【技术实现步骤摘要】
本申请属于缺陷检测，更具体地，涉及一种micro led显示器缺陷检测方法及装置。
技术介绍
1、发光二极管(light emitting diode,led)是一种常见的发光器件，通过电子与空穴复合释放能量发光。微发光二极管显示器(micro light emitting diode display,micro led)是通过在原始基板上集成高密度微小尺寸的led阵列来实现图像显示的显示器，阵列中每一个led都能够自发光，并且都可以被独立定位和点亮。阵列中单个led芯片达到了微米量级，一块micro led中的led芯片数量可能达到上百万甚至千万级，如何对microled中的大量led芯片中的不良芯片进行同时、快速、精准检测，是micro led产业化面临的重要问题之一。
2、目前的micro led缺陷检测主要通过高分辨率工业相机、亮度计和色度计等实现，对亮度或色度进行检测。但是亮度和色度准确检测的前提是光谱不发生变化，而micro led成像过程中的电流变化会导致光谱出现偏移，从而影响亮色度检测的结果。因此，在亮色度测量过程中需要获取光谱数据，并且需要面阵光谱数据才能完整地反映出像素点的缺陷。高光谱成像仪(hyper spectral imaging,hsi)可以通过外接扫描平台或者内置平台实现对micro led的光谱测量，但是测量过程中会对micro led每个像素点的高光谱信息进行测量，数据处理量巨大，对仪器的带宽传输和数据处理能力要求极高，严重影响检测的效率。
技术实现思路<
1、针对相关技术存在的缺陷，本申请实施例提供一种micro led显示器缺陷检测方法及装置，旨在解决基于高光谱成像仪进行缺陷检测的过程中数据处理量巨大的问题。
2、第一方面，本申请实施例提供一种micro led显示器缺陷检测方法，应用于高光谱成像设备，包括：
3、获取待测micro led显示器目标区域内包含疑似缺陷的感兴趣区域的区域信息，感兴趣区域的区域信息基于初检设备对目标区域拍摄的第一图像确定，包括感兴趣区域在目标区域内的位置信息和感兴趣区域的大小，初检设备为对待测micro led显示器的亮度和/或色度进行检测的设备；
4、基于感兴趣区域的区域信息，确定感兴趣区域的高光谱数据；
5、将感兴趣区域的高光谱数据发送至上位机进行目标区域的缺陷检测。
6、在一些实施例中，获取待测micro led显示器目标区域内包含疑似缺陷的感兴趣区域的区域信息，包括：
7、接收初检设备发送的感兴趣区域的区域信息，区域信息由初检设备基于第一图像确定；或者，
8、接收上位机发送的感兴趣区域的区域信息，区域信息由初检设备或上位机基于第一图像确定。
9、在一些实施例中，确定感兴趣区域的高光谱数据，包括：
10、对目标区域进行拍摄得到第二图像，生成第二图像的高光谱数据，基于感兴趣区域的区域信息从第二图像的高光谱数据中筛选出感兴趣区域的高光谱数据；或者，
11、对目标区域进行拍摄得到第二图像，基于感兴趣区域的区域信息对第二图像进行裁剪得到第三图像，基于第三图像生成感兴趣区域的高光谱数据；或者，
12、基于感兴趣区域的区域信息，对感兴趣区域进行拍摄得到第四图像，基于第四图像生成感兴趣区域的高光谱数据。
13、第二方面，本申请实施例还提供一种micro led显示器缺陷检测方法，应用于上位机，包括：
14、接收高光谱成像设备发送的待测micro led显示器目标区域内包含疑似缺陷的感兴趣区域的高光谱数据，感兴趣区域的区域信息基于初检设备对目标区域拍摄的第一图像确定，包括感兴趣区域在目标区域内的位置信息和感兴趣区域的大小，初检设备为对待测micro led显示器的亮度和/或色度进行检测的设备；
15、基于感兴趣区域的高光谱数据进行目标区域的缺陷检测。
16、在一些实施例中，该方法还包括：
17、获取感兴趣区域的区域信息；
18、将感兴趣区域的区域信息发送给高光谱成像设备。
19、在一些实施例中，获取感兴趣区域的区域信息，包括：
20、接收初检设备发送的第一图像，基于第一图像确定感兴趣区域的区域信息；或者，
21、接收初检设备发送的感兴趣区域的区域信息，区域信息由初检设备基于第一图像确定。
22、第三方面，本申请实施例还提供一种显示器缺陷检测系统，包括：
23、初检设备，用于对待测micro led显示器的目标区域进行拍摄得到第一图像，第一图像用于确定目标区域内包含缺陷的感兴趣区域的区域信息，包括感兴趣区域在目标区域内的位置信息和感兴趣区域的大小；
24、高光谱成像设备，用于执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的方法；
25、上位机，用于执行第二方面或第二方面的任一种可能的实现方式所描述的方法。
26、在一些实施例中，初检设备为工业相机、色度计和亮度计中的一种或多种。
27、第四方面，本申请实施例还提供一种显示器缺陷检测装置，包括：
28、获取模块，用于获取待测micro led显示器目标区域内包含疑似缺陷的感兴趣区域的区域信息，感兴趣区域的区域信息基于初检设备对目标区域拍摄的第一图像确定，包括感兴趣区域在目标区域内的位置信息和感兴趣区域的大小，初检设备为对待测microled显示器的亮度和/或色度进行检测的设备；
29、确定模块，用于基于感兴趣区域的区域信息，确定感兴趣区域的高光谱数据；
30、发送模块，用于将感兴趣区域的高光谱数据发送至上位机进行目标区域的缺陷检测。
31、在一些实施例中，获取模块具体包括：
32、第一接收单元，用于接收初检设备发送的感兴趣区域的区域信息，区域信息由初检设备基于第一图像确定；或者，
33、第二接收单元，用于接收上位机发送的感兴趣区域的区域信息，区域信息由初检设备或上位机基于第一图像确定。
34、在一些实施例中，确定模块具体包括：
35、第一生成单元，用于对目标区域进行拍摄得到第二图像，生成第二图像的高光谱数据，基于感兴趣区域的区域信息从第二图像的高光谱数据中筛选出感兴趣区域的高光谱数据；或者，
36、第二生成单元，用于对目标区域进行拍摄得到第二图像，基于感兴趣区域的区域信息对第二图像进行裁剪得到第三图像，基于第三图像生成感兴趣区域的高光谱数据；或者，
37、第三生成单元，用于基于感兴趣区域的区域信息，对感兴趣区域进行拍摄得到第四图像，基于第四图像生成感兴趣区域的高光谱数据。
38、第五方面，本申请实施例还提供一种显示器缺陷检测装置，包括：
39、接收模块，用于接收高光谱成像设备发送的待测micro led显示器目标区域内包含疑似缺陷的感兴趣区域的高本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种Micro LED显示器缺陷检测方法，其特征在于，应用于高光谱成像设备，包括：
2.根据权利要求1所述的Micro LED显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述获取待测Micro LED显示器目标区域内包含疑似缺陷的感兴趣区域的区域信息，包括：
3.根据权利要求1所述的Micro LED显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述感兴趣区域的高光谱数据，包括：
4.一种Micro LED显示器缺陷检测方法，其特征在于，应用于上位机，包括：
5.根据权利要求4所述的Micro LED显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求5所述的Micro LED显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述获取所述感兴趣区域的区域信息，包括：
7.一种Micro LED显示器缺陷检测系统，其特征在于，包括：
8.根据权利要求7所述的Micro LED显示器缺陷检测系统，其特征在于，所述初检设备为工业相机、色度计和亮度计中的一种或多种。
9.一种Micro LED显示器缺陷检测装置
10.一种Micro LED显示器缺陷检测装置，其特征在于，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种micro led显示器缺陷检测方法，其特征在于，应用于高光谱成像设备，包括：
2.根据权利要求1所述的micro led显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述获取待测micro led显示器目标区域内包含疑似缺陷的感兴趣区域的区域信息，包括：
3.根据权利要求1所述的micro led显示器缺陷检测方法，其特征在于，所述确定所述感兴趣区域的高光谱数据，包括：
4.一种micro led显示器缺陷检测方法，其特征在于，应用于上位机，包括：
5.根据权利要求4所述的micro led显示器缺...
【专利技术属性】
技术研发人员：张宇，梅林海，马卫飞，郑增强，陈凯，
申请(专利权)人：武汉精立电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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