System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种使用经纬仪测量标校塔光电标尺寸的方法技术_技高网

一种使用经纬仪测量标校塔光电标尺寸的方法技术

技术编号:43321663 阅读:10 留言:0更新日期:2024-11-15 20:21
本发明专利技术涉及一种使用经纬仪测量标校塔光电标相对尺寸的方法,所述方法包括以下:1、加装经纬仪合作目标,得到经纬仪测量基准;2、按照标准化流程,完成经纬仪对基准和目标的测量,得到空间几何参数;3、通过比较法,按照空间物理尺寸关系,计算目标的相对位置关系。该方法解决了在人工机械测量结果无法保证的情况,利用高精度测量设备经纬仪,在短基线情况下,通过基准和目标的分别测量,按照目标与基准的空间物理关系,得到目标的相对尺寸关系,具有重要的现实意义。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种使用经纬仪测量标校塔光电标相对尺寸的方法。属于测控通信。


技术介绍

1、对于雷达而言,其发射/接收波束的最大方向代表了电轴指向,可见电轴是一个虚拟轴,而电轴指向直接影响跟踪精度,所以对于测控雷达而言必须保证电轴的稳定性,测试方法就是利用微光电视和电轴的合作目标进行定标,这里微光电视指向就代表了电轴。一般在符合远场条件的标校塔上,按照雷达光电轴的几何尺寸配置有光电合作目标,即为综合光电标靶架。该光电标靶架为机械结构,在安装、调整等过程中难免出现偏差,这是就需要一种方法对标校塔光电标相对尺寸进行测量,从而保证雷达电轴测量的准确度。目前,测量基本依靠人工米尺测量方法,其测量误差较大。

2、本专利技术设计了一种使用经纬仪测量标校塔光电标相对尺寸的方法,通过设立经纬仪基准,得到角度和距离信息,再测量光标,也得到角度和距离信息,通过解数学模型即可得到光电标的相对尺寸关系,为解决这一问题提供一种实用、简便的方法。


技术实现思路

1、本专利技术所要解决的技术问题是针对上述现有技术提供一种利用现有高精度测量设备经纬仪具备的目标跟踪和激光测距功能,进行光电标相对尺寸定标方法,通过经纬仪对基准和光标的两次测量数据进行数学处理,即可得到光电标相对尺寸。

2、本专利技术解决上述问题所采用的技术方案为:一种使用经纬仪测量标校塔光电标相对尺寸的方法,所述方法包括如下步骤:

3、1、安装经纬仪基准板

4、经纬仪是一种精密光学测量设备,与光轴平行安装有激光器,可以实现目标角度和距离的测量。经纬仪主镜光轴和激光器光轴为平行光轴,在短基线情况下该误差值影响较小,可以忽略。

5、在综合光电标靶架上加装一个按照经纬仪两个光轴几何尺寸定标的合作目标靶架,将该结构件作为经纬仪测量基准。同时,测量得到经纬仪光学目标相对于电标的尺寸,分别为la、le,用于后期计算。

6、2、确定标校方法

7、1)转动综合光电标靶架,使综合光电标靶架整体与经纬仪光轴垂直,并点亮经纬仪光轴合作目标。

8、2)经纬仪对准基准光轴合作目标,使用激光进行测距,得到方位角a1、俯仰角e1和距离值l1。

9、3)熄灭经纬仪光轴合作目标,点亮待测量雷达光学目标。经纬仪对准雷达光学合作目标,使用激光进行测距,得到方位角a2、俯仰角e2和距离值l2。

10、3、通过空间物理关系,数学处理得到相对尺寸关系:

11、laz=l2*cos(e2)*cos(360-a2)±l1*cos(e1)*cos(360-a1)±la;

12、lel=l2*sin(e2)±l1*sin(e1)±le。

13、优选地,使用经纬仪测量时,建设一个经纬仪合作目标,作为测量基准。采用比较方法进行尺寸定标。

14、优选地,采用经纬仪分别测量基准和目标,得到空间物理尺寸关系参数,确保了采集数据的真实可用。

15、优选地,通过空间物理尺寸关系参数,通过比较法,按照计算公式进行计算,得到目标的相对位置关系。

16、与现有技术相比,本专利技术具有以下有益效果:

17、(1)本专利技术设计的方法解决了人工测量带来的结果不确定性。

18、(2)本专利技术设计的方法避免了增设测量工装带来的维护等实际问题。

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【技术保护点】

1.一种使用经纬仪测量标校塔光电标相对尺寸的方法,其特征在于:所述方法使用经纬仪测量时,建设一个经纬仪合作目标,作为测量基准,采用比较方法进行尺寸定标,采用经纬仪分别测量基准和目标,得到空间物理尺寸关系参数,通过空间物理尺寸关系参数,通过比较法,按照计算公式进行计算,得到目标的相对位置关系。

2.根据权利要求1所述的一种使用经纬仪测量标校塔光电标相对尺寸的方法,其特征在于:所述经纬仪与光轴平行安装有激光器,实现目标角度和距离的测量,经纬仪主镜光轴和激光器光轴为平行光轴。

3.根据权利要求1所述的一种使用经纬仪测量标校塔光电标相对尺寸的方法,其特征在于:在综合光电标靶架上加装一个按照经纬仪两个光轴几何尺寸定标的合作目标靶架,将该结构件作为经纬仪测量基准,同时,测量得到经纬仪光学目标相对于电标的尺寸,分别为La、Le,用于后期计算。

4.根据权利要求1所述的一种使用经纬仪测量标校塔光电标相对尺寸的方法,其特征在于:采用以下方式确定标校:

5.根据权利要求3和4所述的一种使用经纬仪测量标校塔光电标相对尺寸的方法,其特征在于:通过空间物理关系,根据以下公式得到光电标相对尺寸的关系:

...

【技术特征摘要】

1.一种使用经纬仪测量标校塔光电标相对尺寸的方法,其特征在于:所述方法使用经纬仪测量时,建设一个经纬仪合作目标,作为测量基准,采用比较方法进行尺寸定标,采用经纬仪分别测量基准和目标,得到空间物理尺寸关系参数,通过空间物理尺寸关系参数,通过比较法,按照计算公式进行计算,得到目标的相对位置关系。

2.根据权利要求1所述的一种使用经纬仪测量标校塔光电标相对尺寸的方法,其特征在于:所述经纬仪与光轴平行安装有激光器,实现目标角度和距离的测量,经纬仪主镜光轴和激光器光轴为平行光轴。

3.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘四方万慧吴有杏丛波龚臣董洪松
申请(专利权)人:中国卫星海上测控部
类型:发明
国别省市:

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