System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种微组装模块视觉检验装置和方法制造方法及图纸_技高网

一种微组装模块视觉检验装置和方法制造方法及图纸

技术编号:43290905 阅读:1 留言:0更新日期:2024-11-12 16:10
本发明专利技术公开了一种微组装模块视觉检验装置和方法,所述装置包括底座、滑槽、第一限位槽、多个第二限位槽、螺钉、螺母、长多色发光灯、第一固定块、可旋转连接块、第二固定块、可伸缩灯架、可旋转灯架、固定灯架、旋钮和短多色发光灯;第一限位槽用于对模块进行二维平面检验,第二限位槽内设置有倾斜斜坡,用于对模块进行三维检验;长多色发光灯通过旋钮与短多色发光灯连接,可伸缩灯架、可旋转灯架和固定灯架用于支撑和移动长多色发光灯;螺钉与螺母配合,螺钉与螺母拧紧的情况下能够将固定灯架固定在底座上,螺钉从螺母松开的情况下,固定灯架能够沿着滑槽滑动。本发明专利技术能够解决漏检、错检问题,实现微组装模块的批量检验,有效提高生产效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于微组装视觉检验,特别是涉及一种微组装模块视觉检验装置和方法


技术介绍

1、随着电子封装技术的不断发展,微波组件正在不断向小型化、高密度、高可靠、高性能和大批量方向发展,对产品的可控化、高一致性、高可靠性和生产的高效率都提出了更高的要求,顺应发展,当下绝大部分微组装产品已实现自动化生产,但在自动光学检测方面,许多微小型高密度产品无法实现批量检验。

2、当下许多sip(system in a package,系统级封装)产品内结构复杂、高度差多、集成度复杂,对微组装产品的自动化批量检验提出了更高的要求。特别是在实际生产中发现,因光线不足造成金丝错漏检、侧壁导电胶短路漏检等情况频频发生,影响产品质量和生产效率。

3、微小型高密度sip模块的大小尺寸一般在10mm-30mm不等(一般为正方形),高度为2-3mm不等。通常一个sip模块中需要集成几十个器件、芯片,键合几百根金丝,常规的人工检验方法效率低,也容易漏检。该产品通常使用自动光学检测(aoi,automated opticalinspection)设备进行检验,但是因光线不足往往造成金丝错漏检、侧壁导电胶短路漏检等情况频频发生,影响产品质量和生产效率。

4、另外,由于产品内部分芯片较厚,二维平面检测无法检测其侧壁是否短路,可能导致误判成合格品,误判会增加人员的工作量,降低产品的可靠性,后期需要人工再次检测,影响效率。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种微组装模块视觉检验装置和方法,能够解决漏检、错检问题,实现微组装模块的批量检验,有效提高生产效率。

2、为了实现上述目的,本专利技术的一个方面提供一种微组装模块视觉检验装置,包括底座、滑槽、第一限位槽、多个第二限位槽、螺钉、螺母、长多色发光灯、第一固定块、可旋转连接块、第二固定块、可伸缩灯架、可旋转灯架、固定灯架、旋钮和短多色发光灯;

3、所述滑槽设置在所述底座的边缘部分,所述螺母安装在所述滑槽内,能够沿着所述滑槽滑动;

4、第一限位槽和所述第二限位槽设置在所述底座的中间部分,用于放置待检验模块,所述第一限位槽用于对所述模块进行二维平面检验,所述第二限位槽内设置有倾斜斜坡,用于对所述模块进行三维检验;

5、所述长多色发光灯和所述短多色发光灯用于向所述模块发射光线,所述长多色发光灯的一端与第一固定块连接,另一端通过所述旋钮与所述短多色发光灯连接,所述旋钮能够使所述短多色发光灯进行365°旋转,所述长多色发光灯和所述短多色发光灯能够切换颜色;

6、所述第一固定块通过所述可旋转连接块与所述第二固定块连接,所述可旋转连接块能够使所述第一固定块进行365°旋转;

7、所述可伸缩灯架、所述可旋转灯架和所述固定灯架用于支撑和移动所述第二固定块,所述第二固定块与所述可伸缩灯架的一端连接,所述可伸缩灯架的另一端与所述可旋转灯架连接,所述可伸缩灯架能够在垂直方向上伸缩,所述可旋转灯架能够在水平方向上旋转,所述可旋转灯架与所述固定灯架连接,所述固定灯架通过所述螺钉与所述底座连接;

8、所述螺钉与所述螺母配合,所述螺钉与所述螺母拧紧的情况下能够将所述固定灯架固定在所述底座上,所述螺钉从所述螺母松开的情况下,所述固定灯架能够沿着所述滑槽滑动。

9、优选地,所述装置还包括设置在所述螺钉与所述螺母之间的平垫,所述固定灯架和所述底座通过所述螺钉和所述平垫连接。

10、优选地,所述装置还包括调节按钮,所述调节按钮设置在所述固定灯架上,用于切换所述长多色发光灯和所述短多色发光灯的颜色。

11、优选地,所述底座为方形,所述第二限位槽为3个,3个第二限位槽的倾斜斜坡的倾斜角度不同。

12、优选地,所述螺钉为平头螺钉,所述螺母为梯形螺母。

13、优选地,所述微组装模块为sip模块。

14、本专利技术的另一个方面提供一种微组装模块视觉检验方法,使用上述的装置对微组装模块进行视觉检验,包括:

15、步骤s1:根据需要检验的部分,将待检验模块放置在第一限位槽或第二限位槽上;

16、步骤s2:调节可伸缩灯架的伸缩高度、可旋转灯架的旋转角度以及所述长多色发光灯和所述短多色发光灯的高度及角度,使得需要检验的部分与不需检验的部分区别开;

17、步骤s3:将装有待检验模块模块的装置放置在自动光学检测设备的上料轨道上;

18、步骤s4:按照预定的程序对模块进行视觉光学检验操作。

19、根据本专利技术上述方面的微组装模块视觉检验装置和方法,能够解决漏检、错检问题,实现微组装模块的批量检验,有效提高生产效率。

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【技术保护点】

1.一种微组装模块视觉检验装置,其特征在于,包括底座(1)、滑槽(2)、第一限位槽(3)、多个第二限位槽(4)、螺钉(7)、螺母(9)、长多色发光灯(11)、第一固定块(12)、可旋转连接块(13)、第二固定块(14)、可伸缩灯架(15)、可旋转灯架(16)、固定灯架(18)、旋钮(19)和短多色发光灯(20);

2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括设置在所述螺钉(7)与所述螺母(9)之间的平垫(8),所述固定灯架(18)和所述底座(1)通过所述螺钉(7)和所述平垫(8)连接。

3.如权利要求1或2所述的装置,其特征在于,还包括调节按钮(17),所述调节按钮(17)设置在所述固定灯架(18)上,用于切换所述长多色发光灯(11)和所述短多色发光灯(20)的颜色。

4.如权利要求1-3中任一项所述的装置,其特征在于,所述底座(1)为方形,所述第二限位槽为3个,3个第二限位槽的倾斜斜坡的倾斜角度不同。

5.如权利要求1-4中任一项所述的装置,其特征在于,所述螺钉(7)为平头螺钉,所述螺母(9)为梯形螺母。

6.如权利要求1-5中任一项所述的装置,其特征在于,所述微组装模块为SIP模块。

7.一种微组装模块视觉检验方法,其特征在于,使用权利要求1-6中任一项所述的装置对微组装模块进行视觉检验,包括:

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【技术特征摘要】

1.一种微组装模块视觉检验装置,其特征在于,包括底座(1)、滑槽(2)、第一限位槽(3)、多个第二限位槽(4)、螺钉(7)、螺母(9)、长多色发光灯(11)、第一固定块(12)、可旋转连接块(13)、第二固定块(14)、可伸缩灯架(15)、可旋转灯架(16)、固定灯架(18)、旋钮(19)和短多色发光灯(20);

2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括设置在所述螺钉(7)与所述螺母(9)之间的平垫(8),所述固定灯架(18)和所述底座(1)通过所述螺钉(7)和所述平垫(8)连接。

3.如权利要求1或2所述的装置,其特征在于,还包括调节按钮(17),所述调节按...

【专利技术属性】
技术研发人员:张鑫玥周泽明袁野霍文培杨义松商宇王志蕊杨竹张乐婷
申请(专利权)人:北京无线电测量研究所
类型:发明
国别省市:

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