【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种齿轮测量装置，具体涉及一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置，本专利技术属于齿轮检测。
技术介绍
1、随着齿轮产业的发展，20世纪齿轮测量从理论到技术再到实践已经形成自己的体系。齿轮测量在传统上分为：以齿廓、齿向和齿距测量为基础的分析式测量，以综合测量双啮、单啮测量)为基础的功能式测量以及将单项和综合集成于一体的齿轮整体误差测量。
2、从整体上考察，齿轮测量技术在20世纪的发展主要表现在三个方面：第一，在测量原理方面，实现了由“比较测量”到“啮合运动测量”、直至“模型化测量”的发展；第二，在实现测量原理的技术手段上，历经了“以机械为主”到“机电结合”、直至“光--机--电”与“信息技术”综合集成的演变；第三，在测量结果的表述与利用方面，历经了“指示表+肉眼读取”到“记录器+人工研判”直至“计算机自动分析+闭环制造”的飞跃。
3、传统的齿轮精度理论用来控制齿轮质量是不严格的、用来认识齿轮的误差特性是不完整的、用来分析误差来源是不准确的。齿轮测量的两大根本任务是解决齿轮加工工艺分析问题和齿轮使用性能预报问题，其实质是基于齿轮测量的齿轮评价与测量结果运用两个问题。
4、针对重卡副轴来看，其工件大于其他工件，现有的检测手段一般采用三坐标测量仪进行检测，其检测的速度较慢，检测一件产品大概需要40分钟左右，且操作复杂，影响测量效率。
技术实现思路
1、本专利技术为解决现有的检测设备不能满足重卡副轴对齿精度的快速检测的问题，进而提出一种重卡副轴总
2、本专利技术为解决上述问题采取的技术方案是：
3、本专利技术包括基座、工作台、工件立柱、测量立柱、下装夹组件、上装夹组件、竖直移动机构、水平移动机构和探测组件，基座上设置有工作台，下装夹组件、工件立柱以及水平移动机均安装在工作台的上表面，上装夹组件与工件立柱滑动连接，且上装夹组件沿工件立柱的高度方向上、下往复运动；测量立柱的下端与水平移动机构连接，竖直移动机构与测量立柱滑动连接，探测组件安装在竖直移动机构上，探测组件通过竖直移动机构沿测量立柱的高度方向上、下往复运动。
4、进一步的，所述下装夹组件包括驱动主轴和下顶尖，驱动主轴安装在工作台上表面的一侧，下顶尖的下端与驱动主轴的上端固定连接。
5、进一步的，所述上装夹组件包括上顶尖、第一电机、第一导轨、第一丝杠和第一滑块，两个第一导轨平行竖直设置在工件立柱的内侧，第一丝杠安装在两个导轨之间，第一丝杠的两端通过固定件固定在工件立柱上，第一电机安装在工件立柱的上部，其输出轴与第一丝杠的上端固定连接，第一丝杠上套装有螺母，第一滑块与螺母固定安装，且第一滑块与两个导轨滑动连接，上顶尖的上端与第一滑块连接。
6、进一步的，所述水平移动组件包括第二电机、第二导轨、第二丝杠和第二滑块，两个第二导轨平行设置在工作台的上表面，且位于驱动主轴的右侧，第二丝杠安装在两个水平导轨之间，第二电机安装在工作台的右侧，第二电机的输出轴与第二丝杠的一端固定连接，第二丝杠上套装有螺母，第二滑块与螺母固定安装，且第二滑块与两个第二导轨滑动连接，测量立柱的下端安装在水平滑块的上表面。
7、进一步的，所述竖直移动组件包括第三电机、第三导轨、第三丝杠和第三滑块，两个第三导轨平行且竖直设置在测量立柱的内侧，第三丝杠安装在两个第三导轨之间，第三导轨的两端通过固定件固定在测量立柱上，第三电机安装在测量立柱的上部，其输出轴与第三丝杠的上端固定连接，第三丝杠上套装有螺母，第三滑块与螺母固定安装，且第三滑块与两个第三导轨滑动连接，探测组件安装在第三滑块上。
8、进一步的，所述探测组件包括销孔识别传感器和三维测头，销孔识别传感器和三维测头均安装在第三滑块上。
9、进一步的，所述一种重卡副轴总成对齿精度测量装置还包括显示器，显示器通过支架安装在基座上表面。
10、本专利技术的有益效果是：
11、1、本专利技术通过上、下装夹组件相互配合，可实现对待测件的定位夹装；
12、2、本专利技术通过水平移动组件和竖直移动组件，可实现销孔识别传感器和三维测头在竖直方向及水平方向的运动，通过传感器寻找待测位置并预定位，通过电机驱动主轴带动下顶尖旋转，通过三维测头实现对齿精度的精准测量；
13、3、通过本专利技术进行齿轮检测，检测速度大大提升，100秒左右即完成一次测量，可实现重卡副轴的快速检测，提高了检测效率；
14、4、本专利技术测量精度高，可满足副轴总成装配对齿精度要求：≤0.10-0.05～+0.05))，操作方便快捷。
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1.一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置，其特征在于，所述一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置包括基座(1)、工作台(2)、工件立柱(3)、测量立柱(4)、下装夹组件、上装夹组件、竖直移动机构、水平移动机构和探测组件，基座(1)上设置有工作台(2)，下装夹组件、工件立柱(3)以及水平移动机均安装在工作台(2)的上表面，上装夹组件与工件立柱(3)滑动连接，且上装夹组件沿工件立柱(3)的高度方向上、下往复运动；测量立柱(4)的下端与水平移动机构连接，竖直移动机构与测量立柱(4)滑动连接，探测组件安装在竖直移动机构上，探测组件通过竖直移动机构沿测量立柱(4)的高度方向上、下往复运动。
2.根据权利要求1所述的一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置，其特征在于，所述下装夹组件包括驱动主轴(5)和下顶尖(6)，驱动主轴(5)安装在工作台(2)上表面的一侧，下顶尖(6)的下端与驱动主轴(5)的上端固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置，其特征在于，所述上装夹组件包括上顶尖(7)、第一电机、第一导轨(8)、第一丝杠(9)和第一滑块(10)，两个第
4.根据权利要求1所述的一种重卡副轴总成对齿精度测量装置，其特征在于，所述水平移动组件包括第二电机、第二导轨(11)、第二丝杠(12)和第二滑块(13)，两个第二导轨(11)平行设置在工作台(2)的上表面，且位于驱动主轴(5)的右侧，第二丝杠(12)安装在两个第二导轨(11)之间，第二电机安装在工作台(2)的右侧，第二电机的输出轴与第二丝杠(12)的一端固定连接，第二丝杠(12)上套装有螺母，第二滑块(13)与螺母固定安装，且第二滑块(13)与两个第二导轨(11)滑动连接，测量立柱(4)的下端安装在第二滑块(13)的上表面。
5.根据权利要求1所述的一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置，其特征在于，所述竖直移动组件包括第三电机、第三导轨(14)、第三丝杠(15)和第三滑块(16)，两个第三导轨(14)平行且竖直设置在测量立柱(4)的内侧，第三丝杠(15)安装在两个第三导轨(14)之间，第三导轨(14)的两端通过固定件固定在测量立柱(4)上，第三电机(16)安装在测量立柱(4)的上部，其输出轴与第三丝杠(15)的上端固定连接，第三丝杠(15)上套装有螺母，第三滑块(16)与螺母固定安装，且第三滑块(16)与两个第三导轨(14)滑动连接，探测组件安装在第三滑块(16)上。
6.根据权利要求1所述的一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置，其特征在于，所述探测组件包括销孔识别传感器(17)和三维测头(18)，三维测头(18)安装在竖直移动组件上，销孔识别传感器(17)位于三维测头(18)的上部。
7.根据权利要求1所述的一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置，其特征在于：所述一种重卡副轴总成对齿精度测量装置还包括显示器(19)，显示器(19)通过支架安装在基座上表面。
...【技术特征摘要】
1.一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置，其特征在于，所述一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置包括基座(1)、工作台(2)、工件立柱(3)、测量立柱(4)、下装夹组件、上装夹组件、竖直移动机构、水平移动机构和探测组件，基座(1)上设置有工作台(2)，下装夹组件、工件立柱(3)以及水平移动机均安装在工作台(2)的上表面，上装夹组件与工件立柱(3)滑动连接，且上装夹组件沿工件立柱(3)的高度方向上、下往复运动；测量立柱(4)的下端与水平移动机构连接，竖直移动机构与测量立柱(4)滑动连接，探测组件安装在竖直移动机构上，探测组件通过竖直移动机构沿测量立柱(4)的高度方向上、下往复运动。
2.根据权利要求1所述的一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置，其特征在于，所述下装夹组件包括驱动主轴(5)和下顶尖(6)，驱动主轴(5)安装在工作台(2)上表面的一侧，下顶尖(6)的下端与驱动主轴(5)的上端固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种重卡副轴总成对齿精度的测量装置，其特征在于，所述上装夹组件包括上顶尖(7)、第一电机、第一导轨(8)、第一丝杠(9)和第一滑块(10)，两个第一导轨(8)平行竖直设置在工件立柱(4)的内侧，第一丝杠(9)安装在两个导轨(10)之间，第一丝杠(9)的两端通过固定件固定在工件立柱(4)上，第一电机安装在工件立柱(4)内，其输出轴与第一丝杠(9)的端部固定连接，第一丝杠(9)上套装有螺母，第一滑块(10)与螺母固定安装，且第一滑块(10)与两个导轨(10)滑动连接，上顶尖(7)的上端与第一滑块(10)连接。
4.根据权利要求1所述的一种重卡副轴总成对齿精度测量装置，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：韩卓，包永久，杨景辉，
申请(专利权)人：哈尔滨创博科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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