及设置于所述基板上的单端阻抗测试线和/或差分阻抗测试线；
2.根据权利要求1所述的阻抗测试条，其特征在于，所述阻抗测试条包括所述单端阻抗测试线和所述差分阻抗测试线，所述单端阻抗测试线和所述差分阻抗测试线设置于所述基板的同一侧。
3.根据权利要求2所述的阻抗测试条，其特征在于，所述阻抗测试条还包括铜条，所述铜条设置于所述基板上，所述铜条位于所述单端阻抗测试线和所述差分阻抗测试线之间。
4.根据权利要求3所述的阻抗测试条，其特征在于，所述第一阻抗测试线与所述铜条之间的最小距离h1为，h1≥254μm。
5.根据权利要求3或4所述的阻抗测试条，其特征在于，所述第二阻抗测试线位于所...
【专利技术属性】
技术研发人员：许敏，李晓维，陈丽琴，周佐豪，
申请(专利权)人：九江明阳电路科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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