【技术实现步骤摘要】
本技术涉及测试探针，特别是一种高电流测试探针。
技术介绍
1、高电流测试探针是测试pcba工具，用于测试pcba的一种测试针，表面镀金，内部有平均寿命3万～10万次的高性能弹簧，高电流探针的探针直径在2.54mm-4.75mm之间．最大的测试电流可达39amps；
2、现有技术的高电流测试探针，针头通常暴露在外，尤其是在收纳及运输时暴露的针头易磨损，影响高电流测试探针的使用寿命，在不同的测试点使用时，需频繁更换整根高电流测试探针，影响高电流的测试使用效率。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：
2、一种高电流测试探针，包括第一针管，所述第一针管右壁固设有套管，所述套管右端滑动连接有第二针管，所述第二针管左壁开设有插槽，所述套管通过插槽与套管滑动连接，所述第一针管和第二针管外壁均套设有密封盖，所述第二针管内壁固设有定位环，所述定位环内部固设有第一弹簧，所述第一弹簧左右两端均固设有滑块，位于左端的所述滑块上固设有针杆，位于右端的所述滑块上固设有针头。
3、优选地，所述第一针管和第二针管外壁均套接有卡环，所述密封盖内壁开设有卡槽，所述卡环与卡槽卡接配合，密封盖通过卡槽与卡环卡接，对第一针管和第二针管进行密封，对针杆和针头进进行防护。
4、优选地，所述针杆外壁与第一针管左端滑动连接，所述针头外壁与第二针管右端滑动连接，所述针杆右端与针头左端摩擦接触，方便了针杆与针头的滑动及收纳，提高了使用便捷性，防护效果更佳。>
5、优选地，所述第二针管外壁呈上下对称结构固设有两个卡块，所述第一针管外壁呈上下对称结构固设有两个t型柱，所述卡块左端开设有滑槽，所述卡块通过滑槽与t型柱插接配合。
6、优选地，所述卡块上呈前后对称结构开设有两个凹槽，所述凹槽内部外端固设有第二弹簧，所述第二弹簧内端固设有球头杆，所述球头杆与凹槽滑动连接，所述球头杆外壁与t型柱摩擦接触，卡块方便了第一针管与第二针管的安装及拆卸。
7、优选地，所述针杆左端外壁开设有安装螺纹，所述针头右壁开设有螺纹槽，所述针头右端设有探针机构。
8、优选地，所述探针机构左端固设有螺柱，所述螺柱与螺纹槽螺纹连接，所述探针机构为多圆锥面状、圆锥状和球头状，不同形状的探针机构适应了不同的测试点。
9、本技术的有益效果：
10、1、通过分别拉动密封盖向外端移动，使密封盖的卡槽与卡环分离，受第一弹簧的推力将针杆沿着第一针管向外侧推动，针头沿着第二针管向外端推动，然后推动第一针管带动套管沿着插槽向中部滑动，使第一针管右壁与第二针管左壁摩擦接触后，通过针杆安装至测试设备上，通过针头进行高电流测试使用，收纳及安装方便快捷。实现了对高电流测试探针的针头进行有效防护，减少了收纳及运输时的磨损，延长了使用寿命，提高了高电流测试探针的更换效率，方便了不同测试点的测试使用。
11、2、通过第一针管右壁与第二针管左壁摩擦接触后，此时卡块通过滑槽与t型柱外壁摩擦接触，t型柱挤压球头杆先沿着凹槽向外端滑动，第二弹簧被挤压，卡块的持续移动使第二弹簧的回复力推动球头杆向内端移动，球头杆对t型柱进行挤压固定，对第一针管和第二针管进行连接固定，方便了高电流探针的测试使用。
12、3、通过螺柱对探针机构进行安装和拆卸，根据不同的测试点选择合适的探针形状，提高了测试的精准性，拆卸及安装更便捷，提高了测试使用效率，不同形状的探针机构方便了高电流测试使用。
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1.一种高电流测试探针，包括第一针管（1），其特征在于：所述第一针管（1）右壁固设有套管（2），所述套管（2）右端滑动连接有第二针管（3），所述第二针管（3）左壁开设有插槽（4），所述套管（2）通过插槽（4）与套管（2）滑动连接，所述第一针管（1）和第二针管（3）外壁均套设有密封盖（5），所述第二针管（3）内壁固设有定位环（6），所述定位环（6）内部固设有第一弹簧（7），所述第一弹簧（7）左右两端均固设有滑块（8），位于左端的所述滑块（8）上固设有针杆（9），位于右端的所述滑块（8）上固设有针头（10）。
2.根据权利要求1所述的高电流测试探针，其特征在于：所述第一针管（1）和第二针管（3）外壁均套接有卡环（501），所述密封盖（5）内壁开设有卡槽（502），所述卡环（501）与卡槽（502）卡接配合。
3.根据权利要求1所述的高电流测试探针，其特征在于：所述针杆（9）外壁与第一针管（1）左端滑动连接，所述针头（10）外壁与第二针管（3）右端滑动连接，所述针杆（9）右端与针头（10）左端摩擦接触。
4.根据权利要求1所述的高电流测试探针，其特征
5.根据权利要求4所述的高电流测试探针，其特征在于：所述卡块（11）上呈前后对称结构开设有两个凹槽（1102），所述凹槽（1102）内部外端固设有第二弹簧（1103），所述第二弹簧（1103）内端固设有球头杆（1104），所述球头杆（1104）与凹槽（1102）滑动连接，所述球头杆（1104）外壁与T型柱（12）摩擦接触。
6.根据权利要求1所述的高电流测试探针，其特征在于：所述针杆（9）左端外壁开设有安装螺纹，所述针头（10）右壁开设有螺纹槽（1001），所述针头（10）右端设有探针机构（13）。
7.根据权利要求6所述的高电流测试探针，其特征在于：所述探针机构（13）左端固设有螺柱（1301），所述螺柱（1301）与螺纹槽（1001）螺纹连接，所述探针机构（13）为多圆锥面状、圆锥状和球头状。
...【技术特征摘要】
1.一种高电流测试探针，包括第一针管（1），其特征在于：所述第一针管（1）右壁固设有套管（2），所述套管（2）右端滑动连接有第二针管（3），所述第二针管（3）左壁开设有插槽（4），所述套管（2）通过插槽（4）与套管（2）滑动连接，所述第一针管（1）和第二针管（3）外壁均套设有密封盖（5），所述第二针管（3）内壁固设有定位环（6），所述定位环（6）内部固设有第一弹簧（7），所述第一弹簧（7）左右两端均固设有滑块（8），位于左端的所述滑块（8）上固设有针杆（9），位于右端的所述滑块（8）上固设有针头（10）。
2.根据权利要求1所述的高电流测试探针，其特征在于：所述第一针管（1）和第二针管（3）外壁均套接有卡环（501），所述密封盖（5）内壁开设有卡槽（502），所述卡环（501）与卡槽（502）卡接配合。
3.根据权利要求1所述的高电流测试探针，其特征在于：所述针杆（9）外壁与第一针管（1）左端滑动连接，所述针头（10）外壁与第二针管（3）右端滑动连接，所述针杆（9）右端与针头（10）左端摩擦接触。
4.根据权利要求1所述的高电流测试探针...
【专利技术属性】
技术研发人员：张思，
申请(专利权)人：深圳市华测腾盛科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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